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老化測試用背光源裝置及液晶顯示面板的老化測試方法與流程

文檔序號:12864753閱讀:2463來源:國知局
老化測試用背光源裝置及液晶顯示面板的老化測試方法與流程

本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種老化測試用背光源裝置及液晶顯示面板的老化測試方法。



背景技術(shù):

液晶顯示器(liquidcrystaldisplay,lcd)具有機(jī)身薄、省電、無輻射等眾多優(yōu)點(diǎn),得到了廣泛的應(yīng)用,如:液晶電視、移動電話、個(gè)人數(shù)字助理(pda)、數(shù)字相機(jī)、計(jì)算機(jī)屏幕或筆記本電腦屏幕等,在平板顯示領(lǐng)域中占主導(dǎo)地位。其中,薄膜晶體管液晶顯示器(thinfilmtransistorliquidcrystaldisplay,tft-lcd)是當(dāng)前平板顯示器的主要品種之一,其主要包括液晶顯示面板、背光模組(backlightmodule,blu)及外部驅(qū)動電路;液晶顯示面板的工作原理是在薄膜晶體管陣列(thinfilmtransistorarray,tftarray)基板與彩色濾光片(colorfilter,cf)基板之間灌入液晶分子,并在兩片基板上施加驅(qū)動電壓來控制液晶分子的旋轉(zhuǎn)方向,以將背光模組的光線折射出來產(chǎn)生畫面。

請參閱圖1,圖1為現(xiàn)有技術(shù)中tft-lcd驅(qū)動架構(gòu)的示意圖,現(xiàn)有tft-lcd主要驅(qū)動原理在于:系統(tǒng)主板將r/g/b壓縮信號、控制信號及動力通過線材與cof芯片(覆晶薄膜芯片)及pcb板200上的連接器210(connector)相連接,從而使得液晶顯示面板獲得所需的電源、信號,具體地,pcb板200通過s-cof芯片300(source-chiponfilm,源極覆晶薄膜芯片)和g-cof芯片400(gate-chiponfilm,柵極覆晶薄膜芯片)與顯示面板的顯示區(qū)域500(displayarea)連接,進(jìn)一步地,所述驅(qū)動架構(gòu)中還包括設(shè)于顯示面板邊緣的扇出區(qū)域600(fanoutarea),顯示區(qū)域500中的掃描線及數(shù)據(jù)線經(jīng)由扇出區(qū)域600分別連接至s-cof芯片300和g-cof芯片400。

通常tft-lcd出貨前會進(jìn)行產(chǎn)品的老化測試(agingtest),如50℃高溫測試,具體地,在液晶顯示面板在組裝完成之后,把opencell(與cof芯片和pcb板均邦定(bonding)好的液晶顯示面板)搭配背光模組,輸入訊號并放進(jìn)高溫爐進(jìn)行短時(shí)間測試,從而進(jìn)行產(chǎn)品篩選。

但目前l(fā)cd面板廠還會有較多的purecell(與cof芯片和pcb板均沒bonding的液晶顯示面板)出貨,如圖2所示,purecell在沒激光切割(lasercut)之前,只能夠通過扇出區(qū)域600上的測試板(testpad)650與外部的圖形產(chǎn)生器—shortingbar訊號設(shè)備連接而將purecell點(diǎn)亮,如需aging測試,則需要利用shortingbar訊號設(shè)備給purecell提供訊號,那么shortingbar訊號設(shè)備需也需同時(shí)放入到高溫爐里面,才可以進(jìn)行aging測試,但shortingbar訊號設(shè)備體型較大,不易放入高溫爐中,且高溫爐爐內(nèi)不易進(jìn)行對準(zhǔn)操作。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明的目的在于提供一種老化測試用背光源裝置,用于對液晶顯示面板進(jìn)行老化測試,溫度可控并可提供亮度,能夠直接模擬樣品在高溫爐內(nèi)的測試形態(tài)。

本發(fā)明的目的還在于提供一種液晶顯示面板的老化測試方法,采用上述的老化測試用背光源裝置,無需把樣品放置在高溫爐子里面,并可以直接快捷地得出檢測結(jié)果。

為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種老化測試用背光源裝置,用于對液晶顯示面板進(jìn)行老化測試,包括:

背板,所述背板包括底板及與該底板垂直連接的數(shù)個(gè)側(cè)板;

蓋設(shè)于所述背板上用于承載液晶顯示面板的透明的承載蓋板,所述背板與承載蓋板共同構(gòu)成一盒體;

安裝于所述背板內(nèi)的光源,所述光源位于所述盒體內(nèi)用于向液晶顯示面板提供測試亮度;

安裝于所述背板一側(cè)的加熱裝置和吹風(fēng)裝置,其中,所述加熱裝置設(shè)于背板與吹風(fēng)裝置之間,用于提供熱量,所述吹風(fēng)裝置將加熱裝置發(fā)出的熱量形成熱風(fēng)并吹入背板內(nèi),進(jìn)而通過承載蓋板進(jìn)行熱傳導(dǎo)對承載蓋板上承載的液晶顯示面板進(jìn)行加熱。

所述光源包括兩led燈條,該兩led燈條分別安裝于所述背板的兩相對側(cè)板上。

所述背板中兩相對側(cè)板的內(nèi)壁上分別設(shè)有向背板內(nèi)凸出并相對稱的凸臺,所述承載蓋板的邊緣放置于該兩相對側(cè)板的凸臺上而使所述承載蓋板蓋設(shè)于所述背板上。

所述光源安裝于所述凸臺所在的側(cè)板上并位于該凸臺的下方。

所述加熱裝置和吹風(fēng)裝置安裝于所述背板上一側(cè)板的一側(cè),該側(cè)板為通風(fēng)側(cè)板,該通風(fēng)側(cè)板上設(shè)有多個(gè)通風(fēng)孔,所述吹風(fēng)裝置通過該多個(gè)通風(fēng)孔將熱風(fēng)吹入背板內(nèi)。

所述光源安裝于所述背板的側(cè)板上,該安裝有光源的側(cè)板為發(fā)光側(cè)板,該發(fā)光側(cè)板與所述通風(fēng)側(cè)板為所述背板上不同的側(cè)板。

所述吹風(fēng)裝置包括多個(gè)并列設(shè)置的電風(fēng)扇,所述加熱裝置為電加熱電阻絲。

所述承載蓋板的材料為玻璃。

本發(fā)明還提供一種液晶顯示面板的老化測試方法,包括:提供如上所述的老化測試用背光源裝置、待測試的液晶顯示面板及圖形產(chǎn)生器,將所述液晶顯示面板與圖形產(chǎn)生器進(jìn)行連接并放置于所述老化測試用背光源裝置的承載蓋板上,開啟所述老化測試用背光源裝置,向所述液晶顯示面板提供測試亮度并進(jìn)行加熱。

測試過程中,通過調(diào)節(jié)加熱裝置和吹風(fēng)裝置來控制對液晶顯示面板進(jìn)行加熱的溫度。

本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明的老化測試用背光源裝置,包括背板、承載蓋板、光源、加熱裝置和吹風(fēng)裝置,其中,所述背板與承載蓋板共同構(gòu)成一盒體,所述光源位于所述盒體內(nèi)用于向液晶顯示面板提供測試亮度,加熱裝置和吹風(fēng)裝置安裝于所述背板一側(cè),吹風(fēng)裝置將加熱裝置發(fā)出的熱量形成熱風(fēng)并吹入背板即盒體內(nèi),進(jìn)而通過承載蓋板進(jìn)行熱傳導(dǎo)對承載蓋板上承載的液晶顯示面板進(jìn)行加熱,其溫度可控并可提供亮度,能夠直接模擬樣品在高溫爐內(nèi)的測試形態(tài),用于對液晶顯示面板進(jìn)行老化測試,搭配圖形產(chǎn)生器尤其用于對未邦定cof和pcb的液晶顯示面板進(jìn)行老化測試。本發(fā)明的液晶顯示面板的老化測試方法,采用上述的老化測試用背光源裝置,能夠直接利用該老化測試用背光源裝置加熱至所需測試溫度,無需把樣品放置在高溫爐子里面,并可直接快捷地得出檢測結(jié)果。

為了能更進(jìn)一步了解本發(fā)明的特征以及技術(shù)內(nèi)容,請參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細(xì)說明與附圖,然而附圖僅提供參考與說明用,并非用來對本發(fā)明加以限制。

附圖說明

下面結(jié)合附圖,通過對本發(fā)明的具體實(shí)施方式詳細(xì)描述,將使本發(fā)明的技術(shù)方案及其它有益效果顯而易見。

附圖中,

圖1為tft-lcd驅(qū)動架構(gòu)的示意圖;

圖2為未邦定cof和pcb的液晶顯示面板的示意圖;

圖3為本發(fā)明的老化測試用背光源裝置的俯視示意圖;

圖4為圖3中背板內(nèi)光源的俯視示意圖;

圖5為圖3中老化測試用背光源裝置沿a-a’剖面線的剖面結(jié)構(gòu)示意圖;

圖6為圖3中老化測試用背光源裝置沿b-b’剖面線的剖面結(jié)構(gòu)示意圖;

圖7為通過本發(fā)明的老化測試用背光源裝置對液晶顯示面板進(jìn)行老化測試的示意圖。

具體實(shí)施方式

為更進(jìn)一步闡述本發(fā)明所采取的技術(shù)手段及其效果,以下結(jié)合本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例及其附圖進(jìn)行詳細(xì)描述。

請參閱圖3,一種老化測試用背光源裝置,用于對液晶顯示面板900進(jìn)行老化測試,包括:

背板10,所述背板10包括底板11及與該底板11垂直連接的數(shù)個(gè)側(cè)板12;

蓋設(shè)于所述背板10上用于承載液晶顯示面板900的透明的承載蓋板20,所述背板10與承載蓋板20共同構(gòu)成一盒體;

安裝于所述背板10內(nèi)的光源30,所述光源30位于所述盒體內(nèi)用于向液晶顯示面板900提供測試亮度;

安裝于所述背板10一側(cè)的加熱裝置40和吹風(fēng)裝置50,其中,所述加熱裝置40設(shè)于背板10與吹風(fēng)裝置50之間,用于提供熱量,所述吹風(fēng)裝置50將加熱裝置40發(fā)出的熱量形成熱風(fēng)并吹入背板10內(nèi),進(jìn)而通過承載蓋板20進(jìn)行熱傳導(dǎo)對承載蓋板20上承載的液晶顯示面板900進(jìn)行加熱。

具體地,如圖4所示,所述光源30包括兩led燈條31,該兩led燈條31分別安裝于所述背板10的兩相對側(cè)板12上,該安裝有光源30的側(cè)板12為發(fā)光側(cè)板。

具體地,如圖5和圖6所示,所述背板10中兩相對側(cè)板12的內(nèi)壁上分別設(shè)有向背板10內(nèi)凸出并相對稱的凸臺125,所述承載蓋板20的邊緣放置于該兩相對側(cè)板12的凸臺125上而使所述承載蓋板20蓋設(shè)于所述背板10上。

具體地,所述光源30安裝于所述凸臺125所在的側(cè)板12上并位于該凸臺125的下方。

具體地,如圖5所示,所述加熱裝置40和吹風(fēng)裝置50安裝于所述背板10中一側(cè)板12的一側(cè),該側(cè)板12為通風(fēng)側(cè)板,該通風(fēng)側(cè)板上設(shè)有多個(gè)通風(fēng)孔128,所述吹風(fēng)裝置50通過該多個(gè)通風(fēng)孔128將熱風(fēng)吹入背板10即吹入盒體內(nèi)。

具體地,所述發(fā)光側(cè)板與所述通風(fēng)側(cè)板為所述背板10上不同的側(cè)板12。

具體地,所述吹風(fēng)裝置50包括多個(gè)并列設(shè)置的電風(fēng)扇,所述加熱裝置40為電加熱電阻絲。

具體地,所述加熱裝置40及所述吹風(fēng)裝置50均可調(diào)節(jié),通過調(diào)節(jié)電加熱電阻絲內(nèi)的電流及電風(fēng)扇的風(fēng)速,可以控制該老化測試用背光源裝置對其承載的液晶顯示面板900加熱的溫度。

具體地,所述承載蓋板20的材料為透明導(dǎo)熱材料,例如玻璃。

具體地,所述背板10的材料為隔熱保溫材料。

本發(fā)明的老化測試用背光源裝置,用于對液晶顯示面板900進(jìn)行老化測試,尤其是對未邦定cof和pcb的液晶顯示面板900進(jìn)行老化測試,其溫度可控并可提供亮度,能夠直接模擬樣品在高溫爐內(nèi)的測試形態(tài),可以直接快捷地得出檢測結(jié)果。

請參閱圖7,基于上述的老化測試用背光源裝置,本發(fā)明還提供一種液晶顯示面板的老化測試方法,包括:提供如上所述的老化測試用背光源裝置100、待測試的液晶顯示面板900及圖形產(chǎn)生器800,該液晶顯示面板900為未邦定cof和pcb的purecell,將所述液晶顯示面板900與圖形產(chǎn)生器800進(jìn)行連接并放置于所述老化測試用背光源裝置100的承載蓋板20上,開啟所述老化測試用背光源裝置,向所述液晶顯示面板900提供測試亮度并進(jìn)行加熱。

具體地,測試過程中,通過調(diào)節(jié)加熱裝置40的電加熱電阻絲內(nèi)的電流和吹風(fēng)裝置50的電風(fēng)扇風(fēng)速來控制對液晶顯示面板900進(jìn)行加熱的溫度。

本發(fā)明的液晶顯示面板的老化測試方法,采用上述的老化測試用背光源裝置100,能夠直接利用該老化測試用背光源裝置100加熱至所需測試溫度,無需把樣品放置在高溫爐子里面,并可直接快捷地得出檢測結(jié)果。

綜上所述,本發(fā)明的老化測試用背光源裝置,包括背板、承載蓋板、光源、加熱裝置和吹風(fēng)裝置,其中,所述背板與承載蓋板共同構(gòu)成一盒體,所述光源位于所述盒體內(nèi)用于向液晶顯示面板提供測試亮度,加熱裝置和吹風(fēng)裝置安裝于所述背板一側(cè),吹風(fēng)裝置將加熱裝置發(fā)出的熱量形成熱風(fēng)并吹入背板即盒體內(nèi),進(jìn)而通過承載蓋板進(jìn)行熱傳導(dǎo)對承載蓋板上承載的液晶顯示面板進(jìn)行加熱,其溫度可控并可提供亮度,能夠直接模擬樣品在高溫爐內(nèi)的測試形態(tài),用于對液晶顯示面板進(jìn)行老化測試,搭配圖形產(chǎn)生器尤其用于對未邦定cof和pcb的液晶顯示面板進(jìn)行老化測試。本發(fā)明的液晶顯示面板的老化測試方法,采用上述的老化測試用背光源裝置,能夠直接利用該老化測試用背光源裝置加熱至所需測試溫度,無需把樣品放置在高溫爐子里面,并可直接快捷地得出檢測結(jié)果。

以上所述,對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案和技術(shù)構(gòu)思作出其他各種相應(yīng)的改變和變形,而所有這些改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍。

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