專利名稱：無機微粒的應(yīng)用及標(biāo)記和識別基片或制品的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及無機微粒的應(yīng)用，該微粒包含至少兩種呈預(yù)先規(guī)定和能被分析識別其比例的化學(xué)元素，涉及一種標(biāo)記基片的方法以及一種標(biāo)記和識別基片和／或制品的方法。
DE 2651528和US 4329393中已描述編碼的微粒，其編碼至少用三種能目視識別的有機樹脂顏色層表示，它們用作標(biāo)記和／或安全特征以防偽冒制品。最初，研制這類微粒是為了跟蹤炸藥的生產(chǎn)和引爆。這類標(biāo)記物的售出商標(biāo)為Microtaggant或Microtrace。
由于層的顏色順序是唯一的編碼特性，微粒度和材料選擇限制了這類標(biāo)記物的應(yīng)用。粒度小于30μm對很多用途是必需的要求，特別是打印墨水和相關(guān)產(chǎn)品。高分辨的條紋和圖形難以用其所含微粒大于印制特征本身的打印墨水繪制。有機疊層制成的顆粒幾乎不落在預(yù)期的大小范圍內(nèi)。
這類有機顆粒的另一缺點是其不耐熱。如果制品暴露于火焰或受熱之中，這會導(dǎo)至標(biāo)記或安全碼單元的破壞。
US5，670，239公開了一種不定域標(biāo)記制品的組合物，供這類制品的偽造或非法使用難以進(jìn)行。該組成含有非隨遇的化學(xué)元素，即周期表主族和副族的或多或少的稀有元素。具體而言，這類元素具有3．69keV-76．315 keV范圍內(nèi)的X-射線Kα線，它們既可呈元素狀態(tài)或呈任何所需化合物狀態(tài)。
元素組成和它們的濃度作為非定域貯存的信息，它們不能用裸眼識別。一個信息條目，例如加密的數(shù)字編碼或數(shù)字／字符組合可用一組具體的元素或化合物表示，其中每個具體的元素或化合物代表編碼的數(shù)字，而元素和化合物的濃度表示該數(shù)字的值，例如圖形或字符。如果屬于該組的具體元素或化合物在組合物中不存在，則相應(yīng)數(shù)位的值為零或空白。
US5，670，239提及若干缺點。這種標(biāo)記方法在任何情況下要求檢索在標(biāo)記它體材料、涂料或打印墨水中標(biāo)記組分的準(zhǔn)確濃度。這取決于標(biāo)記組分的均勻分布，標(biāo)記組分通常以溶液形式提供。要在整個要求的濃度范圍內(nèi)尋找所有均勻地溶解在涂料組合物中又不先成沉淀的所需元素的化合物是相當(dāng)困難的。
同時排除了應(yīng)用固態(tài)材料混合物，因為它們本身傾向于按其粒度、比重等發(fā)生偏析。
另一缺點在于編碼的可能性的受限范圍，因為每一具體的化學(xué)元素或化合物只能表示編碼的有n值的數(shù)字。因此，對于m個具體的元素總的編碼容量為nm。受限的編碼容量是由于在無定域編碼系統(tǒng)中只評價化學(xué)信息。這樣，編碼可被任一種足夠靈敏的分析方法破譯，這些方法能產(chǎn)生定量結(jié)果，例如經(jīng)典元素分析、X-射線螢光、激光-消融-ICP-MS等。這就能使任何可能的偽造者的解碼和反演設(shè)計易于進(jìn)行。
US5，670，239提出的另一缺點是對干擾元素加密的靈敏性。用于加密的一種或多種元素可由于另一原因出現(xiàn)在標(biāo)記物體之中或之上。這將阻礙編碼數(shù)字的正確讀取。反之，其它安全系統(tǒng)的干擾可由于這類編碼的存在而出現(xiàn)，具體而言，如果采用稀土離子的可溶性化合物，這些化合物常常在光譜的可見光或紅外光譜范圍是發(fā)螢光的。這類干擾有可能會在多種仿偽系統(tǒng)組合使用的安全文件中出現(xiàn)。
因此，本發(fā)明的目的在于提供一種標(biāo)記方法，該方法無現(xiàn)有技術(shù)的缺點，而且特別適用于安全文件。
本發(fā)明的另一目的是提供一種可靠的法律工具用于標(biāo)記防假冒和非法使用的物品。
本發(fā)明的再一目的是提供一種標(biāo)記方法，該方法與現(xiàn)有安全系統(tǒng)相容，特別與用于安全文件的系統(tǒng)和用作自動機識別的系統(tǒng)相容。
本發(fā)明的另一目的是增加編碼容量。
本發(fā)明的再一目的是提供使反演設(shè)計難以進(jìn)行的加密方法，該加密不會由大多數(shù)現(xiàn)存的常規(guī)分析工具所破譯。
本發(fā)明的再一目的是提供一種標(biāo)記方法，該方法對干擾元素不靈敏。
本發(fā)明的再一目的是提供一種標(biāo)記方法，該方法不取決于與待標(biāo)記的基體材料或制品材料或與涂料或印刷墨水的均相混合物的生成。
這些目的是由獨立權(quán)利要求的特征所實現(xiàn)的。
具體說來，采用至少一種含至少兩種呈預(yù)先規(guī)定并可分析鑒別其比例的化學(xué)元素作標(biāo)記方法來實現(xiàn)這些目的。
這類微粒被引入制品中或涂復(fù)于制品之上作標(biāo)記方法。無機微粒中元素的具體比例是每種類型的微粒所特有，它代表編碼或編碼的一部分。
包含信息的微粒用掃描電子顯微鏡(SEM)采用反向散射電子探測定域。
這樣，包含信息的微粒應(yīng)在第一步驟中被定域。在包含信息的微粒被定域之后，包含在該微粒內(nèi)的化學(xué)元素比例可用能量分散或波長分散γ-射線分析(EDX)測定。該兩個步驟，即微粒定域及其分析是在同一SEM設(shè)備上進(jìn)行。本發(fā)明的標(biāo)記的特有解碼受分析方法的制約，該方法組合使用定域顯微鏡和編碼的元素分析。將編碼信息濃集在至少一個定域微粒處，使信息檢索與均相混合無關(guān)。對于這類標(biāo)記的讀取，SEM／EDX是目前最實用的方法。對于SEM／EDX，數(shù)量級為0．01μm3的微粒體積足能被準(zhǔn)確讀取。
SEM／EDX分析方法另一有利的特性在于它與標(biāo)準(zhǔn)密切相關(guān)，以能獲得可靠的定量結(jié)果。在微粒中存在的元素的量按其特征性X-射線發(fā)射強度確定。但是，后者取決于確準(zhǔn)的激發(fā)條件，即激發(fā)電子束的能量。由于激發(fā)電子束的能量會隨材料密度或多或少地衰減，因此分析必須參照化學(xué)性質(zhì)相近的標(biāo)準(zhǔn)材料進(jìn)行。在缺乏這種標(biāo)準(zhǔn)時，定量結(jié)果可能有相當(dāng)大的誤差。在安全應(yīng)用中，標(biāo)準(zhǔn)及其準(zhǔn)確組成對標(biāo)記擁有者是已知的，但對偽造卻是未知的。因此偽造者只能依靠間接證據(jù)，因而不能復(fù)制標(biāo)記，甚至在他配置了SEM／EDX設(shè)備和使用了材料合成的設(shè)施的條件下亦是如此。
標(biāo)記微?？珊魏位瘜W(xué)元素。
特別有用的是周期表后半部分的元素，因為它所易于使微粒在SEM上定域。但是，對于編碼目的可采用原子序數(shù)至少為5的任一元素，這些元素能用上述檢測和分析裝置讀取。
本發(fā)明所用的編碼化合物最好選自非化學(xué)計量的晶體化合物或從不同類型的玻璃。化學(xué)計量的晶體化合物雖不具完全相同的安全潛能，但對選擇應(yīng)用仍是令人滿意的?；瘜W(xué)計量化合物是這樣一些化合物，它們僅以確定的元素比存在。碳酸鈣(CaCO3)，石英(SiO2)，重晶石(BaSO4)等是化學(xué)計量化合物的一些例子。
非化學(xué)計量晶體是帶微觀有序結(jié)構(gòu)的固體，即原子按稱為晶體結(jié)構(gòu)的規(guī)則方式排列。某些晶體結(jié)構(gòu)對于一種類型的原子被另一類型的原子置換具有相當(dāng)大的容許度，而不需要改變其微觀順序，其條件是遵守某些普遍法則如原子大小和電荷中性。這種結(jié)構(gòu)類型的例子是尖晶石(AB2O4)、柘榴石(A3B2C3O12或A3B5O12)、鈣鈦礦(ABO3)、鑭系元素的氧硫化物(Y，Ln)2O2S、鋯石(ABO4)等。這里A、B、C代表出現(xiàn)在晶體結(jié)構(gòu)中的不同類型的格點；這些格點必須被相應(yīng)的金屬離子所占據(jù)。Ln代表鑭系，即57-71號元素。所有這些結(jié)構(gòu)中的給定格點被單一類型的金屬離子或者被不同類型的化學(xué)上相似的金屬離子的混合物占據(jù)。例如，化合物Fe3O4、ZnFe2O4、(ZnxCO1-x)Fe2O4和Co(Fe2-xA1x)O4全都具有尖晶石結(jié)構(gòu)。參數(shù)X在某些這類化學(xué)式中可自由選取，即存在一個或多個不為化學(xué)式量規(guī)定的濃度比例。本發(fā)明主要依靠這類化合物的存在以實現(xiàn)含適當(dāng)信息的微粒。
玻璃是非晶體固體材料，其特征是缺少微觀序列。在原子水平上，玻璃的結(jié)構(gòu)類似于液體。因此，可將玻璃看作是室溫下極端粘稠的液體。玻璃的組成可在很大程度上變化，可將各種另外的金屬離子引入(溶入)玻璃中形成基料。這種玻璃形成物在氧化物(B2O3、SiO2等)、氟化物(BeF2等)、氮化物等領(lǐng)域內(nèi)是眾所周知的。玻璃組成按其定義是非化學(xué)計量的，因為它們不具由化學(xué)計量確定的晶體結(jié)構(gòu)。玻璃形成中唯一的限制因素是溶解度，即如果所有所需組分能在單一熔體中均相混合并在冷卻過程中保持這種狀態(tài)。很奇特的玻璃適用于本發(fā)明的標(biāo)記目的，例如以各種元素比的含Si、Ge、Al、La、Ta、Er和O的玻璃。玻璃可研磨成所需的粒度，但這種研磨要求高新技術(shù)，以獲得3-5μm量級的細(xì)小微粒。
在另一實施方案中，微粒為金屬合金，諸如鋁鎳鈷合金、黃銅、青銅等等。
所有類型的顆粒可單獨使用或以任意組合使用。
本發(fā)明的一個實施方案在于含信息的微粒由疊合層組成，該層含以非化學(xué)計量的或化學(xué)式量形式的幾種化學(xué)元素。
無機微粒可具有任何形狀，包括不規(guī)則形成的和規(guī)則形成的微粒。該微粒的大小基本上在0．1-30微米之間，優(yōu)選范圍在0．5-10微米之間，甚至更優(yōu)選的范圍為1-5微米?；旧鲜侵覆牧峡傊亓康?0％或80％以上落在上述范圍內(nèi)。單個微粒的體積基本上在0．01μm3-10000μm3之間的范圍內(nèi)，優(yōu)選在0．1μm3-1000μm3之間的范圍內(nèi)，更優(yōu)選在1μm3-100μm3的范圍內(nèi)。
本發(fā)明的無機微?？蓾B入任一載體介質(zhì)內(nèi)，該介質(zhì)能生成該微粒的穩(wěn)定彌散體，并使微粒保留在用于定域和分析的位置上。這些微粒宜滲入任一種涂料組合物和印刷墨水之中，再將它們涂復(fù)在需標(biāo)記的任一種基片上。在一個優(yōu)選的實施方案中，如果編碼應(yīng)使人眼不能覺察，則成膜的載體介質(zhì)被選擇成在電磁譜的可見范圍內(nèi)是透明的。在另一種應(yīng)用模式中，微粒滲入本體材料中，然后經(jīng)擠壓、澆鑄、注模，輥壓等獲得其所需的形狀。含有該微粒的涂料組合物或印刷墨水可用任一種已知工藝涂復(fù)到底基片上。這些工藝包括噴涂、刷涂、浸漬、印刷。印刷可用凹板、凹印、膠印、絲網(wǎng)、凸版、苯胺印刷和相關(guān)技術(shù)完成。
含信息的微粒亦可滲入粉末涂料組合物、調(diào)色劑等以及滲入紙、安全膜、塑料片和滲入纖維中，特別是對有價證券、紙幣、支票等，以及安全文件、護(hù)照、駕駛執(zhí)照等。它們還可用于信用卡、ID卡、出入卡以及所有其它類型的賦權(quán)卡或載值卡。
對可靠探測和分析所必需的微粒的有效量界于其被加入的總組合物或材料總量的0．0001％-10％，優(yōu)選為0．001％-1％，更優(yōu)選為0．01％-0．1％。
如果該微粒另外有螢光、磁性、紅外吸收、無線電頻率和／或微波共振等性質(zhì)，則防偽保持可提高。涂料組合物和／或印刷墨水可涂復(fù)任何安全文件上，以便防偽或該文件的非授權(quán)交易和使用。
按照本發(fā)明，編碼的讀取可采用任一種現(xiàn)有的掃描電子顯微鏡(SEM)，其前提是它裝備有反向散射電子探測器和能量分散或波長分散X-射線探測器。下述例子的數(shù)據(jù)來源于三種不同的儀器(LEO435VP，Philips XL 30W和Hitachi S-3500N)，它們可以無區(qū)別地用于同一目的。
在掃描電子顯微鏡中，樣品用精細(xì)聚焦的電子束掃描，其光點大小為5-10nm，電子能量為1-30kV。當(dāng)基束打在樣品上，產(chǎn)生不同類型的次級輻射，后者可藉助適宜的裝置探測。相應(yīng)的探測器強度作為掃描電子束的坐標(biāo)的函數(shù)圖象產(chǎn)生SEM圖。隨電子能量和樣品密度之不同，基束或多或少地透入樣品材料。例如，20kV的電子束對有機墨水基體的穿透深度為5-8μm。
最重要的次級輻照類型是(ⅰ)次級電子，即基束電子碰撞后樣品材料放出的電子。次級電子的能量低(小于50eV)，從而只能透射樣品的表面。其結(jié)果，次級電子探測產(chǎn)生樣品的表面分布圖象(“分布對比”)。
(ⅱ)反向散射電子，即在樣品原子核或核心上反射的基束電子。反向散射電子的能量高，接近基束的能量并可穿透整個樣品體積。由于原子的電子散射能力隨其原子序數(shù)增大。所以反向散射電子產(chǎn)生有關(guān)樣品化學(xué)性質(zhì)的圖象(“化學(xué)對比”)。
(ⅲ)X-射線，它來自以基束電子撞擊之后樣品原子的空電子殼的重填。每一原子發(fā)射其特征性的X-射線譜，由K、L、M等線序列構(gòu)成，該譜可對樣品中存在的某些化學(xué)元素作出結(jié)論，如果有對比標(biāo)準(zhǔn)存在，就可確定其相對量。接收到的X-射線發(fā)射的強度明顯地取決于激發(fā)的基電子束的能量，同樣取決于射線路徑中存在的X-射線吸收物質(zhì)。作為普遍準(zhǔn)則，掃描電子束的能量至少必須是擬觀察的發(fā)射線能量的兩倍，并且能量低于2keV發(fā)射線已會在有機墨水基體中受到吸收損失。通常SEM操作中基束能量為20keV。在這種條件下，直到溴(原子序數(shù)35)的元素宜用其K-線測定，而從銣至鉍(原子序數(shù)37-83)應(yīng)宜用其L-線測定。對于后面族的較重元素，M-線具有一定意義，它們宜用于測定錒系元素。至于計算，對K-、L-、和M-線系的峰面積分別積分，并考慮按照裝置特有的計算方法。
下面的附圖和例子將對本發(fā)明作進(jìn)一步的闡述，但本發(fā)明不限于此。


圖1表示本發(fā)明包含信息的非化學(xué)計量無機晶體微粒的SEM圖象，該微粒滲入凹版印刷墨水，該圖象由反向散射電子探測(“化學(xué)對比”)獲得。
圖2表示本發(fā)明包含信息的非化學(xué)計量無機晶體微粒的SEM圖象，該微粒滲入可見光絲網(wǎng)印刷墨水。
圖3表示與圖2相同的微粒的SEM圖象，該微粒滲入可見光凹版印刷墨水。
圖4表示包含信息的非化學(xué)計量無機晶體微粒本體量的SEM圖象，該圖象由反向散射電子探測形象化。
圖5表示圖2中定域的一個非化學(xué)計量晶體微粒的能量散射X-射線譜。
圖6表示SEM／EDX分析表，該表是基于本發(fā)明的無機微粒得到。
圖7表示本發(fā)明包含信息的玻璃型無機微粒的SEM圖象。
圖8表示圖7的一個微粒的能量散射X-射線譜。其化學(xué)組合物為(GeO2-SiO2-La2O3-Er2O3-Ta2O5)。
圖6表示對本發(fā)明無機微粒的SEM／EDX分析表。第一列表示圖4的純微粒的SEM／EDX結(jié)果，結(jié)果是利用儀器內(nèi)含標(biāo)準(zhǔn)的算法系統(tǒng)，參比標(biāo)準(zhǔn)微粒的元素比例得到的，該標(biāo)準(zhǔn)微粒只屬該標(biāo)準(zhǔn)擁有者所有。列2，3和4表示標(biāo)記物的各個單體晶體的SEM／EDX結(jié)果，其在兩種不同凹版墨水中的濃度分別為1％和0．1％。這些分析是對這些墨水的通常印刷進(jìn)行的。
本發(fā)明這種類型的標(biāo)記對編碼容量的提高以其耐干擾元素和抗反演設(shè)計將藉助下列實例予以闡明實例編碼微粒P1(Y1．6Nd0．2Gd0．2)O2S編碼微粒P2(Y1．0Gd0．6Yb0．4)O2S編碼微粒P3(Y1．3Nd0．1Gd0．4Yb0．2)O2S偽裝材料C1La2O3偽裝材料C2Gd2O3用P1和P2的1∶1混合物獲得的編碼與用P3獲得的編碼可根據(jù)本發(fā)明予以區(qū)別，而US5，670，239卻不能區(qū)別這兩個案例、這表明本發(fā)明的標(biāo)記方法具有較高的編碼容量。
用P1和偽裝材料C1的1∶1混合物獲得的編碼按照本發(fā)明易于解碼，因為它有該元素比例(Y1．6Nd0．2Gd0．2)；這確實足以定域(Y1．6Nd0．2Gd0．2)O2S微粒的一個晶體并分析這個晶體。由于US5，670，239要補充考慮La2O3，在此案例中將得出(La1．0Y0．8Nd0．1Gd0．1)的總元素比例。這同樣可能是用經(jīng)典元素分析、X-射線螢光、激光-消融-ICP-MS等得到的組成比例，這表明本發(fā)明的標(biāo)記方法有較高的抗反演設(shè)計。
用P1和偽裝材料C2的混合物獲得的編碼亦同樣如此。SEM／EDX仍有能力準(zhǔn)確讀出編碼，而其它分析方法將得出完全錯誤的釓含量。這表明本發(fā)明編碼的抗干擾元素性質(zhì)是很強的，干擾元素可能出于其它的原因可能存在于編碼制品中或制品上。另一方面，可有目的的添加偽裝材料，以誤導(dǎo)任何可能的偽造者。
權(quán)利要求
1．至少一種類型的無機微粒作為標(biāo)記方法的應(yīng)用，該微粒含至少兩種化學(xué)元素，其比例是預(yù)先規(guī)定的并能分析識別。
2．權(quán)利要求1的微粒的應(yīng)用，其中微粒能由掃描電子顯微鏡定域。
3．權(quán)利要求2的微粒的應(yīng)用，其中無機微粒能由反向散射電子探測定域。
4．權(quán)利要求1-3中之一的微粒的應(yīng)用，其中該化學(xué)元素的比例能在掃描電子顯微鏡上由能量散射或波長散射X-射線分析。
5．權(quán)利要求1-4中之一的微粒的應(yīng)用，其中每個微粒的體積基本上在0．01μm3-10000μm3范圍內(nèi)，優(yōu)選在0．1μm3-1000μm3范圍內(nèi)，更優(yōu)選在1μm3-100μm3范圍內(nèi)。
6．權(quán)利要求1-5中之一的微粒的應(yīng)用其中該無機微粒含有呈非化學(xué)計量比例的化學(xué)元素。
7．權(quán)利要求1-5中之一的微粒的應(yīng)用，其中該無機微粒由呈化學(xué)計量組合物的化學(xué)元素組成。
8．權(quán)利要求6或7的無機微粒的應(yīng)用，其中該微粒為晶體。
9．權(quán)利要求8的無機微粒的應(yīng)用，其中該晶體微粒選自有柘榴石-、尖晶石-、鈣鈦礦-、鋯石結(jié)構(gòu)的晶體。
10．權(quán)利要求8的無機微粒的應(yīng)用，其中該晶體微粒選自稀土元素和／或釔的氧硫化物。
11．權(quán)利要求6的無機微粒的應(yīng)用，其中該微粒是無定形的或玻璃狀的。
12．權(quán)利要求6的無機微粒的應(yīng)用，其中該微粒具有金屬合金。
13．上述權(quán)利要求之任一的微粒在涂料組合物和／或印刷墨水和／或紙和／或安全膜和／或卡片和／或纖維和／或本體材料中的應(yīng)用，其用量在0．0001％-10％范圍內(nèi)，優(yōu)選0．001％-1％，更優(yōu)選0．01％-0．1％，該量按其被加入到的總組合物或材料的總重量計。
14．上述權(quán)利要求之任一的微粒的應(yīng)用，其中該微粒另外具有一種或幾種下列特性螢光、磁性、紅外吸收、無線電頻率和／或微波共振。
15．上述權(quán)利要求之任一的無機微粒在標(biāo)記安全文件中的應(yīng)用。
16．一種標(biāo)記基片的方法，它包括下列步驟(a)提供至少一種類型的無機微粒，該微粒包含至少兩種化學(xué)元素，其比例是預(yù)先規(guī)定的并能被分析識別的非化學(xué)計量比和／或化學(xué)計量比，其各個微粒的體積基本上在0．01μm3-10000μm3范圍內(nèi)，優(yōu)選在0．1μm3-1000μm3范圍內(nèi)，更優(yōu)選在1μm3-100μm3范圍內(nèi)；(b)將步驟(a)得到的無機微粒加入到涂料組合物中，優(yōu)選是印刷墨水中；(c)任選地加入一種或幾種偽裝化合物，該化合物包含至少一種在步驟(b)加入的那些無機微粒的化學(xué)元素；(d)將步驟(b)或(c)的涂料組合物，優(yōu)選是印刷墨水涂復(fù)于基片上。
17．一種標(biāo)記和鑒定基片的方法，它包括下列步驟(a)提供至少一種類型的無機微粒，該微粒包含至少兩種化學(xué)元素，其比例是預(yù)先規(guī)定的并能被分析識別的非化學(xué)計量比和／或化學(xué)計量比，其各個微粒的體積基本上在0．01μm3-10000μm3范圍內(nèi)，優(yōu)選在0．1μm3-1000μm3范圍內(nèi)，更優(yōu)選在1μm3-100μm3范圍內(nèi)；(b)將步驟(a)得到的無機微粒加入到涂料組合物中，優(yōu)選是印刷墨水中；(c)任選加入一種或幾種偽裝化合物，該化合物包含至少一種在步驟(b)加入的那些無機微粒的化學(xué)元素；(d)將步驟(b)或(c)的涂料組合物，優(yōu)選是印刷墨水涂復(fù)于基片上。(e)優(yōu)選用掃描電子顯微鏡定域在步驟(d)涂復(fù)的涂料組合物和／或印刷墨水之中的該步驟(a)提供的無機微粒的至少一種類型的位置。(f)優(yōu)選在掃描電子顯微鏡上用能量散射或波長散射X-射線分析在步驟(e)中被定域的每一無機微粒的化學(xué)元素比例。
18．標(biāo)記和鑒定制品的方法，它包括下列步驟(a)提供至少一種類型的無機微粒，該微粒包含至少兩種化學(xué)元素，其比例是預(yù)先規(guī)定的并能被分析識別的非化學(xué)計量比和／或化學(xué)計量比，其各個微粒的體積基本上在0．01μm3-10000μm3范圍內(nèi)，優(yōu)選在0．1μm3-1000μm3范圍內(nèi)，更優(yōu)選在1μm3-100μm3范圍內(nèi)；(b)將步驟(a)獲得的無機微粒加入到用于制造該制品、安全膜、紙、卡片、纖維的至少一種材料中；(c)可加入也可不加入一種或幾種偽裝化合物，該化合物包含至少一種在步驟(b)加入的那些無機微粒的化學(xué)元素；(d)優(yōu)選用掃描電子顯微鏡定域成形制品，紙，安全膜，卡片或纖維中的該無機微粒的至少一種類型的位置。(e)優(yōu)選用在掃描電子顯微鏡上用能量散射或波長散射X-射線分析分析在步驟(d)中被定域的每一無機微粒的化學(xué)元素比例。
19．權(quán)利要求17-18的方法，其中該無機微粒是用反向散射電子探測定域的。
20．一種優(yōu)選含權(quán)利要求17-19的標(biāo)記方法的紙、卡片或安全膜制成的安全文件。
全文摘要
本發(fā)明涉及無機微粒,該微粒包含至少兩種呈預(yù)先規(guī)定的并可分析鑒別的比例的化學(xué)元素。該微粒用作標(biāo)記方法加入到任何所需的制品中或涂敷其上,它們具有高的防偽安全潛能,因為分析取決于空間和化學(xué)信息。第一步驟中,包含信息的微粒必須被掃描電子顯微鏡定域,在第二步驟中,用能量散射或波長－散射X－射線分析法(SEM/EDX)分析。
文檔編號B42D15/10GK1283216SQ98812733
公開日2001年2月7日 申請日期1998年12月22日 優(yōu)先權(quán)日1997年12月29日
發(fā)明者O·羅祖梅克, E·米勒 申請人:西柏控股有限公司