技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種顯示基板的測(cè)試方法及應(yīng)用于顯示設(shè)備的基板，其中該應(yīng)用于顯示設(shè)備的基板包括：基板本體，其一表面形成有多個(gè)組合顯示基板，每個(gè)組合顯示基板包括較大顯示基板與較小顯示基板，且該組合顯示基板外圍區(qū)域設(shè)有測(cè)試線路，該測(cè)試線路包括成膜保證區(qū)與非成膜保證區(qū)；其中，對(duì)應(yīng)不同的顯示基板的測(cè)試走線及測(cè)試跨線交叉密集區(qū)設(shè)于成膜保證區(qū)。本發(fā)明減少了因測(cè)試跨線和測(cè)試走線交叉布線造成的靜電釋放問題。

技術(shù)研發(fā)人員：彭邦銀
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳市華星光電技術(shù)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.06.01
技術(shù)公布日：2017.09.01