本發(fā)明涉及oled檢測技術領域，更具體地說，涉及一種oled微型顯示器自動檢測系統(tǒng)及方法。

背景技術：

有機發(fā)光二極管(organic-emittingdiode，簡稱oled)顯示器由于具有低功耗、寬視角、主動發(fā)光、易于實現(xiàn)柔性制造等優(yōu)點受到了人們越來越多的關注，并將成為繼tft-lcd后的下一代顯示器。由于oled面板的制備過程較為復雜，最終得到的面板難免會出現(xiàn)一些缺陷，因此對生產(chǎn)線上初步完成的oled面板進行缺陷檢測是oled面板生產(chǎn)流程中非常重要的步驟，是產(chǎn)品良率和質(zhì)量的重要保證。

長期以來，oled顯示器的顯示缺陷檢驗都是采用人工的方式進行，而對于oled微型顯示器來講，由于其具有尺寸小(小于1英寸)，分辨率高(不低于800×600)等特點，肉眼直接判斷產(chǎn)品是否合格不具有可操作性，通常檢驗人員需使用亮度計，萬用表，測試板等多個工具，通過人工計算和比較的方法檢查判斷顯示器是否合格，假如客戶有特殊配對使用需求時，需要將大量顯示器重新檢驗，這種方式花費時間長，檢驗效率低，且檢驗結(jié)果受檢驗員的視力、情緒、責任心、經(jīng)驗、疲勞程度等影響較大，檢驗一致性較差。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明要解決的技術問題在于，針對現(xiàn)有技術的上述缺陷，提供一種oled微型顯示器自動檢測系統(tǒng)及方法。

本發(fā)明解決其技術問題所采用的技術方案是：構(gòu)造一種oled微型顯示器自動檢測系統(tǒng)，所述oled微型顯示器自動檢測系統(tǒng)包括：

測試治具，用于固定和驅(qū)動所述oled微型顯示器；

數(shù)據(jù)獲取單元，與所述測試治具上相應的接觸針連接，自動獲取所述oled微型顯示器的性能參數(shù)；所述數(shù)據(jù)獲取單元包括電流參數(shù)獲取模塊和光學參數(shù)獲取模塊；所述光學參數(shù)獲取模塊針對所述測試治具上方具有檢測區(qū)域；

以及與所述數(shù)據(jù)獲取單元通信連接的上位機；

所述上位機包括：

數(shù)據(jù)處理單元，與所述數(shù)據(jù)獲取單元連接，處理并存儲所述數(shù)據(jù)獲取單元獲取的性能參數(shù)，以提供可用于管理或應用的性能參數(shù)。

在本發(fā)明所述的oled微型顯示器自動檢測系統(tǒng)中，優(yōu)選地，所述電流參數(shù)獲取模塊包括：

在本發(fā)明所述的oled微型顯示器自動檢測系統(tǒng)中，優(yōu)選地，通過數(shù)據(jù)線纜與所述數(shù)據(jù)處理單元連接，用于根據(jù)所述上位機的控制指令采集所述oled微型顯示器的工作電流。

在本發(fā)明所述的oled微型顯示器自動檢測系統(tǒng)中，優(yōu)選地，所述光學參數(shù)獲取模塊包括：

亮度計，通過數(shù)據(jù)線纜與所述數(shù)據(jù)處理單元連接，用于根據(jù)所述上位機的控制指令采集位于所述檢測區(qū)域內(nèi)的所述oled微型顯示器的亮度及色坐標。

在本發(fā)明所述的oled微型顯示器自動檢測系統(tǒng)中，優(yōu)選地，所述亮度計的光軸與所述測試治具的測試面相垂直，且所述亮度計與所述oled微型顯示器相離。

在本發(fā)明所述的oled微型顯示器自動檢測系統(tǒng)中，優(yōu)選地，所述oled微型顯示器自動檢測系統(tǒng)還包括數(shù)據(jù)管理單元，與所述數(shù)據(jù)處理單元連接，對所述性能參數(shù)進行存儲、查詢或數(shù)據(jù)分析。

在本發(fā)明所述的oled微型顯示器自動檢測系統(tǒng)中，優(yōu)選地，所述上位機還包括與所述數(shù)據(jù)處理單元和數(shù)據(jù)管理單元連接的、用于將所述數(shù)據(jù)管理單元存儲、查詢或數(shù)據(jù)分析的結(jié)果進行顯示的顯示單元。

本發(fā)明還提供一種oled微型顯示器自動檢測方法，該自動檢測方法基于上述的自動檢測系統(tǒng)，按以下步驟進行自動檢測：

s1、將所述oled微型顯示器置于檢測區(qū)域內(nèi)，驅(qū)動點亮所述oled微型顯示器；

s2、獲取所述oled微型顯示器的性能參數(shù)，所述性能參數(shù)包括電流參數(shù)和光學參數(shù)；

s3、處理并存儲所述性能參數(shù)，以提供可用于管理或應用的性能參數(shù)。

在本發(fā)明所述的oled微型顯示器自動檢測方法中，優(yōu)選地，在所述步驟s2中，所述電流參數(shù)通過萬用表進行數(shù)據(jù)采集；所述光學參數(shù)通過亮度計進行數(shù)據(jù)采集，其中，所述光學參數(shù)包括亮度及色坐標。

在本發(fā)明所述的oled微型顯示器自動檢測方法中，優(yōu)選地，在所述步驟s3之后還包括：

s4、對所述性能參數(shù)進行存儲、查詢或數(shù)據(jù)分析。

在本發(fā)明所述的oled微型顯示器自動檢測方法中，優(yōu)選地，在所述步驟s4之后還包括：

s5、對所述性能數(shù)據(jù)進行存儲、查詢或數(shù)據(jù)分析的結(jié)果進行顯示。

實施本發(fā)明的oled微型顯示器自動檢測系統(tǒng)及方法，具有以下有益效果：通過上位機控制數(shù)據(jù)獲取單元對被測oled微型顯示器的性能參數(shù)進行采集、并將所采集到的數(shù)據(jù)返回上位機并由上位機統(tǒng)一進行數(shù)據(jù)處理、分析、存儲管理，實現(xiàn)了快速、高效的成品自動檢測，且檢測一致性好、穩(wěn)定性高，可大大提高成品檢測效率。

另外，通過本發(fā)明的自動檢測系統(tǒng)可將人從簡單的重復勞動中解放出來，不僅可降低人工成本，還可避免由于測試人員的主觀因素造成的人為誤差，檢測的準確度更高。

附圖說明

下面將結(jié)合附圖及實施例對本發(fā)明作進一步說明，附圖中：

圖1是本發(fā)明oled微型顯示器自動檢測系統(tǒng)第一實施例的功能框圖；

圖2是本發(fā)明oled微型顯示器自動檢測方法第一實施例的流程示意圖；

圖3是本發(fā)明oled微型顯示器自動檢測方法第二實施例的流程示意圖；

圖4是本發(fā)明oled微型顯示器自動檢測方法第三實施例的流程示意圖。

具體實施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

請參閱圖1，圖1是本發(fā)明oled微型顯示器100自動檢測系統(tǒng)第一實施例的功能框圖。本發(fā)明的oled微型顯示器可用于檢測小于1英寸的微型oled顯示器。如圖1所示，在該實施例中本發(fā)明oled微型顯示器自動檢測系統(tǒng)包括測試治具1、數(shù)據(jù)獲取單元、以及與數(shù)據(jù)獲取單元通信連接的上位機5。其中，

測試治具1，主要用于固定和驅(qū)動oled微型顯示器100?？梢岳斫獾兀摐y試治具1上設置在相應的連接接觸針，可供測試治具1與外部設備連接。當需要對被測oled微型顯示器100進行性能參數(shù)測試時，先將被測oled微型顯示器100放置于測試治具1上，通過測試治具1可將被測oled微型顯示器100固定住，同時還通過測試治具1將被測oled微型顯示器100置于檢測區(qū)域內(nèi)。進一步地,被測oled微型顯示器100的顯示面與測試治具1相背，即如圖1中所示，被測oled微型顯示器100的顯示面朝上。

數(shù)據(jù)獲取單元，與測試治具1上設置相應的接觸針連接，可自動獲取被測oled微型顯示器100的性能參數(shù)；其中，數(shù)據(jù)獲取單元包括電流參數(shù)獲取模塊3和光學參數(shù)獲取模塊2。

在該實施例中，電流參數(shù)獲取模塊3可為萬用表，通過萬用表可對被測oled微型顯示器100的工作電流進行檢測。萬用表通過測試治具1上的接觸針與測試治具1實現(xiàn)連接，測試治具1驅(qū)動點亮被測oled微型顯示器100時，萬用表即可檢測出固定在其上被測oled微型顯示器100的工作電流，即電流參數(shù)?？梢岳斫獾?，本實施例的萬用表受控于上位機5，即當萬用表接收到上位機5的控制指令(即采集電流指令)后，即執(zhí)行采集電流的動作，并將所采集到的被測oled微型顯示器100的工作電流的數(shù)據(jù)上傳給上位機5。

在該實施例中，光學參數(shù)獲取模塊2可為亮度計，通過亮度計可對被測oled微型顯示器100的亮度及色坐標進行檢測。進一步地，亮度計的光軸與測試治具1的測試面相垂直，即當被測oled微型顯示器100置于測試治具1上時，被測oled微型顯示器100的顯示面與亮度計相對，且亮度計與被測oled微型顯示器100相離，測試過程中不會出現(xiàn)任何碰觸，這樣即可有效避免因亮度計與被測oled微型顯示器100接觸而損壞被測oled微型顯示器100。

具體實施時，測試治具1將被測oled微型顯示器100置于亮度計的檢測區(qū)域內(nèi)并驅(qū)動點亮被測oled微型顯示器100，亮度計即可采集在其檢測區(qū)域內(nèi)的被測oled微型顯示器100的亮度及色坐標，并將所測得的亮度及色坐標數(shù)據(jù)上傳給上位機5。其中，亮度計的檢測操作由上位機5控制，當亮度計接收到上位機5的控制指令(即檢測指令)時，亮度計即執(zhí)行檢測，并將檢測數(shù)據(jù)上傳給上位機5。

上位機5，與數(shù)據(jù)獲取單元通信連接，用于對數(shù)據(jù)獲取單元獲取的性能參數(shù)進行分析處理、存儲、以及配對等。具體地，上位機5包括數(shù)據(jù)處理單元和顯示單元。

數(shù)據(jù)處理單元與數(shù)據(jù)獲取單元連接，用于處理并存儲數(shù)據(jù)獲取單元獲取的性能參數(shù)，以提供可用于管理或應用的性能參數(shù)?？梢岳斫獾?，數(shù)據(jù)處理單元分別與數(shù)據(jù)獲取單元中的電流參數(shù)獲取模塊3和光學參數(shù)獲取模塊2通過數(shù)據(jù)線纜連接。

具體實施時，上位機5上設置有分別與電流參數(shù)獲取模塊3和光學參數(shù)獲取模塊2對應連接的數(shù)據(jù)接口，通過數(shù)據(jù)接口將電流參數(shù)獲取模塊3采集的電流參數(shù)的數(shù)據(jù)和光學參數(shù)獲取模塊2采集的光學參數(shù)的數(shù)據(jù)(包括亮度和色坐標)傳輸至數(shù)據(jù)處理單元，數(shù)據(jù)處理單元在接收到電流參數(shù)獲取模塊3采集的被測oled微型顯示器100的工作電流后，即記錄被檢測被測oled微型顯示器100的工作電流并計算被檢測被測oled微型顯示器100的功耗。同理，當數(shù)據(jù)處理單元接收到光學參數(shù)模塊采集的被測oled微型顯示器100的亮度及色坐標后，即記錄被檢測被測oled微型顯示器100的亮度及色坐標，并對被檢測被測oled微型顯示器100的亮度及色坐標進行分析處理。

顯示單元，分別與數(shù)據(jù)處理單元和數(shù)據(jù)管理單元連接，用于顯示所采集的電流參數(shù)數(shù)據(jù)、光學參數(shù)數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)處理單元的處理分析結(jié)果、以及數(shù)據(jù)管理單元存儲、查詢或數(shù)據(jù)分析的結(jié)果。

數(shù)據(jù)管理單元，與數(shù)據(jù)處理單元連接，對經(jīng)數(shù)據(jù)處理單元處理的性能參數(shù)數(shù)據(jù)進行存儲、查詢或數(shù)據(jù)分析?？梢岳斫獾兀瑪?shù)據(jù)管理單元可包括數(shù)據(jù)庫，數(shù)據(jù)庫可供數(shù)據(jù)處理單元將處理的數(shù)據(jù)進行記錄，并在其中進行篩選比對，將被檢測被測oled微型顯示器100按預設規(guī)則進行分類及配對，以供特殊客戶需求時做好充分的準備。數(shù)據(jù)庫可設置在上位機5中，也可以設置在服務器中。當將數(shù)據(jù)庫設置在服務器中時，還可實現(xiàn)檢測數(shù)據(jù)的共享，方便查找及配對，此時，上位機5可通過有線或無線的方式與數(shù)據(jù)庫進行通信。

請參閱圖2，圖2是本發(fā)明oled微型顯示器自動檢測方法第一實施例的流程示意圖。該實施例的oled微型顯示器自動檢測方法可通過前述的oled微型顯示器自動檢測系統(tǒng)實現(xiàn)。如圖2所示，該實施例oled微型顯示器自動檢測方法包括以下步驟：

s1、將被測oled微型顯示器100置于檢測區(qū)域內(nèi)，驅(qū)動點亮被測oled微型顯示器100。

在該步驟中，具體實施時，先將需要檢測的被測oled微型顯示器100放置于測試治具1上方，并將被測oled微型顯示器100固定好，然后將被測oled微型顯示器100放置在檢測區(qū)域內(nèi)，并驅(qū)動點亮被測oled微型顯示器100。

s2、獲取被測oled微型顯示器100的性能參數(shù)，該性能參數(shù)包括電流參數(shù)和光學參數(shù)。

在該步驟中，具體實施時，可通過萬用表和亮度計分別檢測被測oled微型顯示器100的電流參數(shù)和光學參數(shù)?？梢岳斫獾?，在步驟s1中將被測oled微型顯示器100置于檢測區(qū)域內(nèi)后，可先將萬用表與測試治具1連接，且測試治具1上設置有與萬用表對應連接的接觸針，在本實施例中，當測試治具1置于檢測區(qū)域內(nèi)時，萬用表即可與設置在測試治具1上對應的接觸針連接，進而實現(xiàn)萬用表與測試治具1的連通，且該種設計方式不需要額外增加測試人員去連接，萬用表可與測試治具1自動接觸(只需要測試治具1放置在預先設定好的位置即可實現(xiàn))，進而可大大提高檢測效率，并可有效避免因人為操作失誤而導致連接錯誤的問題。

進一步地，當在步驟s1中測試治具1驅(qū)動點亮被測oled微型顯示器100后，上位機5即分別向萬用表和亮度計發(fā)出檢測控制指令，萬用表根據(jù)上位機5的檢測控制指令分別采集被測oled微型顯示器100的工作電流，并將所采集到的電流數(shù)據(jù)上傳給上位機5；同理，亮度計根據(jù)上位機5的檢測控制指令采集在其檢測區(qū)域內(nèi)的被測oled微型顯示器100的亮度及色坐標，并將所采集到的亮度及色坐標上傳給上位機5。

s3、處理并存儲性能參數(shù)，以提供可用于管理或應用的性能參數(shù)。

在該步驟中，具體實施例中，可通過上位機5中的數(shù)據(jù)處理單元對獲取單元輸出的性能參數(shù)進行處理。具體地，數(shù)據(jù)處理單元分別與萬用表、亮度計通過設置在上位機5上對應的數(shù)據(jù)接口實現(xiàn)數(shù)據(jù)通信，通過數(shù)據(jù)接口將電流參數(shù)獲取模塊3采集的電流參數(shù)的數(shù)據(jù)和光學參數(shù)獲取模塊2采集的光學參數(shù)的數(shù)據(jù)(包括亮度和色坐標)傳輸至數(shù)據(jù)處理單元，數(shù)據(jù)處理單元在接收到電流參數(shù)獲取模塊3采集的被測oled微型顯示器100的工作電流后，即記錄被檢測被測oled微型顯示器100的工作電流并計算被檢測被測oled微型顯示器100的功耗。同理，當數(shù)據(jù)處理單元接收到光學參數(shù)模塊采集的被測oled微型顯示器100的亮度及色坐標后，即記錄被檢測被測oled微型顯示器100的亮度及色坐標，并對被檢測被測oled微型顯示器100的亮度及色坐標進行分析處理。

如圖3所示，圖3是本發(fā)明另一個實施例中oled微型顯示器自動檢測方法的流程示意圖。與圖2所示實施例的區(qū)別在于，在該實施例中，在步驟s3之后還包括步驟s4，即對經(jīng)過處理的性能參數(shù)進行存儲、查詢或數(shù)據(jù)分析。具體實施是，可通過具備存儲、查詢或數(shù)據(jù)分析功能的數(shù)據(jù)管理單元來實現(xiàn)。其中，數(shù)據(jù)管理單元可包括數(shù)據(jù)庫，該數(shù)據(jù)庫可供數(shù)據(jù)處理單元將處理的數(shù)據(jù)進行記錄，并在其中進行篩選比對，將被檢測oled微型顯示器按預設規(guī)則進行分類及配對，以供特殊客戶需求時做好充分的準備。

可以理解地，數(shù)據(jù)庫可設置在上位機5中，也可以設置在服務器中。當將數(shù)據(jù)庫設置在服務器中時，還可實現(xiàn)檢測數(shù)據(jù)的共享，方便查找及配對，此時，上位機5可通過有線或無線的方式與數(shù)據(jù)庫進行通信。

如圖4所示，圖4是本發(fā)明另一個實施例中oled微型顯示器自動檢測方法的流程示意圖。與圖2所示的實施例的區(qū)別在于，在該實施例中，還可對性能數(shù)據(jù)進行存儲、查詢或數(shù)據(jù)分析的結(jié)果進行顯示。

綜上可見，本發(fā)明的oled微型顯示器自動檢測系統(tǒng)及方法可通過上位機5對萬用表、亮度計進行自動檢測控制，并對萬用表和亮度計采集的數(shù)據(jù)進行自動記錄、計算、分析并輸出分析結(jié)果，且在檢測時亮度計與被檢測的被測oled微型顯示器100不直接接觸，避免了在檢測過程中損壞被檢測被測oled微型顯示器100的問題。另外，上位機5響應速度快、實時可靠，可以重復進行相同的操作，可將人從簡單的重復勞動中解放出來，檢測一致性好、穩(wěn)定性好、檢測效率更高。

另外，通過對所采集的數(shù)據(jù)進行自動計算、比對以及篩選，將所檢測的數(shù)據(jù)與數(shù)據(jù)庫中的現(xiàn)有數(shù)據(jù)進行配對，大大提高了針對有特殊使用需求的客戶的出貨效率，避免了由于測試人員主觀因素造成的人為誤差，不僅可以降低人工成本，還能有效提高準確度。

以上實施例只為說明本發(fā)明的技術構(gòu)思及特點，其目的在于讓熟悉此項技術的人士能夠了解本發(fā)明的內(nèi)容并據(jù)此實施，并不能限制本發(fā)明的保護范圍。凡跟本發(fā)明權利要求范圍所做的均等變化與修飾，均應屬于本發(fā)明權利要求的涵蓋范圍。

應當理解的是，對本領域普通技術人員來說，可以根據(jù)上述說明加以改進或變換，而所有這些改進和變換都應屬于本發(fā)明所附權利要求的保護范圍。