專利名稱：矩陣式陣列測試轉(zhuǎn)接板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及到一種矩陣式陣列測試轉(zhuǎn)接板，用于測試LCM。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有LCM的測試通過專用的測試儀器，用專用的測試軟件系統(tǒng)，專用的測試連接系統(tǒng)或者用通用的測試軟件系統(tǒng)，通過選擇對應(yīng)的測試軟件來實(shí)現(xiàn)對不同產(chǎn)品的測試，通過各條線路連接到測試連接系統(tǒng)。專用測試儀器缺陷每個產(chǎn)品都專門的測試板，不好管理、存放和查找。通用測試主板帶線路連接測試板的缺陷線路測試板需要用多條線路焊接或插接，很容易混淆，而且線路繁雜，容易出問題，而且出問題不易檢查。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種矩陣式陣列測試轉(zhuǎn)接板，以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在測試費(fèi)時(shí)、費(fèi)力、易出錯以及通用性不強(qiáng)的問題。為達(dá)到本實(shí)用新型的目的所采取的技術(shù)方案是一種矩陣式陣列測試轉(zhuǎn)接板，其特征在于包括板體，板體設(shè)有正面測試金手指、40*44的矩陣陣列焊點(diǎn)區(qū)、兩個標(biāo)準(zhǔn)20pin 連接器焊接區(qū)以及反面測試金手指，所述的40*44的矩陣陣列焊點(diǎn)區(qū)相鄰焊點(diǎn)連接，兩個標(biāo)準(zhǔn)20pin連接器焊接區(qū)通過導(dǎo)線與40*44的矩陣陣列焊點(diǎn)區(qū)相連，40*44的矩陣陣列焊點(diǎn)區(qū)分別與正面測試金手指以及反面測試金手指相連。本實(shí)用新型達(dá)到的有益效果是1、方便進(jìn)行各種金手指接觸式的測試轉(zhuǎn)接板的制作。2、完全杜絕由于人為或存放不當(dāng)原因?qū)е罗D(zhuǎn)接損壞。3、減少制作測試轉(zhuǎn)接板的時(shí)間。 4、降低對測試轉(zhuǎn)接板的制作人員的技術(shù)水平要求。

圖1本實(shí)用新型的正面結(jié)構(gòu)示意圖。圖2本實(shí)用新型的反面結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖更進(jìn)一步說明本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)特征。參照圖1、2，一種矩陣式陣列測試轉(zhuǎn)接板，包括板體1，板體1設(shè)有正面測試金手指 2>40*44的矩陣陣列焊點(diǎn)區(qū)3、兩個標(biāo)準(zhǔn)20pin連接器焊接區(qū)4以及反面測試金手指5，所述的40*44的矩陣陣列焊點(diǎn)區(qū)3相鄰焊點(diǎn)6連接，兩個標(biāo)準(zhǔn)20pin連接器焊接區(qū)4通過導(dǎo)線與40*44的矩陣陣列焊點(diǎn)區(qū)3相連，40*44的矩陣陣列焊點(diǎn)區(qū)3分別與正面測試金手指1 以及反面測試金手指5相連。矩陣式陣列測試轉(zhuǎn)接板起到連接測試主板和測試產(chǎn)品的作用，把測試主板上輸出的信號傳輸?shù)綔y試產(chǎn)品中。對產(chǎn)品進(jìn)行測試。兩個標(biāo)準(zhǔn)的20PIN的排線連接器與兩個標(biāo)準(zhǔn)20pin連接器焊接區(qū)4連接將測試主板到測試轉(zhuǎn)接板間連接。板體1上有一個40*44的矩陣陣列焊點(diǎn)區(qū)3，這些焊點(diǎn)6連接測試主板過來的40個PIN的信號，另外的相鄰焊點(diǎn)6連接用于測試目標(biāo)產(chǎn)品的焊盤，通過對這些相對應(yīng)焊接，把對應(yīng)的線路連接起來，從而實(shí)現(xiàn)測試主板到測試目標(biāo)的連接。在側(cè)邊絲印上相對應(yīng)的從測試主板過來的對應(yīng)信號，在下邊絲印對應(yīng)測試目標(biāo)的焊盤序列，方便尋找焊接。測試焊盤和測試產(chǎn)品的連接，通過壓力來實(shí)現(xiàn)連接。
權(quán)利要求1. 一種矩陣式陣列測試轉(zhuǎn)接板，其特征在于包括板體，板體設(shè)有正面測試金手指、 40*44的矩陣陣列焊點(diǎn)區(qū)、兩個標(biāo)準(zhǔn)20pin連接器焊接區(qū)以及反面測試金手指，所述的 40*44的矩陣陣列焊點(diǎn)區(qū)相鄰焊點(diǎn)連接，兩個標(biāo)準(zhǔn)20pin連接器焊接區(qū)通過導(dǎo)線與40*44的矩陣陣列焊點(diǎn)區(qū)相連，40*44的矩陣陣列焊點(diǎn)區(qū)分別與正面測試金手指以及反面測試金手指相連。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種矩陣式陣列測試轉(zhuǎn)接板，以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在測試費(fèi)時(shí)、費(fèi)力、易出錯以及通用性不強(qiáng)的問題。其特征在于包括板體，板體設(shè)有正面測試金手指、40*44的矩陣陣列焊點(diǎn)區(qū)、兩個標(biāo)準(zhǔn)20pin連接器焊接區(qū)以及反面測試金手指，所述的40*44的矩陣陣列焊點(diǎn)區(qū)相鄰焊點(diǎn)連接，兩個標(biāo)準(zhǔn)20pin連接器焊接區(qū)通過導(dǎo)線與40*44的矩陣陣列焊點(diǎn)區(qū)相連，40*44的矩陣陣列焊點(diǎn)區(qū)分別與正面測試金手指以及反面測試金手指相連。采用本新型達(dá)到降低成本、方便制作以及節(jié)約時(shí)間的有益效果。
文檔編號G09G3/00GK202159472SQ201120304329
公開日2012年3月7日 申請日期2011年8月21日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月21日
發(fā)明者盧建燦, 駱志鋒 申請人:深圳市同興達(dá)科技有限公司