專利名稱：一種液晶面板的點燈測試方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種液晶模組領域，特別涉及一種液晶面板的點燈測試方法。
背景技術：
TFT (Thin Film Transistor )-薄膜場效應晶體管，是指液晶顯示器上的每
一液晶像素點都是由集成在其后的薄膜晶體管來驅(qū)動，從而可以做到高速度高亮度高對比度顯示屏幕信息，常見的TFT-IXD (薄膜晶體管液晶顯示器)是多數(shù)液晶顯示器的一種。液晶顯示面板主要是玻璃基板、偏光板、透明電極、配向膜、液晶薄膜和彩色濾光片(CF— Color Filter)等構成，其需要經(jīng)過多道程序，一層一層的于玻璃基板上堆棧制造而成的， 且在制造完成之后，其需要加以切割、研磨并加以封裝，才能完成液晶顯示面板的制造。請參考圖1，為TFT液晶面板的基本構架，在兩層玻璃(TFT玻璃11和CF玻璃12)之間存在間隙13，TFT玻璃11的內(nèi)側(cè)設置有TFT配線111，CF玻璃12的內(nèi)側(cè)設置有CF共通電極121， 并且在間隙13內(nèi)設置一層液晶131，此層液晶131位于TFT配線111和CF共通電極121之間，兩玻璃層的連接周圍用框膠14密封膠合。在現(xiàn)有技術中，由于兩玻璃層之間間隙可能存在微小金屬異物顆粒，此微小金屬異物顆粒的直徑較小，混在液晶層內(nèi)，因此，在對液晶面板進行點燈測試時，無法檢查出微小金屬異物顆粒，即在點燈測試時不能將此類不良面板進行攔截，此后便將此類面板當做良品流至后端進行作業(yè)，造成偏光板以及其他模組耗材的大量浪費，同時，也造成了生產(chǎn)時間的大量浪費。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種液晶面板的點燈測試方法，在點燈測試之前，先對液晶面板進行試壓動作，將面板中的微小金屬異物顆粒分別與CF共通電極和TFT配線接通， 使得CF共通電極和TFT配線之間發(fā)生短路，此種欠陷在點燈測試過程中易發(fā)現(xiàn)，以解決現(xiàn)有技術中因無法檢查出微小金屬異物顆粒而造成偏光板以及其他模組耗材和生產(chǎn)時間的大量浪費的技術問題。為了解決上述問題，本發(fā)明提供了一種液晶面板的點燈測試方法，包括以下步驟
Si:對液晶面板進行試壓操作，兩層玻璃之間的間隙變小，間隙內(nèi)存在的微小金屬異物顆粒分別與CF共通電極和TFT配線接通，CF共通電極和TFT配線之間發(fā)生短路；
S2 :對液晶面板進行點燈測試，將發(fā)生短路的液晶面板進行檢查和攔截。較佳地，步驟SI中的試壓操作通過至少一試壓滾輪使液晶面板及偏光板貼付在一起，貼付時試壓滾輪對液晶面板進行擠壓。較佳地，所述試壓滾輪設置在偏光板的下方，液晶面板位于偏光板的上方，所述液晶面板設置在一面板基板的下方，所述試壓滾輪滾動，對偏光板擠壓，所述液晶面板分別受到面板基板和偏光板的施壓。
較佳地，所述試壓滾輪 設置在偏光板的側(cè)下方。較佳地，所述試壓滾輪與面板基板之間的空間可通過外力進行調(diào)整。較佳地，所述液晶面板包括CF玻璃和TFT玻璃，CF玻璃和TFT玻璃之間存在間隙， TFT玻璃的內(nèi)側(cè)設置有TFT配線，CF玻璃的內(nèi)側(cè)設置有CF共通電極，在此間隙內(nèi)還設置一層液晶，此層液晶位于TFT配線和CF共通電極之間，微小金屬異物顆粒夾雜在液晶層中。與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明存在以下技術效果
本發(fā)明一種液晶面板的點燈測試方法，在點燈測試之前先對液晶面板進行試壓操作， 即對液晶面板進行擠壓，將兩玻璃層之間的間隙變小，此種方式可使得面板中的微小金屬異物顆粒分別與CF共通電極和TFT配線接通，使得CF共通電極和TFT配線之間發(fā)生短路， 此種欠陷在點燈測試時可見，可將此處的不良液晶面板進行攔截，以免流到下一站，而造成偏光板以及其他模組耗材的大量浪費。


圖I為液晶面板的基本構架示意圖2為本發(fā)明所涉及的存在微小金屬異物顆粒的液晶面板的結(jié)構示意圖3為本發(fā)明液晶面板與偏光板的貼付不意圖4為本發(fā)明液晶面板與試壓滾輪之間的結(jié)構示意圖5為本發(fā)明液晶面板與偏光板貼付時的受:力不意圖6為本發(fā)明所涉及的微小金屬異物顆粒受擠壓后的結(jié)構示意圖。
具體實施例方式本發(fā)明提供一種液晶面板的點燈測試方法，此點燈測試方法的目的是檢測出液晶面板間隙內(nèi)存在的微小金屬異物。但是，對于夾雜在液晶層中的微小金屬異物顆粒很難檢測出來，因此，本發(fā)明在點燈測試之前，對液晶面板進行試壓操作，即將液晶面板中的兩玻璃層之間的間隙變小，使得間隙內(nèi)存在的微小金屬異物顆粒分別與CF共通電極和TFT配線接通，使得CF共通電極和TFT配線之間發(fā)生短路，形成欠陷，此種欠陷在點燈測試時可見， 可將此處的不良液晶面板進行攔截，以免流到下一站，而造成偏光板以及其他模組耗材的大量浪費。以下結(jié)合附圖，加以詳細說明。一種液晶面板的點燈測試方法，包括以下步驟
51:對液晶面板進行試壓操作，兩層玻璃之間的間隙變小，間隙內(nèi)存在的微小金屬異物顆粒分別與CF共通電極和TFT配線接通，CF共通電極和TFT配線之間發(fā)生短路；
52:對液晶面板進行點燈測試，將發(fā)生短路的液晶面板進行檢查和攔截。步驟SI中的施壓操作通過至少一試壓滾輪使液晶面板及偏光板貼付在一起，貼付時試壓滾輪對液晶面板進行擠壓。試壓滾輪設置在偏光板的下方，液晶面板位于偏光板的上方，液晶面板設置在一面板基板的下方，試壓滾輪滾動，對偏光板擠壓，液晶面板分別受到面板基板和偏光板的施壓。在本發(fā)明中，面板基板與試壓滾輪之間的空間可通過外界裝置施加外力Ftl進行調(diào)整，本發(fā)明不做限制。本發(fā)明對試壓滾輪的個數(shù)不做限制，以下以一個試壓滾輪為例加以詳細說明，但并不局限于此。請參考圖2，在本發(fā)明中，液晶面板I包括兩層玻璃TFT玻璃11和CF玻璃12，兩層玻璃之間存在間隙13，在間隙13內(nèi)設置一層液晶131，因此，在兩玻璃層的連接處周圍用框膠14密封膠合。在此間隙13內(nèi)，在液晶層中，夾雜著微小金屬異物顆粒132，由于這些微小金屬異物顆粒132的直徑很小，在點燈測試時很難檢查出來，因此，在點燈測試之前需要，增設一試壓步驟，即對液晶面板I進行擠壓，將TFT玻璃11和CF玻璃12之間的間隙變小，進而使得液晶面板I中的微小金屬異物顆粒132分別與CF共通電極121和TFT配線 111接通，使得CF共通電極121和TFT配線111之間發(fā)生短路，形成欠陷，此種欠陷在點燈測試時可見，可將此處的不良液晶面板I進行攔截，以免流到下一站，而造成偏光板以及其他模組耗材的大量浪費，具體操作請參考圖3。請參考圖3，在本發(fā)明中，將液晶面板I設置在一面板基板2下方，液晶面板I的下方設置偏光板3，試壓滾輪4設置在偏光板3的下方，并且設置在偏光板3的側(cè)下方，通過試壓滾輪4旋轉(zhuǎn)將液晶面板I及偏光板3貼付在一起。請參考圖4，面板基板2與試壓滾輪4 之間的空間可通過外界裝置施加外力Ftl進行調(diào)整。請參考圖5，貼付時，試壓滾輪4將對液晶面板I有擠壓的過程，面板基板2對液晶面板I施加一個向下的下壓力F1,試壓滾輪4對液晶面板I 一個向上的擠壓力F2W1= F2。請參考圖6，此液晶面板I經(jīng)偏貼制程時，液晶面板I受到Fp F2擠壓，使得液晶面板I的兩玻璃層之間的間隙13發(fā)生變化，即變小，進而使得微小金屬異物顆粒132分別與CF共通電極121和TFT配線111接通，使得CF共通電極 121和TFT配線111之間發(fā)生短路，形成欠陷，此種欠陷在點燈測試時可見，因此，液晶面板 I在點燈測試時會被檢查出來并進行攔截。
以上公開的僅為本申請的一個具體實施例，但本申請并非局限于此，任何本領域的技術人員能思之的變化，都應落在本申請的保護范圍內(nèi)。
權利要求
1.一種液晶面板的點燈測試方法，其特征在于，包括以下步驟Si:對液晶面板進行試壓操作，兩層玻璃之間的間隙變小，間隙內(nèi)存在的微小金屬異物顆粒分別與CF共通電極和TFT配線接通，CF共通電極和TFT配線之間發(fā)生短路；S2 :對液晶面板進行點燈測試，將發(fā)生短路的液晶面板進行檢查和攔截。
2.如權利要求I所述的液晶面板的點燈測試方法，其特征在于，步驟SI中的試壓操作通過至少一試壓滾輪使液晶面板及偏光板貼付在一起，貼付時試壓滾輪對液晶面板進行擠壓。
3.如權利要求2所述的液晶面板的點燈測試方法，其特征在于，所述試壓滾輪設置在偏光板的下方，液晶面板位于偏光板的上方，所述液晶面板設置在一面板基板的下方，所述試壓滾輪滾動，對偏光板擠壓，所述液晶面板分別受到面板基板和偏光板的施壓。
4.如權利要求3所述的液晶面板的點燈測試方法，其特征在于，所述試壓滾輪設置在偏光板的側(cè)下方。
5.如權利要求3所述的液晶面板的點燈測試方法，其特征在于，所述試壓滾輪與面板基板之間的空間可通過外力進行調(diào)整。
6.如權利要求I所述的液晶面板的點燈測試方法，其特征在于，所述液晶面板包括CF 玻璃和TFT玻璃，CF玻璃和TFT玻璃之間存在間隙，TFT玻璃的內(nèi)側(cè)設置有TFT配線，CF玻璃的內(nèi)側(cè)設置有CF共通電極，在此間隙內(nèi)還設置一層液晶，此層液晶位于TFT配線和CF共通電極之間，微小金屬異物顆粒夾雜在液晶層中。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種液晶面板的點燈測試方法，包括以下步驟S1對液晶面板進行試壓操作，兩層玻璃之間的間隙變小，微小金屬異物顆粒分別與CF共通電極和TFT配線接通，CF共通電極和TFT配線之間發(fā)生短路；S2對液晶面板進行點燈測試，將發(fā)生短路的液晶面板進行檢查和攔截。此方法是在點燈測試之前先對液晶面板進行試壓操作，即對液晶面板進行擠壓，將兩玻璃層之間的間隙變小，此種方式可使得面板中的微小金屬異物顆粒分別與CF共通電極和TFT配線接通，使得CF共通電極和TFT配線之間發(fā)生短路，此種欠陷在點燈測試時可見，可將此處的不良液晶面板進行攔截，以免流到下一站，而造成偏光板以及其他模組耗材的大量浪費。
文檔編號G02F1/13GK102636891SQ20121013776
公開日2012年8月15日 申請日期2012年5月7日 優(yōu)先權日2012年5月7日
發(fā)明者呂俊發(fā), 張芬, 楊宣威, 王建峰 申請人:華映視訊(吳江)有限公司