本發(fā)明涉及到測繪專業(yè)地圖制圖技術(shù)領(lǐng)域,具體而言,涉及一種鑒定地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)的方法。
背景技術(shù):
近年來地圖制圖技術(shù)和方法快速發(fā)展,但地圖制圖領(lǐng)域從業(yè)人員的專業(yè)技術(shù)水平良莠不齊和個(gè)別責(zé)任心卻缺失,部分地圖產(chǎn)品平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)應(yīng)用錯(cuò)誤,給生產(chǎn)、生活帶來巨大麻煩,例如:北京54坐標(biāo)系地圖誤用西安80坐標(biāo)系坐標(biāo)網(wǎng)、GCS2000坐標(biāo)系地圖誤用西安80坐標(biāo)系坐標(biāo)網(wǎng)、高斯-克呂格投影地圖誤用UTM投影等。
這些錯(cuò)誤通過目視方法是很難鑒定的,目前尚缺少行之有效的方法進(jìn)行快速準(zhǔn)確的鑒定;或者由于部分地圖產(chǎn)品中未標(biāo)明使用的坐標(biāo)系統(tǒng)及投影方式,給地圖的使用帶來極大的困擾。因此,在地圖制圖工作自檢、互檢、驗(yàn)收以及地圖使用等階段,需要準(zhǔn)確且可行的方法對地圖使用的平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)做出鑒定。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種能夠準(zhǔn)確且可行的鑒定地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)的方法,為地圖數(shù)學(xué)基礎(chǔ)的檢查、檢驗(yàn)、鑒定提供便利和依據(jù)。
本發(fā)明通過以下的技術(shù)步驟來實(shí)現(xiàn):
一種鑒定地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)的方法,所述方法包括:
1)、在地圖上獲取標(biāo)志點(diǎn)的實(shí)際值、理論值以及個(gè)數(shù),根據(jù)標(biāo)志點(diǎn)的個(gè)數(shù)確定優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)和非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn),所述標(biāo)志點(diǎn)包括三角點(diǎn)、公里網(wǎng)格交叉點(diǎn)、公里網(wǎng)與經(jīng)緯網(wǎng)交叉點(diǎn)、以及經(jīng)緯網(wǎng)交叉點(diǎn);
2)、根據(jù)所獲取的實(shí)際值和理論值,獲取優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)和非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)獲的殘差值集,根據(jù)優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)獲得異常下限;
3)、根據(jù)殘差值集和異常下限,判斷地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)準(zhǔn)確性:
當(dāng)殘差值集中若存在至少一個(gè)值大于異常下限,則地圖變形誤差超限,結(jié)束檢驗(yàn);
當(dāng)殘差值集中不存在任何一個(gè)值大于異常下限時(shí),則設(shè)置標(biāo)志點(diǎn)集合,繼續(xù)檢驗(yàn),直至所有標(biāo)志點(diǎn)集合都不存在任何一個(gè)值大于異常下限時(shí),則地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)應(yīng)用正確,否則地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)應(yīng)用異常,結(jié)束檢驗(yàn)。
所述步驟1)中根據(jù)標(biāo)志點(diǎn)的個(gè)數(shù)確定優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)和非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)包括:
統(tǒng)計(jì)各個(gè)標(biāo)志點(diǎn)的個(gè)數(shù),個(gè)數(shù)最多的一種類別標(biāo)示為優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn),集合為Y{y1,y2,y3,…yn},n為優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)的個(gè)數(shù),其余全部標(biāo)示為非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)集F{f1,f2,f3…fm},m為全部非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)的個(gè)數(shù)。
當(dāng)公里網(wǎng)與經(jīng)緯網(wǎng)交叉點(diǎn)個(gè)數(shù)最多時(shí),將數(shù)量次多的類別標(biāo)示為優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)。
所述步驟2)具體為:
計(jì)算優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)集Y{y1,y2,y3,…yn}理論值與實(shí)際值之間的殘差值集C{c1,c2,c3,…cn},取殘差值集C平均值X、標(biāo)準(zhǔn)差σ,取異常下限值為X+3σ。
所述步驟3)中當(dāng)殘差值集中若存在至少一個(gè)值大于異常下限,則地圖變形誤差超限具體為:
當(dāng)殘差值集C{c1,c2,c3,…cn}中若存在至少一個(gè)值大于異常下限,則認(rèn)為地圖變形誤差超限,結(jié)束檢驗(yàn)。
當(dāng)殘差值集中不存在任何一個(gè)值大于異常下限時(shí),則設(shè)置標(biāo)志點(diǎn)集合,繼續(xù)檢驗(yàn),具體為:
利用所有優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)和任意一個(gè)非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)的集合H{fi,y1,y2,y3,…yn}求取其對應(yīng)的殘差值集合P{p1,p2,p3,…pn+1},其中,i為計(jì)數(shù)變量,i初始值為1,判斷fi對應(yīng)殘差的值p1是否大于異常下限,若不存在任意一個(gè)fi對應(yīng)殘差的值p1大于異常下限,則地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)使用正確。
所述標(biāo)志點(diǎn)的實(shí)際值獲取包括:
對紙質(zhì)地圖進(jìn)行掃描,掃描成上柵格地圖;在柵格地圖中獲取標(biāo)志點(diǎn)的實(shí)際值。
與現(xiàn)有技術(shù)相比較,本發(fā)明的有益效果為:
本發(fā)明提供了一種鑒定地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)的方法,能夠根據(jù)獲取地圖中的標(biāo)志點(diǎn)信息,進(jìn)行優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)和非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)的劃分以及殘差值集的確定,獲取異常下限,進(jìn)而進(jìn)行地圖變形誤差的判斷,該方法能夠快速、準(zhǔn)確的進(jìn)行地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)的判斷和鑒定,為地圖數(shù)學(xué)基礎(chǔ)的檢查、檢驗(yàn)提供便利和依據(jù),為地圖的繪制工作提供了方便,使得地圖繪制工作更加精準(zhǔn)。
附圖說明
附圖用來提供對本發(fā)明的進(jìn)一步理解,并且構(gòu)成說明書的一部分,與本發(fā)明的實(shí)施例共同用于解釋本發(fā)明,并不構(gòu)成對本發(fā)明的限制。
圖1是本發(fā)明鑒定地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)的方法的流程圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合實(shí)施例及附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的描述。容易理解,根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案,在不變更本發(fā)明的實(shí)質(zhì)精神下,本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員可以提出本發(fā)明的多個(gè)限定閾值和步驟,因此以下具體實(shí)施方式以及附圖僅是本發(fā)明的技術(shù)方案的具體說明,而不應(yīng)當(dāng)視為本發(fā)明的全部或者視為本發(fā)明技術(shù)方案的限定或限制。
實(shí)施例1
本發(fā)明提供了一種鑒定地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)的方法,所述方法包括:
1)、在地圖上獲取標(biāo)志點(diǎn)的實(shí)際值、理論值以及個(gè)數(shù),根據(jù)標(biāo)志點(diǎn)的個(gè)數(shù)確定優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)和非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn),所述標(biāo)志點(diǎn)包括三角點(diǎn)、公里網(wǎng)格交叉點(diǎn)、公里網(wǎng)與經(jīng)緯網(wǎng)交叉點(diǎn)、以及經(jīng)緯網(wǎng)交叉點(diǎn);
其中,三角點(diǎn)理論值由測繪主管部門獲得;公里網(wǎng)格交叉點(diǎn)、公里網(wǎng)與經(jīng)緯網(wǎng)交叉點(diǎn)、經(jīng)緯網(wǎng)交叉點(diǎn)等標(biāo)志點(diǎn)理論值從相關(guān)計(jì)算公式、相關(guān)軟件獲得。在矢量地圖或柵格地圖中獲取標(biāo)志點(diǎn)的實(shí)際值;所述柵格地圖通過對紙質(zhì)地圖進(jìn)行掃描后,得到或?qū)κ噶康貓D進(jìn)行軟件處理后獲得,具體的,在取得紙質(zhì)地圖后通過掃描儀,掃描成分辨率400DPI及以上柵格地圖;或取得矢量地圖后通過相關(guān)軟件輸出400DPI及以上的柵格地圖。在柵格地圖或矢量地圖中獲取標(biāo)志點(diǎn)如三角點(diǎn)、公里網(wǎng)格交叉點(diǎn)、公里網(wǎng)與經(jīng)緯網(wǎng)交叉點(diǎn)、經(jīng)緯網(wǎng)交叉點(diǎn)等標(biāo)志點(diǎn)的實(shí)際值。
所述步驟1)中根據(jù)標(biāo)志點(diǎn)的個(gè)數(shù)確定優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)和非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)包括:
統(tǒng)計(jì)各個(gè)標(biāo)志點(diǎn)的個(gè)數(shù),個(gè)數(shù)最多的一種類別標(biāo)示為優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn),集合為Y{y1,y2,y3,…yn},n為優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)的個(gè)數(shù),其余全部標(biāo)示為非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)集F{f1,f2,f3…fm},m為全部非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)的個(gè)數(shù)。由于公里網(wǎng)與經(jīng)緯網(wǎng)交叉點(diǎn)不能被標(biāo)示為優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn),當(dāng)公里網(wǎng)與經(jīng)緯網(wǎng)交叉點(diǎn)個(gè)數(shù)最多時(shí),將數(shù)量次多的類別標(biāo)示為優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn),集合為Y{y1,y2,y3,…yn},n為優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)的個(gè)數(shù),其余全部標(biāo)示為非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)集F{f1,f2,f3…fm},m為全部非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)的個(gè)數(shù)。
2)、根據(jù)所獲取的實(shí)際值和理論值,獲取優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)和非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)獲的殘差值集,根據(jù)優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)獲得異常下限;
具體為:
計(jì)算優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)集Y{y1,y2,y3,…yn}理論值與實(shí)際值之間的殘差值集C{c1,c2,c3,…cn},取殘差值集C平均值X、標(biāo)準(zhǔn)差σ,取異常下限值為X+3σ;
3)、根據(jù)殘差值集和異常下限,判斷地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)準(zhǔn)確性:
當(dāng)殘差值集中若存在至少一個(gè)值大于異常下限,則地圖變形誤差超限,結(jié)束檢驗(yàn);
當(dāng)殘差值集中不存在任何一個(gè)值大于異常下限時(shí),則設(shè)置標(biāo)志點(diǎn)集合,繼續(xù)檢驗(yàn),直至所有標(biāo)志點(diǎn)集合都不存在任何一個(gè)值大于異常下限時(shí),則地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)應(yīng)用正確,結(jié)束檢驗(yàn)。
具體的,所述步驟3)中當(dāng)殘差值集中若存在至少一個(gè)值大于異常下限,則地圖變形誤差超限具體為:
當(dāng)殘差值集C{c1,c2,c3,…cn}中若存在至少一個(gè)值大于異常下限,則認(rèn)為地圖變形誤差超限,結(jié)束檢驗(yàn)。
當(dāng)殘差值集中不存在任何一個(gè)值大于異常下限時(shí),則設(shè)置標(biāo)志點(diǎn)集合,繼續(xù)檢驗(yàn),直至所有標(biāo)志點(diǎn)集合都不存在任何一個(gè)值大于異常下限時(shí),則地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)應(yīng)用正確,否則地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)應(yīng)用異常,結(jié)束檢驗(yàn),具體為:
若不存在任何一個(gè)值大于異常下限,則繼續(xù):
利用所有優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)和任意一個(gè)非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)的集合H{fi,y1,y2,y3,…yn}求取其對應(yīng)的殘差值集合P{p1,p2,p3,…pn+1},其中,i為計(jì)數(shù)變量,i初始值為1,判斷fi對應(yīng)殘差的值p1是否大于異常下限;若p1大于異常下限,則地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)異常,退出檢驗(yàn);
重復(fù)該步驟,直至所有F{f1,f2,f3…fm}參與檢驗(yàn);若檢驗(yàn)后,F(xiàn){f1,f2,f3…fm}中任一標(biāo)志點(diǎn)對應(yīng)的殘差值均不大于異常下限,則認(rèn)為地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)正確,退出檢驗(yàn)。
本發(fā)明提供了的方法,能夠根據(jù)獲取地圖中的標(biāo)志點(diǎn)信息,進(jìn)行優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)和非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)的劃分以及殘差值集的確定,獲取異常下限,進(jìn)而進(jìn)行地圖變形誤差的判斷,該方法能夠快速、準(zhǔn)確的進(jìn)行地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)的判斷和鑒定,為地圖數(shù)學(xué)基礎(chǔ)的檢查、檢驗(yàn)提供便利和依據(jù),為地圖的繪制工作提供了方便,使得地圖繪制工作更加精準(zhǔn)。
實(shí)施例2
如圖1所示,圖1是本發(fā)明方法的流程圖,該過程具體包括:
步驟100,三角點(diǎn)理論值由測繪主管部門獲得;公里網(wǎng)格交叉點(diǎn)、公里網(wǎng)與經(jīng)緯網(wǎng)交叉點(diǎn)、經(jīng)緯網(wǎng)交叉點(diǎn)等標(biāo)志點(diǎn)理論值從相關(guān)計(jì)算公式、相關(guān)軟件獲得。
步驟101,在矢量地圖或柵格地圖中獲取標(biāo)志點(diǎn)的實(shí)際值;所述柵格地圖通過對紙質(zhì)地圖進(jìn)行掃描后,得到或?qū)κ噶康貓D進(jìn)行軟件處理后獲得,具體的,在取得紙質(zhì)地圖后通過掃描儀,掃描成分辨率400DPI及以上柵格地圖;或取得矢量地圖后通過相關(guān)軟件輸出400DPI及以上的柵格地圖。在柵格地圖或矢量地圖中獲取標(biāo)志點(diǎn)如三角點(diǎn)、公里網(wǎng)格交叉點(diǎn)、公里網(wǎng)與經(jīng)緯網(wǎng)交叉點(diǎn)、經(jīng)緯網(wǎng)交叉點(diǎn)等標(biāo)志點(diǎn)的實(shí)際值。
步驟102,統(tǒng)計(jì)各個(gè)類別標(biāo)志點(diǎn)個(gè)數(shù),如三角點(diǎn)個(gè)數(shù)、公里網(wǎng)格交叉點(diǎn)個(gè)數(shù)、公里網(wǎng)與經(jīng)緯網(wǎng)交叉點(diǎn)個(gè)數(shù)、經(jīng)緯網(wǎng)交叉點(diǎn)個(gè)數(shù)等。個(gè)數(shù)最多的一種類別標(biāo)示為優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn),集合為Y{y1,y2,y3,…yn},n為優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)的個(gè)數(shù);其余全部標(biāo)示為非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)F{f1,f2,f3…fm},m為全部非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)的個(gè)數(shù)。當(dāng)公里網(wǎng)與經(jīng)緯網(wǎng)交點(diǎn)個(gè)數(shù)最多時(shí),取次多數(shù)量的標(biāo)志點(diǎn)類別為優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn),集合為Y{y1,y2,y3,…yn},n為優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)的個(gè)數(shù),其余全部標(biāo)示為非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)集F{f1,f2,f3…fm},m為全部非優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)的個(gè)數(shù);
步驟103,計(jì)算優(yōu)勢標(biāo)志點(diǎn)集Y{y1,y2,y3,…yn}理論值與實(shí)際值之間殘差值集C{c1,c2,c3,…cn}。統(tǒng)計(jì)C{c1,c2,c3,…cn},計(jì)算其平均值X、標(biāo)準(zhǔn)差σ,確定異常下限值為X+3σ。
步驟104,判斷C{c1,c2,c3,…cn}中是否存在至少一個(gè)值大于異常下限,若是,執(zhí)行112步驟;若不存在,執(zhí)行105步驟。
步驟105,設(shè)置計(jì)數(shù)變量i;i初始值為1。
步驟106,求取標(biāo)志點(diǎn)集H{fi,y1,y2,y3,…yn}的殘差值集P{p1,p2,p3,…pn+1},標(biāo)志點(diǎn)fi對應(yīng)的殘差值為p1。
步驟107,判斷p1>X+3σ,若是,則執(zhí)行111步驟;若不是,則執(zhí)行108步驟。
108步驟,判斷i<m,若否,則執(zhí)行110步驟;若是,則執(zhí)行109步驟。
109步驟,計(jì)數(shù)變量自加1,即i=i+1,執(zhí)行106步驟。
110步驟,地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)正確。
111步驟,地圖平面數(shù)學(xué)基礎(chǔ)異常。
112步驟,地圖變形誤差超限。