專利名稱：太陽能電池晶硅硅片檢驗?zāi)０寮捌渲谱鞣椒?br> 技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及太陽能電池領(lǐng)域，尤其是一種太陽能電池晶硅硅片檢驗?zāi)０?，適用于 硅片的尺寸質(zhì)量檢驗。
背景技術(shù)：
全球太陽能背景，當(dāng)電力、煤炭、石油等不可再生能源頻頻告急，能源問題日益成 為制約國際社會經(jīng)濟發(fā)展的瓶頸時，越來越多的國家開始實行"陽光計劃"，開發(fā)太陽能 資源，尋求經(jīng)濟發(fā)展的新動力。太陽能作為一種可再生的新能源，越來越引起人們的關(guān)注。 預(yù)計到2030年，可再生能源在總能源結(jié)構(gòu)中將占到30%以上，而太陽能光伏發(fā)電在世界總 電力供應(yīng)中的占比也將達到10%以上；到2040年，可再生能源將占總能耗的50%以上，太 陽能光伏發(fā)電將占總電力的20%以上；到21世紀(jì)末，可再生能源在能源結(jié)構(gòu)中將占到80% 以上，太陽能發(fā)電將占到60%以上。這些數(shù)字足以顯示出太陽能光伏產(chǎn)業(yè)的發(fā)展前景及其 在能源領(lǐng)域重要的戰(zhàn)略地位。由此可以看出，太陽能電池市場前景廣闊。而生產(chǎn)太陽能產(chǎn) 品最關(guān)鍵的硅片，硅片的質(zhì)量直接決定了太陽能電池片的效率。目前各電池片廠家對于硅片質(zhì)量檢驗用尺子或卡尺測量硅片外形尺寸，雖然檢 驗原理和方法都符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，但是作為檢驗太陽能硅晶硅片的專用檢測設(shè)備具有以下 缺點(1)由于硅片薄、易碎，傳統(tǒng)方法用尺子或卡尺測量硅片，測量時不敢貼近，不易獲得 準(zhǔn)確數(shù)據(jù)；(2)傳統(tǒng)尺子或卡尺是由金屬或塑料制成，金屬材質(zhì)的尺子或卡尺在測量硅片 過程中易對硅片產(chǎn)生金屬污染，對后道制作產(chǎn)生影響；而塑料材質(zhì)的尺子又存在測量精度 無法滿足硅片的尺寸精度要求；(3)傳統(tǒng)測量硅片對操作技巧要求很高，極易導(dǎo)致碎片、缺 角、脫晶、隱裂等問題，而且用尺子或卡尺測量硅片較費時，影響硅片檢驗速度。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種檢驗操作簡單，易于操作、造價成本低，并 且不易損傷硅片的太陽能電池晶硅硅片檢驗?zāi)０寮捌渲谱鞣椒?。本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是一種太陽能電池晶硅硅片檢驗?zāi)?板，具有透明載體，所述的透明載體表面打印有測量硅片尺寸大小的刻度線，所述的刻度線 由長、短線段間隔分布而成。進一步具體的說，本發(fā)明所述的刻度線中的長線段的長度為10 15mm，短線段的 長度為5 8mm，所述的長、短間隔0. 1 1.0mm分布，所述的長、短線段的線寬均為0. 1mm。更進一步的說，為了能對各種形態(tài)的硅片進行精確的檢驗，本發(fā)明所述的透明載 體上的刻度線包括倒角刻度線和四邊刻度線，所述的四邊刻度線呈十字狀設(shè)置在透明載體 的中心。同時，本發(fā)明進一步的提供了所述模板的制作方法1)利用制圖軟件繪制所需的 圖形并進行打?。?)在光照度300 4001ux的過濾UV暗室環(huán)境下，通過曝光機將圖形曝 光形成在透明載體上；3)在光照度300 4001ux的過濾UV暗室環(huán)境下，通過顯影機對透明載體上的圖形進行顯影，使得透明載體上精細(xì)顯現(xiàn)圖形；4)將透明載體烘干形成太陽能電池晶硅硅片檢驗?zāi)０?。本發(fā)明所述的透明載體由不易變形、老化的材料制成。例如透明PVC或其他樹脂 材料。本發(fā)明的有益效果是，解決了背景技術(shù)中存在的缺陷，利用不易變形、老化的材料 制成透明載體，將具體尺寸精確的打印在透明載體上，檢驗時只需將硅片放在該透明載體 上對準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)尺寸測量，就可獲得數(shù)據(jù)，檢驗是否合格，從而提高了硅片檢驗的精準(zhǔn)度與速 度，而且硅片是盛放在透明塑料板上的，不易導(dǎo)致碎片、缺角、脫晶、隱裂等問題，這樣也提 高了硅片檢驗的質(zhì)量。


下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明進一步說明。圖1是本發(fā)明的優(yōu)選實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖中1、透明載體；21、倒角刻度線；22、四邊刻度線。
具體實施例方式現(xiàn)在結(jié)合附圖和優(yōu)選實施例對本發(fā)明作進一步詳細(xì)的說明。這些附圖均為簡化的 示意圖，僅以示意方式說明本發(fā)明的基本結(jié)構(gòu)，因此其僅顯示與本發(fā)明有關(guān)的構(gòu)成。如圖1所示的一種太陽能電池晶硅硅片檢驗?zāi)０?，具有透明載體1，所述的透明 載體1表面打印有測量硅片尺寸大小的刻度線，刻度線包括倒角刻度線21和四邊刻度線 22，所述的刻度線由長、短線段間隔分布而成。其中長線段的長度為10mm，短線段的長度為 6mm，所述的長、短間隔0. 5mm分布，所述的長、短線段的線寬均為0. 1mm。模板的制作過程是1)利用制圖軟件繪制所需的圖形并進行打印；2)在光照度 3001ux的過濾UV暗室環(huán)境下，通過曝光機將圖形曝光形成在透明載體上；3)在光照度 3001ux的暗室環(huán)境下，通過顯影機對透明載體上的圖形進行顯影，使得透明載體上精細(xì)顯 現(xiàn)出如圖1所示的圖形；4)將透明載體烘干形成太陽能電池晶硅硅片檢驗?zāi)０濉８鶕?jù)本發(fā)明另一個模板的制作實施例，其制作過程為1)利用制圖軟件繪制所 需的圖形并進行打?。?)在光照度4001ux的過濾UV暗室環(huán)境下，通過曝光機將圖形曝光 形成在透明載體上；3)在光照度4001ux的暗室環(huán)境下，通過顯影機對透明載體上的圖形進 行顯影，使得透明載體上精細(xì)顯現(xiàn)出如圖1所示的圖形；4)將透明載體烘干形成太陽能電 池晶硅硅片檢驗?zāi)０?。檢驗時只需將硅片放在該透明載體1上對準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)尺寸測量，就可獲得數(shù)據(jù)，檢驗 是否合格，從而提高了硅片檢驗的精準(zhǔn)度。以上說明書中描述的只是本發(fā)明的具體實施方式
，各種舉例說明不對本發(fā)明的實 質(zhì)內(nèi)容構(gòu)成限制，所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在閱讀了說明書后可以對以前所述的具體 實施方式做修改或變形，而不背離發(fā)明的實質(zhì)和范圍。
權(quán)利要求
一種太陽能電池晶硅硅片檢驗?zāi)０?，其特征在于具有透明載體(1)，所述的透明載體(1)表面打印有測量硅片尺寸大小的刻度線，所述的刻度線由長、短線段間隔分布而成。
2.一種太陽能電池晶硅硅片檢驗?zāi)０宓闹谱鞣椒?，其特征在于包括以下步驟1)利用制圖軟件繪制所需的圖形并進行打印；2)在光照度300 4001ux的過濾UV暗室環(huán)境下，通過曝光機將圖形曝光形成在透明 載體上；3)在光照度300 4001ux的過濾UV暗室環(huán)境下，通過顯影機對透明載體上的圖形進 行顯影，使得透明載體上精細(xì)顯現(xiàn)圖形；4)將透明載體烘干形成太陽能電池晶硅硅片檢驗?zāi)０濉?br> 3.如權(quán)利要求1所述的太陽能電池晶硅硅片檢驗?zāi)０澹涮卣髟谟谒龅目潭染€中 的長線段的長度為10 15mm，短線段的長度為5 8mm，所述的長、短間隔0. 1 1. Omm分布。
4.如權(quán)利要求1所述的太陽能電池晶硅硅片檢驗?zāi)０?，其特征在于所述的透明載體 (1)上的刻度線包括倒角刻度線(21)和四邊刻度線(22)，所述的四邊刻度線(22)呈十字 狀設(shè)置在透明載體(1)的中心。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種太陽能電池晶硅硅片檢驗?zāi)０寮捌渲谱鞣椒?，所述的太陽能電池晶硅硅片檢驗?zāi)０迨菍⒐杵瑯?biāo)準(zhǔn)尺寸以打印的方式呈現(xiàn)在透明載體上。檢驗時只需將硅片放在該透明載體上對準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)尺寸測量，就可獲得數(shù)據(jù)，檢驗是否合格，從而實現(xiàn)硅片尺寸的檢驗，也提高了硅片檢驗的精準(zhǔn)度。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，制作成本低，大大地節(jié)約了硅片尺寸的檢驗時間，提高了硅片檢驗質(zhì)量。
文檔編號G03F7/00GK101968335SQ20101052686
公開日2011年2月9日 申請日期2010年10月30日 優(yōu)先權(quán)日2010年10月30日
發(fā)明者童彩霞 申請人:江蘇順風(fēng)光電科技有限公司