專利名稱：放射線照像圖像捕獲裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及放射線照像圖像捕獲裝置，該放射線照像圖像捕獲裝置具有閃爍器， 用于將放射線轉(zhuǎn)換為熒光；以及光電檢測(cè)器基板，用于將熒光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。
背景技術(shù)：
在醫(yī)療領(lǐng)域中，已經(jīng)廣泛地作為慣例的是，向被檢體施加來自放射線源的放射線， 并且使用構(gòu)成放射線照像圖像捕獲裝置的一部分的放射線檢測(cè)器來檢測(cè)穿過了被檢體的放射線，從而捕獲被檢體的放射線照像圖像。放射線照像圖像捕獲裝置包括閃爍器，用于將已經(jīng)穿過被檢體的放射線轉(zhuǎn)換為熒光；以及光電檢測(cè)器基板，用于將熒光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。 該光電檢測(cè)器基板包括光電檢測(cè)器部件，該光電檢測(cè)器部件包括用于檢測(cè)熒光的光電二極管。
如果光電檢測(cè)器部件的光電二極管由非晶硅(a-Si)等制成，則從熒光轉(zhuǎn)換的電荷(即，電子)的一些變得暫時(shí)被非晶硅的雜質(zhì)能級(jí)(缺陷)捕捉。如果由于可能在長(zhǎng)時(shí)間捕獲移動(dòng)圖像時(shí)引起的光電二極管的溫度上升而導(dǎo)致隨后釋放這樣的捕捉的電子，則往往產(chǎn)生諸如暗電流這樣不需要的電流，可能在生成的被檢體的放射線照像圖像中產(chǎn)生噪聲。 為了解決這個(gè)問題，如在日本提前公開專利公布No. 2008-309517和日本提前公開專利公布No. 2007-225598中所公開的，已經(jīng)提出了一種光復(fù)位處理，用于通過下述方法來降低噪聲在未向被檢體施加放射線時(shí)，即，如果沒有捕獲被檢體的放射線照像圖像，向光電二極管施加復(fù)位光，從而在雜質(zhì)能級(jí)中嵌入電荷，使得在向被檢體施加放射線的情況下，即，在捕獲被檢體的放射線照像圖像的情況下從熒光轉(zhuǎn)換的電荷將不被雜質(zhì)能級(jí)捕捉。
根據(jù)日本提前公開專利公布No. 2008-309517,閃爍器、光電檢測(cè)器基板和復(fù)位光源被以此順序布置，并且從復(fù)位光源發(fā)射的復(fù)位光被施加到光電檢測(cè)器基板的光電檢測(cè)器部件。根據(jù)日本提前公開專利公布No. 2007-225598,反射層、復(fù)位光源、閃爍器、光電檢測(cè)器部件和光吸收層被以此順序布置，并且從復(fù)位光源發(fā)射的復(fù)位光經(jīng)由閃爍器被施加到光電檢測(cè)器基板的光電檢測(cè)器部件。發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)日本提前公開專利公布No. 2008-309517,由閃爍器從放射線轉(zhuǎn)換的熒光被直接地施加到光電檢測(cè)器基板。熒光的一部分穿過光電檢測(cè)器基板，并且被復(fù)位光源的黑色顏料吸收。從而，防止放射線照像圖像被復(fù)位光源對(duì)于熒光的反射變模糊。
根據(jù)日本提前公開專利公布No. 2007-225598，由閃爍器從放射線轉(zhuǎn)換的熒光被直接地施加到光電檢測(cè)器基板，或經(jīng)由復(fù)位光源被反射層反射，并且其后經(jīng)由復(fù)位光源和閃爍器被施加到光電檢測(cè)器基板。熒光的一部分穿過光電檢測(cè)器基板到達(dá)光吸收層，光吸收層吸收所施加的熒光。從而，防止放射線照像圖像被朝向光電檢測(cè)器基板的熒光的反射和散射變模糊。
在捕獲被檢體的例如移動(dòng)的放射線照像圖像的放射線照像圖像的情況下，期望盡可能提高光電檢測(cè)器基板關(guān)于熒光的靈敏度，以便減少向被檢體施加的放射線的劑量。
然而，根據(jù)日本提前公開專利公布No. 2008-309517,因?yàn)榇┻^光電檢測(cè)器基板到復(fù)位光源的熒光的一部分被其黑色顏料吸收，所以減少了由光電檢測(cè)器基板轉(zhuǎn)換為電信號(hào)的熒光的量。因?yàn)楹谏伭衔諢晒獾囊徊糠忠苑乐箞D像變得模糊，所以不能增大光電檢測(cè)器基板關(guān)于熒光的靈敏度。
根據(jù)日本提前公開專利公布No. 2007-225598，因?yàn)榇┻^光電檢測(cè)器基板到光吸收層的熒光的一部分也被吸收以便防止圖像變得模糊，所以減少了由光電檢測(cè)器基板轉(zhuǎn)換為電信號(hào)的熒光的量，并且不能增大光電檢測(cè)器基板關(guān)于熒光的靈敏度。
本發(fā)明的目的是提供一種放射線照像圖像捕獲裝置，其能夠充分地向光電檢測(cè)器基板施加復(fù)位光，并且提聞光電檢測(cè)器基板關(guān)于突光的靈敏度，同時(shí)也防止捕獲的放射線照像圖像變得模糊。
為了實(shí)現(xiàn)上面的目的，根據(jù)本發(fā)明，提供了一種放射線照像圖像捕獲裝置，包括
閃爍器，用于將放射線轉(zhuǎn)換為熒光；
光電檢測(cè)器基板，用于將突光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)；
復(fù)位光源，用于向光電檢測(cè)器基板施加復(fù)位光；以及
切換濾光器，其對(duì)于復(fù)位光選擇性地可透過和不可透過，
其中，復(fù)位光源、切換濾光器、光電檢測(cè)器基板和閃爍器以此順序布置，并且
如果使得切換濾光器對(duì)于復(fù)位光可透過，則切換濾光器向光電檢測(cè)器基板施加復(fù)位光，并且如果使得切換濾光器對(duì)于復(fù)位光不可透過，則切換濾光器朝向光電檢測(cè)器基板至少反射熒光。
對(duì)于上面的布置，如果切換濾光器被切換到對(duì)于復(fù)位光的可透過狀態(tài)，則復(fù)位光源可以向光電檢測(cè)器基板施加復(fù)位光，用于對(duì)光電檢測(cè)器基板充分地執(zhí)行光復(fù)位處理。
如果切換濾光器被切換到對(duì)于復(fù)位光不可透過的狀態(tài)，則由閃爍器從放射線轉(zhuǎn)換的熒光到達(dá)光電檢測(cè)器基板。在這樣的熒光中，朝向復(fù)位光源傳播的熒光部分被切換濾光器朝向光電檢測(cè)器反射。反射光被施加到光電檢測(cè)器基板，而不到達(dá)復(fù)位光源。結(jié)果，光電檢測(cè)器基板可以獲得不模糊的高質(zhì)量放射線照像圖像，并且可以增加向光電檢測(cè)器基板施加的熒光量，從而增大光電檢測(cè)器關(guān)于熒光的靈敏度。
因此，根據(jù)本實(shí)施例，因?yàn)閺?fù)位光源、切換濾光器、光電檢測(cè)器基板和閃爍器以此順序順次地布置，并且使得切換濾光器對(duì)于復(fù)位光選擇性地可透過和不可透過，所以可以對(duì)光電檢測(cè)器基板充分地執(zhí)行光復(fù)位處理，并且也可以提高光電檢測(cè)器基板關(guān)于可見光的靈敏度，同時(shí)防止放射線照像圖像變得模糊。
閃爍器將已經(jīng)穿過被檢體的放射線轉(zhuǎn)換為突光。光電檢測(cè)器基板將突光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，該電信號(hào)表示被檢體的放射線照像圖像。切換濾光器能夠基于關(guān)于捕獲被檢體的放射線照像圖像的圖像捕獲指令來選擇性地切換到透明狀態(tài)(可透過狀態(tài))，其對(duì)于復(fù)位光能夠透過；和鏡面狀態(tài)(不可透過狀態(tài))，其將熒光朝向光電檢測(cè)器基板反射，并且也將復(fù)位光朝向復(fù)位光源反射。
依賴于對(duì)于被檢體的圖像捕獲方法(靜止圖像捕獲模式或移動(dòng)圖像捕獲模式)， 切換濾光器可以保持在透明狀態(tài)或鏡面狀態(tài)，或可以切換到透明狀態(tài)或鏡面狀態(tài)，從而可靠地并有效地對(duì)光電檢測(cè)器基板執(zhí)行光復(fù)位處理，并且以高靈敏度來獲取被防止模糊的高質(zhì)量放射線照像圖像。如果在鏡面狀態(tài)的切換濾光器將熒光朝向光電檢測(cè)器基板反射，則增加了向光電檢測(cè)器基板施加的熒光量。結(jié)果，可以減少向被檢體施加的放射線量，以便減少向被檢體施加的放射線劑量。
更具體地，期望放射線照像圖像捕獲裝置將切換濾光器保持在透明狀態(tài)或鏡面狀態(tài)，或根據(jù)圖像捕獲指令來將切換濾光器切換到透明狀態(tài)或鏡面狀態(tài)，如下面在情況[I] 至[5]中所述。
[I]如果圖像捕獲指令包括用于捕獲至少一個(gè)靜止圖像的靜止圖像捕獲模式或具有比幀速率閾值低的幀速率的移動(dòng)圖像捕獲模式，則將切換濾光器保持在鏡面狀態(tài)。
具體地說，上面的圖像捕獲模式要求以高靈敏度來獲取高質(zhì)量的放射線照像圖像。因?yàn)樵谏鲜鰣D像捕獲模式中的圖像捕獲間隔相對(duì)較長(zhǎng)，所以光電二極管的溫度不顯著上升，并且預(yù)計(jì)再次被釋放的由雜質(zhì)能級(jí)捕捉的電荷所引起的噪聲不顯著地影響所捕獲的放射線照像圖像。
如果接收到上面的圖像捕獲指令，則將切換濾光器保持在鏡面狀態(tài)以將光復(fù)位處理保持為停止，并且也將由閃爍器從放射線轉(zhuǎn)換的熒光朝向光電檢測(cè)器基板反射，從而增大向光電檢測(cè)器基板施加的熒光的量。結(jié)果，在情況[I]中，有可能容易地以高靈敏度獲取低噪聲、高質(zhì)量的放射線照像圖像，該放射線照像圖像被防止變得模糊。
[2]如果圖像捕獲指令包括移動(dòng)圖像捕獲模式，則在使用放射線來照射被檢體時(shí)將切換濾光器在每一個(gè)幀中保持在鏡面狀態(tài)，并且如果未使用放射線來照射被檢體則保持在透明狀態(tài)，從而，切換濾光器在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間順次地切換。
因?yàn)榍袚Q濾光器在一個(gè)幀中順次地在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間切換，如果使用放射線來照射被檢體，則將切換濾光器保持在透明狀態(tài)，以將可見光可靠地朝向光電檢測(cè)器基板反射，從而增大向光電檢測(cè)器基板施加的熒光量。如果未使用放射線來照射被檢體，則切換濾光器保持在透明狀態(tài)以對(duì)光電檢測(cè)器基板充分地執(zhí)行光復(fù)位處理。
因此，在移動(dòng)圖像捕獲模式中，切換濾光器在一個(gè)幀中在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間交替地切換，從而以高靈敏度獲取高質(zhì)量放射線照像圖像，并且也減少所獲取的放射線照像圖像中的噪聲。如果切換濾光器具有可以充分地趕上移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率的切換時(shí)間，即，如果切換濾光器具有比圖像捕獲周期之間的時(shí)間間隔短的切換時(shí)間，則切換濾光器可以在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間交替地切換。
[3]如果圖像捕獲指令包括移動(dòng)圖像捕獲模式和用于捕獲至少一個(gè)靜止圖像的靜止圖像捕獲模式，則切換濾光器在靜止圖像捕獲模式中保持在鏡面狀態(tài)，并且在移動(dòng)圖像捕獲模式中保持在鏡面狀態(tài)，或在移動(dòng)圖像捕獲模式中在每一個(gè)幀中如果使用放射線來照射被檢體則保持在鏡面狀態(tài)，而如果不使用放射線來照射被檢體則保持在透明狀態(tài)，從而， 切換濾光器在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間順次地切換，
切換濾光器從在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間順次的切換切換到鏡面狀態(tài)，并且在移動(dòng)圖像捕獲模式被切換到靜止圖像捕獲模式的時(shí)刻進(jìn)一步保持在鏡面狀態(tài)，并且
切換濾光器從鏡面狀態(tài)切換到在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間順次地切換，或在靜止圖像捕獲模式切換到移動(dòng)圖像捕獲模式的時(shí)刻進(jìn)一步保持在鏡面狀態(tài)。
通過將切換濾光器保持在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之一，或在圖像捕獲模式，即，靜止圖像捕獲模式或移動(dòng)圖像捕獲模式之間發(fā)生切換的時(shí)刻將切換濾光器在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間切換，能夠根據(jù)圖像捕獲方法來可靠地獲取最佳放射線照像圖像。
[4]如果圖像捕獲指令包括具有比幀速率閾值低的幀速率的第一移動(dòng)圖像捕獲模式和具有比幀速率閾值高的幀速率的第二移動(dòng)圖像捕獲模式，
則切換濾光器在第一移動(dòng)圖像捕獲模式中保持在鏡面狀態(tài)，或在第二移動(dòng)圖像捕獲模式中在每一個(gè)幀中如果使用放射線來照射被檢體則保持在鏡面狀態(tài)并且如果未使用放射線來照射被檢體則保持在透明狀態(tài)，從而切換濾光器在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間順次地切換，并且
切換濾光器在第一移動(dòng)圖像捕獲模式切換到第二移動(dòng)圖像捕獲模式的時(shí)刻從鏡面狀態(tài)切換到在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間順次地切換，或在第二移動(dòng)圖像捕獲模式切換到第一移動(dòng)圖像捕獲模式的時(shí)刻從在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間順次地切換切換到鏡面狀態(tài)。
因此，即使圖像捕獲指令在放射線照像圖像捕獲處理期間改變了其幀速率，也可以通過在改變幀速率的時(shí)刻對(duì)切換濾光器進(jìn)行切換來可靠地獲取依賴于幀速率的最佳放射線照像圖像。
幀速率閾值指的是用于確定是否要求光復(fù)位處理的閾值。如果在圖像捕獲指令中包括的移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率高于幀速率閾值，則確定要求光復(fù)位處理。另一方面，如果在圖像捕獲指令中包括的移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率低于幀速率閾值，則確定不要求光復(fù)位處理。
結(jié)果，如果移動(dòng)圖像捕獲模式具有比幀速率閾值高的幀速率，因此要求光復(fù)位處理，并且如果切換濾光器能夠以趕上幀速率的方式在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間切換，則切換濾光器在一個(gè)幀中在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間順次地切換，從而使得能夠在未使用放射線來照射被檢體時(shí)在圖像捕獲周期之間可靠地執(zhí)行光復(fù)位處理。
[5]如果圖像捕獲指令進(jìn)一步包括用于捕獲至少一個(gè)靜止圖像的靜止圖像捕獲模式，則切換濾光器在靜止圖像捕獲模式中保持在鏡面狀態(tài)，并且在移動(dòng)圖像捕獲模式之一切換為靜止圖像捕獲模式的時(shí)刻從切換濾光器依賴于移動(dòng)圖像捕獲模式之一的狀態(tài)切換為鏡面狀態(tài)，或者，在靜止圖像捕獲模式切換為移動(dòng)圖像捕獲模式之一的時(shí)刻從鏡面狀態(tài)切換到切換濾光器依賴于移動(dòng)圖像捕獲模式之一的狀態(tài)。
因此，即使圖像捕獲指令包括靜止圖像捕獲模式，也可以通過如上所述對(duì)切換濾光器進(jìn)行切換來在圖像捕獲模式的每一個(gè)中容易地獲取最佳的放射線照像圖像。
在上述放射線照像圖像捕獲裝置中，光電檢測(cè)器基板包括多個(gè)用于將熒光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)的光電檢測(cè)器部件，并且切換濾光器具有在其一部分中限定的窗口，用于總是將復(fù)位光通過該窗口。如果復(fù)位光源通過窗口將復(fù)位光施加到面向窗口的光電檢測(cè)器部件之一，則使用復(fù)位光照射的光電檢測(cè)器部件檢測(cè)由復(fù)位光產(chǎn)生的暗電流信號(hào)，并且切換濾光器基于光電檢測(cè)器部件的溫度和圖像捕獲指令來切換到鏡面狀態(tài)或透明狀態(tài)，光電檢測(cè)器部件的溫度依賴于暗電流信號(hào)。
由雜質(zhì)能級(jí)捕捉的噪聲級(jí)隨著光電檢測(cè)器部件的溫度而改變，所述光電檢測(cè)器部件具有由a-Si等制成的光電二極管的形式。因此，可以下述方式來依賴于光電檢測(cè)器部件的溫度上的改變有效地減少噪聲基于溫度來將切換濾光器切換到鏡面狀態(tài)或透明狀態(tài)， 所述溫度依賴于暗電流信號(hào)和圖像捕獲指令，如上所述。
優(yōu)選的是，切換濾光器包括光調(diào)節(jié)鏡膜層，其被電控制來對(duì)復(fù)位光可透過或不可透過。切換濾光器包括對(duì)復(fù)位光可透過的透明基底，并且，光調(diào)節(jié)鏡膜層布置在透明基底上。光電檢測(cè)器基板布置在光調(diào)節(jié)鏡膜層的一側(cè)，并且復(fù)位光源布置在透明基底的一側(cè)。因此，切換濾光器可以容易地并有效地切換到可透過狀態(tài)或不可透過狀態(tài)(鏡面狀態(tài))。
復(fù)位光源可以包括面向光電檢測(cè)器基板布置的發(fā)光元件陣列、背光或電致發(fā)光光源，并且在其間插入了切換濾光器。
所述背光包括導(dǎo)光板，布置在遠(yuǎn)離光電檢測(cè)器基板的切換濾光器一側(cè)；光源，布置在導(dǎo)光板的一側(cè)；反射片，圍繞導(dǎo)光板和光源布置；以及擴(kuò)散片，面向切換濾光器布置在導(dǎo)光板的表面上。光源向?qū)Ч獍迨┘庸猓⑶沂┘拥綄?dǎo)光板的光在反射片和擴(kuò)散片的表面之間的導(dǎo)光板中重復(fù)地反射，并且其后，光作為復(fù)位光從擴(kuò)散片射向切換濾光器。
背光使得能夠?qū)⒐庠捶胖迷谖词褂梅派渚€照射的區(qū)域中。因此，防止光源被放射線變差。光源可以包括發(fā)光二極管或冷陰極射線管。
如果復(fù)位光源具有有機(jī)電致發(fā)光光源的形式，則可以使得復(fù)位光源輪廓較低。
在上面的放射線照像圖像捕獲裝置中，閃爍器和光電檢測(cè)器基板可以通過結(jié)合層彼此結(jié)合，閃爍器和光電檢測(cè)器基板可以通過粘結(jié)層彼此粘結(jié)，閃爍器可以直接沉積在光電檢測(cè)器基板上，或光電檢測(cè)器基板可以直接形成在閃爍器上。
在閃爍器已經(jīng)沉積在光電檢測(cè)器基板上后，閃爍器的遠(yuǎn)端部分和光電檢測(cè)器基板可以通過結(jié)合層彼此結(jié)合或通過粘結(jié)層彼此粘結(jié)。
光電檢測(cè)器基板可以包括光電檢測(cè)器部件，用于將熒光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)；以及轉(zhuǎn)換元件，用于從光電檢測(cè)器部件讀取電信號(hào)。在光電檢測(cè)器部件和轉(zhuǎn)換元件已經(jīng)沉積在基底上并且在其間插入剝離層后，光電檢測(cè)器基板可以被轉(zhuǎn)移到閃爍器內(nèi)，并且在其間插入結(jié)合層或粘結(jié)層，可以從所轉(zhuǎn)移的光電檢測(cè)器基板剝離基底和剝離層，并且其后，可以將切換濾光器布置在已經(jīng)從中剝離了基底和剝離層的光電檢測(cè)器基板的表面上。
可以以除了如上所述之外的方式來制造放射線照像圖像捕獲裝置。更具體地，光電檢測(cè)器基板可以包括光電檢測(cè)器部件，用于將熒光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)；以及轉(zhuǎn)換元件，用于從光電檢測(cè)器部件讀取電信號(hào)。如果閃爍器直接沉積在光電檢測(cè)器基板上或光電檢測(cè)器基板直接形成在閃爍器上，則光電檢測(cè)器部件可以由有機(jī)光電導(dǎo)體或非晶氧化物半導(dǎo)體制成，并且轉(zhuǎn)換元件可以由有機(jī)半導(dǎo)體、非晶氧化物半導(dǎo)體或碳納米管制成。因此，光電檢測(cè)器部件和轉(zhuǎn)換部件可以在低溫下沉積為膜。
更具體地，如果閃爍器直接沉積在光電檢測(cè)器基板上，則光電檢測(cè)器部件和轉(zhuǎn)換元件可以形成在基底上，并且其后，閃爍器可以沉積在光電檢測(cè)器部件和轉(zhuǎn)換元件上。如果光電檢測(cè)器基板直接形成在閃爍器上，則閃爍器可以沉積在蒸發(fā)的基板上，并且其后，光電檢測(cè)器部件和轉(zhuǎn)換元件可以形成在閃爍器的遠(yuǎn)端部分。
放射線照像圖像捕獲裝置可以進(jìn)一步包括傾斜光阻擋層，用于阻擋相對(duì)于施加放射線的方向傾斜傳播的熒光，所述傾斜光阻擋層插入在光電檢測(cè)器基板和閃爍器之間。因此能夠提高光電檢測(cè)器基板關(guān)于熒光的靈敏度，并且防止放射線照像圖像變得模糊。
復(fù)位光源、切換濾光器、光電檢測(cè)器基板和閃爍器以此順序順次地布置，或者替代地，閃爍器、光電檢測(cè)器基板、切換濾光器和復(fù)位光源沿著施加放射線的方向以此順序順次地布置。
如果復(fù)位光源、切換濾光器、光電檢測(cè)器基板和閃爍器沿著施加放射線的方向以此順序順次地布置，則切換濾光器可以保持在鏡面狀態(tài)，從而至少當(dāng)施加放射線時(shí)在朝向光電檢測(cè)器基板反射突光的同時(shí)朝向復(fù)位光源反射復(fù)位光。
通過下面結(jié)合附圖的描述，本發(fā)明的上面和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)將變得更清楚， 在附圖中，通過說明性示例示出了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例。


圖I是根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的放射線照像圖像捕獲系統(tǒng)的示意圖，部分以框圖形式，該放射線照像圖像捕獲系統(tǒng)中包括電子暗盒(放射線照像圖像捕獲裝置)；
圖2是在圖I中所示的電子暗盒的透視圖3A和3B是沿著圖2的線III-III所取的圖2中所示的電子暗盒的截面圖4A和4B是在圖3A中所示的電子暗盒(根據(jù)第一示例和第二示例的電子暗盒) 在其放射線檢測(cè)器附近的放大的局部截面圖5A和5B是在圖3B中所示的電子暗盒(根據(jù)第三示例和第四示例的電子暗盒) 在其放射線檢測(cè)器附近的放大的局部截面圖；
圖6A是電子暗盒在其放射線檢測(cè)器附近的放大的局部截面圖；圖68是電子暗盒在復(fù)位光源、切換濾光器和光電檢測(cè)器基板附近的放大的局部 截面圖；圖7A和7B是電子暗盒在復(fù)位光源、切換濾光器和光電檢測(cè)器基板附近的放大的 局部截面圖；圖8A和8B是電子暗盒在復(fù)位光源、切換濾光器和光電檢測(cè)器基板附近的放大的 局部截面圖；圖9A是示出在基底上形成光電檢測(cè)器部件和轉(zhuǎn)換部件的方式的截面圖；圖9B是示出形成平坦膜的方式的截面圖；圖IOA是示出光電檢測(cè)器基板結(jié)合或粘結(jié)到閃爍器的方式的截面圖；圖IOB是示出從光電檢測(cè)器基板剝離基底和剝離層的方式的截面圖；圖11是示出切換濾光器的截面圖；圖12A和12B是示出使得切換濾光器進(jìn)入透明狀態(tài)的方式的截面圖；圖13A和1 是示出使得切換濾光器進(jìn)入鏡面狀態(tài)的方式的截面圖；圖14A和14B是截面圖，每一個(gè)示出切換濾光器和復(fù)位光源；圖15A是復(fù)位光源的平面圖；圖15B是示出切換濾光器和復(fù)位光源的截面圖；圖16是示出切換濾光器和復(fù)位光源的截面圖；圖17是圖1中所示的電子暗盒的電子布置示意圖，部分以框圖的形式；圖18是圖1中所示的放射線照像圖像捕獲系統(tǒng)的基本操作序列的流程圖；圖19是圖1中所示的放射線照像圖像捕獲系統(tǒng)的基本操作序列的流程圖；圖20是切換濾光器的切換序列和復(fù)位序列的流程圖；圖21是切換濾光器的切換序列和復(fù)位序列的流程圖；圖22是示出幀速率閾值如何隨光電二極管的溫度變化的曲線；圖23A是示出從靜止圖像捕獲模式到移動(dòng)圖像捕獲模式的切換的時(shí)序圖；CN 102525500 A
圖23B是示出從移動(dòng)圖像捕獲模式到靜止圖像捕獲模式的切換的時(shí)序圖23C是示出在靜止圖像捕獲模式、低速率移動(dòng)圖像捕獲模式和高速率移動(dòng)圖像捕獲模式之間的切換的時(shí)序圖24是用于確定圖像捕獲指令的操作序列的流程圖
圖25是切換濾光器的切換序列和復(fù)位序列的流程圖
圖26是切換濾光器的切換序列和復(fù)位序列的流程圖
圖27是切換濾光器的切換序列和復(fù)位序列的流程圖
圖28是切換濾光器的切換序列和復(fù)位序列的流程圖
圖29A是在切換濾光器上設(shè)置的窗口的平面圖29B是示出其上具有窗口的切換濾光器運(yùn)行的方式的局部圖30A和30B是示出根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例的電子暗盒在其放射線檢測(cè)器附近的局部截面圖31A和31B是示出根據(jù)第二示例的電子暗盒在其放射線檢測(cè)器附近的局部截面圖32A是示出在基底上形成結(jié)合層或粘結(jié)層并且在其間插入剝離層的方式的截面圖32B是示出在基底上沉積轉(zhuǎn)換部件和光電檢測(cè)器部件并且在其間插入剝離層和結(jié)合層或粘結(jié)層的方式的截面

圖；以及
圖。圖32C是示出形成平坦膜的方式的截面圖；圖33A是示出沉積閃爍器的方式的截面圖；圖33B是示出形成防潮保護(hù)膜的方式的截面圖；圖34A是示出從光電檢測(cè)器基板剝離基底和剝離層的方式的截面圖；圖34B是示出將切換濾光器結(jié)合或粘結(jié)到光電檢測(cè)器基板的方式的截面圖；圖35A和35B是示出根據(jù)第三示例的電子暗盒在其放射線檢測(cè)器附近的局部截面圖36A和36B是示出根據(jù)第四示例的電子暗盒在其放射線檢測(cè)器附近的局部截面具體實(shí)施方式
下面將參考圖I至36B來詳細(xì)描述根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例的放射線照像圖像捕o
第一實(shí)施例的布置
圖I是根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的放射線照像圖像捕獲系統(tǒng)10的示意圖，部分以框圖形式，該放射線照像圖像捕獲系統(tǒng)中包括電子暗盒(放射線照像圖像捕獲裝置)20。
如圖I中所示，放射線照像圖像捕獲系統(tǒng)10包括放射線輸出部件18，用于向躺在諸如床等的圖像捕獲基底12上的諸如病人的被檢體14施加放射線16 ;電子暗盒20，用于檢測(cè)已經(jīng)穿過被檢體14的放射線16，并且將所檢測(cè)的放射線轉(zhuǎn)換為放射線照像圖像；控制臺(tái)22，用于整體控制放射線照像圖像捕獲系統(tǒng)10，并且從醫(yī)生或放射技術(shù)人員(以下稱為“醫(yī)生”)接收輸入行為；以及顯示部件24，用于顯示所捕獲的放射線照像圖像等等。
放射線輸出部件18、電子暗盒20、控制臺(tái)22和顯示部件24通過遵循諸如UWB (超寬帶)或IEEE802. ll.a/b/g/n.等的標(biāo)準(zhǔn)的無線LAN或使用毫米波的無線通信來相對(duì)于彼此發(fā)送和接收信號(hào)。放射線輸出部件18、電子暗盒20、控制臺(tái)22和顯示部件24也可以通過經(jīng)由線纜的有線通信來相對(duì)于彼此發(fā)送和接收信號(hào)。
控制臺(tái)22連接到放射信息系統(tǒng)(RIS)26，RIS 26通常管理由醫(yī)院的放射科處理的放射線照像圖像和其他信息。RIS 26連接到醫(yī)院信息系統(tǒng)(HIS)28，HIS 28通常管理在醫(yī)院中的醫(yī)療信息。
放射線輸出部件18具有放射線源30，用于發(fā)射放射線16 ;放射線源控制器32， 用于控制放射線源30 ；以及放射線開關(guān)34。從放射線源30發(fā)射的放射線16可以是X射線、a射線、P射線、Y射線或電子束等?？梢砸詢蓚€(gè)行程來按壓放射線開關(guān)34，S卩，可以以半程和全程來按壓放射線開關(guān)34。如果醫(yī)生以半程按壓放射線開關(guān)34，則放射線開關(guān)34 向放射線源控制器32發(fā)送信號(hào)，以準(zhǔn)備放射線源30來發(fā)射放射線16。如果以全程來按壓放射線開關(guān)34，則放射線開關(guān)34向放射線源控制器32發(fā)送信號(hào)，以使得放射線源30能夠開始發(fā)射放射線16。
因?yàn)榉派渚€輸出部件18、電子暗盒20、控制臺(tái)22和顯示部件24可以相對(duì)于彼此發(fā)送和接收信號(hào)，所以放射線輸出部件18可以如果醫(yī)生以半程按壓放射線開關(guān)34則向控制臺(tái)22發(fā)送用于指示使放射線源30準(zhǔn)備發(fā)射放射線16的信號(hào)，并且如果醫(yī)生以全程按壓放射線開關(guān)34則向控制臺(tái)22發(fā)送用于指示放射線源30能夠發(fā)射放射線16的信號(hào)。
圖2是在圖I中所示的電子暗盒20的透視圖，并且圖3A和3B是沿著圖2的線 III-III所取的圖2中所示的電子暗盒20的截面圖。
電子暗盒20具有面板40和在面板40上布置的控制器42。面板40比控制器42薄。
面板40包括由放射線16能透過的材料制成的大體矩形的殼體44(見圖I)。面板40具有上照射表面46，使用放射線16來照射上照射表面46。上照射表面46具有大體布置在其中心的標(biāo)線48，該標(biāo)線48起到對(duì)于被檢體14的圖像捕獲區(qū)域和圖像捕獲位置的參考的作用。標(biāo)線48包括外框，用于表示圖像捕獲區(qū)域50，圖像捕獲區(qū)域50指示要在上照射表面46上以放射線16照射的照射場(chǎng)。標(biāo)線48具有在圖像捕獲區(qū)域50的中心位置的中心位置,在此處標(biāo)線48以十字形圖案彼此相交。
電子暗盒20也在其接近控制器42的一側(cè)上具有把手52，以供醫(yī)生抓握。醫(yī)生可以握著把手52，并且將電子暗盒20移到期望的位置，例如，圖像捕獲基底12。因此，電子暗盒20用作便攜放射線照像圖像捕獲裝置。
控制器42包括由對(duì)放射線16不可透過的材料制成的大體矩形的殼體54。外殼 54沿著上照射表面46的一端延伸，并且控制器42被布置在圖像捕獲區(qū)域50外部的上照射表面46上。外殼54在其上表面上具有觸摸板形式的顯不器控制面板56,以供醫(yī)生輸入各種信息項(xiàng)目；以及揚(yáng)聲器58,用于輸出用于表不對(duì)醫(yī)生的各種通知的聲音。外殼54也在其側(cè)表面上具有例如，AC適配器輸入端子60，從外部電源向其供應(yīng)充電功率；以及USB端子62，其用作用于向諸如控制臺(tái)22的外部部件發(fā)送信息和從其接收信息的接口。
如圖3A和3B中所示，外殼44在其中容納放射線檢測(cè)器70，用于將放射線16轉(zhuǎn)換為放射線照像圖像。
放射線檢測(cè)器70包括間接轉(zhuǎn)換型放射線檢測(cè)器，該間接轉(zhuǎn)換型放射線檢測(cè)器包括光電檢測(cè)器基板72、閃爍器74、切換濾光器76和復(fù)位光源78?；旧?，復(fù)位光源78、切換濾光器76、光電檢測(cè)器基板72和閃爍器74以此順序從上照射表面46順次地布置，如圖 3A中所示。
閃爍器74將穿過了被檢體14的放射線16轉(zhuǎn)換為熒光，例如，在可見光范圍或紫外線范圍中的熒光。在之后述的圖13A和13B中，閃爍器74將放射線16轉(zhuǎn)換為可見光130。 在下面的描述中，假定閃爍器74將放射線16轉(zhuǎn)換為可見光130，除非另外說明。
光電檢測(cè)器基板72將作為突光的可見光130轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。復(fù)位光源78向光電檢測(cè)器基板72施加復(fù)位光132 (見圖12A至14B、15B和16)，以便光電檢測(cè)器基板72的復(fù)位光電檢測(cè)器部件94(見圖6A至SB)。切換濾光器76能夠選擇性地在透射狀態(tài)和阻擋狀態(tài)之間切換，在透射狀態(tài)中，切換濾光器76使復(fù)位光132從其中通過，在阻擋狀態(tài)中，切換濾光器76阻擋復(fù)位光132透射。
依賴于沿著施加放射線16的方向布置復(fù)位光源78、切換濾光器76、光電檢測(cè)器基板72和閃爍器74的順序，根據(jù)本實(shí)施例的電子暗盒20可被用作根據(jù)四個(gè)示例的不同電子暗盒，即，作為根據(jù)第一至第四示例的電子暗盒20A至20D。
圖3A示出根據(jù)第一和第二示例的電子暗盒20A、20B。電子暗盒20A、20B的每一個(gè)是直接轉(zhuǎn)換型放射線照像圖像捕獲裝置，其中，放射線檢測(cè)器70是ISS(照射側(cè)采樣)型， 即，正面讀出型，其包括復(fù)位光源78、切換濾光器76、光電檢測(cè)器基板72和閃爍器74，它們以此順序沿著施加放射線16(見圖1、4A至5B)的方向順次地布置。
圖3B示出根據(jù)第三和第四示例的電子暗盒20C、20D。電子暗盒20C、20D的每一個(gè)是間接轉(zhuǎn)換型放射線照像圖像捕獲裝置，其中，放射線檢測(cè)器70是PSS (穿透?jìng)?cè)采樣)型， 即，反面讀出型，其包括閃爍器74、光電檢測(cè)器基板72、切換濾光器76和復(fù)位光源78，它們以此順序沿著施加放射線16的方向順次地布置。
下面將分別參考圖4A至5B描述根據(jù)第一至第四示例的電子暗盒20A至20D的基本結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。圖4至5B是在外殼44中的放射線檢測(cè)器70附近的電子暗盒20A至20D的局部截面圖。
在根據(jù)第一至第四示例的電子暗盒20A至20D的每一個(gè)中，放射線檢測(cè)器70被布置在作為頂板的上照射表面46和底側(cè)上遠(yuǎn)離上照射表面46的底板80之間。電子暗盒20A 至20D以下面的方式而彼此不同。
在根據(jù)第一示例的電子暗盒20A中，如圖4A中所示，閃爍器74被沉積在布置在底板80上的蒸發(fā)基板108上。更具體地，閃爍器74通過下述方式形成為柱狀晶體結(jié)構(gòu)84的條帶通過沉積CsI:!!(添加了鉈的碘化銫)，例如，通過在對(duì)于可見光130以及復(fù)位光132 不可透過的蒸發(fā)基板108的上表面上的真空蒸發(fā)的方式(見圖12A至14B、15B和16)。閃爍器74包括接近蒸發(fā)基板108的近端部分作為非柱狀晶體部分82。
柱狀晶體結(jié)構(gòu)84包括在大體垂直于蒸發(fā)基板108和光電檢測(cè)器基板72的方向上，即圖4A中的垂直方向(沿該方向施加放射線16)上延伸的柱體，在相鄰的柱體之間存在特定的間隙。因?yàn)橹鶢罹w結(jié)構(gòu)84，特別是非柱狀晶體部分82容易受到潮濕的影響，所以通過由聚對(duì)二甲苯樹脂(Parylene (帕利靈)注冊(cè)商標(biāo))制成的透光防潮保護(hù)層86密封Csl(Csl:n)的閃爍器74。在通過透光防潮保護(hù)層86來密封閃爍器74的情況下，閃爍器74的柱狀晶體結(jié)構(gòu)84的遠(yuǎn)端部分和光電檢測(cè)器基板72通過結(jié)合層88a或粘結(jié)層88b 保持彼此緊密接觸，結(jié)合層88a或粘結(jié)層88b能夠透過可見光130以及復(fù)位光132。下面將描述根據(jù)第一示例制造電子暗盒20A的具體工藝。
在圖4A和某些隨后的附圖中，在柱狀晶體結(jié)構(gòu)84的柱體之間的間隙被夸大地示出，以使得能夠更容易地理解本發(fā)明。
由閃爍器74發(fā)射的可見光130 (見圖13A和13B)優(yōu)選地在從360nm至830nm的波長(zhǎng)范圍中，并且更優(yōu)選地，應(yīng)當(dāng)包括綠色的波長(zhǎng)范圍，以便使得放射線檢測(cè)器70能夠捕獲單色放射線照像圖像。具體地說，在使用放射線16放射線時(shí)CsI:Tl具有在從420nm至 700nm的波長(zhǎng)范圍中的發(fā)射光譜，其中具有在可見光范圍中的565nm的發(fā)射峰值波長(zhǎng)。
為了將閃爍器74的遠(yuǎn)端部分和光電檢測(cè)器基板72保持得彼此更緊密地接觸，從而防止閃爍器74和光電檢測(cè)器基板72在使用電子暗盒20A時(shí)彼此分離，柱狀晶體結(jié)構(gòu)84 的遠(yuǎn)端部分和光電檢測(cè)器基板72應(yīng)當(dāng)通過結(jié)合層88a彼此牢固地結(jié)合。鑒于其可能的故障，如果閃爍器74和光電檢測(cè)器基板72的至少一個(gè)被配置為可更換的，則柱狀晶體結(jié)構(gòu)84 的遠(yuǎn)端部分和非柱狀晶體部分82可以通過粘結(jié)層88b而彼此分別地粘結(jié)，這不要求如結(jié)合層88a那樣強(qiáng)的結(jié)合強(qiáng)度。
如圖4B中所示，根據(jù)第二示例的電子暗盒20B與根據(jù)第一示例的電子暗盒 20A(見圖4A)的不同在于閃爍器74沉積在面向底板80的光電檢測(cè)器基板72的一側(cè)上。
如圖5A中所示，根據(jù)第三示例的電子暗盒20C與根據(jù)第一示例的電子暗盒 20A(見圖4A)的不同在于放射線檢測(cè)器70垂直地翻轉(zhuǎn)或上下翻轉(zhuǎn)。如圖5B中所示，根據(jù)第四示例的電子暗盒20D與根據(jù)第二示例的電子暗盒20B(見圖4B)的不同在于放射線檢測(cè)器70垂直地翻轉(zhuǎn)或上下翻轉(zhuǎn)。
在根據(jù)第一至第四示例的電子暗盒20A至20D的每一個(gè)中，復(fù)位光源78、切換濾光器76和光電檢測(cè)器基板72可以通過各種已知的緊固手段的任何一種在外殼44中被緊固定位，各種已知的緊固手段諸如是使用結(jié)合劑的結(jié)合、使用粘結(jié)劑的粘結(jié)，或使用固定手段的固定。
在圖4A至5B中，閃爍器74由CsI:!!制成。然而，通過使用GOS(硫氧化釓)涂敷光電檢測(cè)器基板72或切換濾光器76，閃爍器74可以由GOS制成。
而且，除了由例如CsI:!!或GOS制成的閃爍器74之外，閃爍器74可以由 BaFCl :Eu、BaFBr: Eu、YTaO4、BaSO4: Eu 或者 HfP2O7 制成，BaFCl :Eu、BaFBr: Eu、YTaO4、BaSO4: Eu 或者HfP2O7發(fā)射具有在從紫色(光)范圍至紫外光范圍的波長(zhǎng)范圍中的發(fā)射峰值波長(zhǎng)的熒光(例如，紫外線放射線)。
在該情況下，光電檢測(cè)器基板72可以將從閃爍器74發(fā)射的具有發(fā)射峰值波長(zhǎng)的突光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。
下面將參考圖6A至16來描述光電檢測(cè)器基板72、切換濾光器76和復(fù)位光源78 的具體結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。
作為代表性示例，下面將參考圖6A至16來描述電子暗盒20A的光電檢測(cè)器基板 72、切換濾光器76和復(fù)位光源78的具體結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。在圖6A至16中，以簡(jiǎn)化或夸大的形式來圖示其某些組件，以便于更容易地理解本發(fā)明。在圖6A至16中所示的具體結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)可以被修改和/或應(yīng)用到根據(jù)第二至第四示例的電子暗盒20B至20D。
圖6A至8B示出光電檢測(cè)器基板72的不同結(jié)構(gòu)。圖9A至IOB示出制造放射線檢測(cè)器70的工藝。圖11至13B詳細(xì)示出切換濾光器76的不同結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。圖14A至16示出復(fù)位光源78的不同結(jié)構(gòu)。
在圖6A中所示的結(jié)構(gòu)中，光電檢測(cè)器基板72包括基底90，其至少對(duì)于復(fù)位光 132可透過(見圖12A至14B、15B和16);作為轉(zhuǎn)換元件在面向底板80的基底90的表面上布置的TFT (薄膜晶體管)陣列92 ;以及在TFT陣列92上布置的多個(gè)光電檢測(cè)器部件94， 諸如由a-Si等構(gòu)成的光電晶體管。包含a-Si的光電檢測(cè)器部件94具有寬吸收光譜，因此能夠有效地吸收來自閃爍器74的可見光130。
因?yàn)樵诿嫦虻装?0的基底90的表面上布置的TFT陣列92上設(shè)置的光電檢測(cè)器部件94在光電檢測(cè)器基板72上形成不規(guī)則的表面，所以期望通過使用聚四氟乙烯的平坦膜 96覆蓋光電檢測(cè)器部件94來執(zhí)行平坦化處理。通過在其間插入結(jié)合層88a或粘結(jié)層88b， CsIiTl的閃爍器74保持為與平坦膜96緊密接觸。因此，沿著施加放射線16的方向，S卩，在圖6A中所示的向下方向上順次地布置基底90、TFT 92、光電檢測(cè)器部件94、平坦膜96和結(jié)合層88a或粘結(jié)層88b。
基底90可以是薄底板，其耐受在形成TFT 92和光電檢測(cè)器部件94時(shí)施加的熱量。基底90通常是玻璃基板，但是也可以由各種其他材料制成。
更具體地，為了使得TFT 92和光電檢測(cè)器部件94可以在低溫下沉積為薄膜， 光電檢測(cè)器部件94可以由以下來制成有機(jī)光電導(dǎo)體(OPC),用于將從閃爍器74發(fā)射的在可見光范圍中的熒光(可見光130)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)；或者非晶氧化物半導(dǎo)體，例如， IGZO(InGaZnOx)等，用于將從閃爍器74發(fā)射的具有在從紫色范圍至紫外線范圍(例如，紫外線放射線)的波長(zhǎng)范圍中的發(fā)射峰值波長(zhǎng)的熒光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。TFT 92可以由以下制成有機(jī)半導(dǎo)體(例如，酞菁化合物、并五苯或酞菁氧f凡)A^na-IGZO(InGaZnO4)的非晶氧化物半導(dǎo)體；或碳納米管。使用這樣的材料，柔性的并且至少對(duì)于復(fù)位光132可透過的塑料膜可以被用作基底90，該塑料膜例如是聚酰亞胺膜、聚芳酯膜、雙軸取向聚苯乙烯膜、芳族聚酰胺膜或生物納米纖維膜。
下面將更詳細(xì)地描述可以被用作基底90的塑料膜。可以被用作基底90的塑料膜應(yīng)當(dāng)優(yōu)選地是下述材料的柔性基板聚酯，諸如聚對(duì)苯二甲酸乙二醇酯、聚鄰苯二甲酸丁二酯、聚萘二甲酸乙二醇酯等；或者聚苯乙烯、聚碳酸酯、聚苯醚砜、聚芳酯、聚酰亞胺、聚環(huán)烯、降冰片烯樹脂、聚氯三氟乙烯等。塑料的柔性基板使得電子暗盒20 (20A)在重量上輕， 因此容易攜帶。
基底90可以包括絕緣層，用于使得基底90電絕緣；氣體阻擋層，用于使得基底 90不透水和氧氣；以及涂底層，用于使得基底90平坦或與電極更好地緊密接觸。
用作基底90的芳族聚酰胺膜優(yōu)點(diǎn)在于因?yàn)榭梢韵蚱涫┘釉跀z氏200度下的高溫處理，所以芳族聚酰胺膜允許將透明電極材料設(shè)置在高溫，以呈現(xiàn)低電阻，并且也允許驅(qū)動(dòng)器IC通過包括回流焊處理的處理自動(dòng)地被安裝其上。而且，因?yàn)榉甲寰埘０纺ぞ哂信c ITO(銦錫氧化物)和玻璃接近的熱膨脹系數(shù)，所以由芳族聚酰胺膜制成的基底不太可能在制造后變得扭曲或破裂。另外，可以使由芳族聚酰胺膜制成的基底比玻璃基板等薄?；?90也可以具有堆疊組件的形式，該組件包括超薄玻璃基板和芳族聚酰胺膜。
通過將由細(xì)菌(醋酸菌、木醋桿菌)產(chǎn)生的一束纖維素微纖維(細(xì)菌纖維素)和透明樹脂混合來制成生物納米纖維。這束纖維素微纖維具有為可見光130的波長(zhǎng)1/10的 50nm的寬度，具有高強(qiáng)度并且具有高彈性，并且經(jīng)受低的熱膨脹?？梢酝ㄟ^下述方式來產(chǎn)生包含60%至70%的纖維并且在500nm的波長(zhǎng)呈現(xiàn)大約90 %的透光率的生物納米纖維使用諸如丙烯酸樹脂或環(huán)氧樹脂等的透明樹脂來浸潰細(xì)菌纖維素，并且硬化透明樹脂。生物納米纖維是柔性的，并且具有可與硅晶體相比的范圍從3ppm至7ppm的熱膨脹系數(shù)、與鋼強(qiáng)度匹配的460MPa的高強(qiáng)度和30GPa的高彈性。因此，如果基底90由生物納米纖維構(gòu)成，則基底90可以比玻璃基板等更薄。
包括有機(jī)光電導(dǎo)體的光電檢測(cè)器部件94在可見光130的范圍中呈現(xiàn)尖銳的吸收光譜，并且不吸收除了可見光130之外的電磁波。因此，有效地最小化了在放射線16被光電檢測(cè)器部件94吸收的情況下產(chǎn)生的任何噪聲。
為了有機(jī)光電導(dǎo)體最有效地吸收可見光130，其吸收峰值波長(zhǎng)應(yīng)當(dāng)優(yōu)選地盡可能接近閃爍器74的光發(fā)射峰值波長(zhǎng)。雖然有機(jī)光電導(dǎo)體的吸收峰值波長(zhǎng)和閃爍器74的光發(fā)射峰值波長(zhǎng)應(yīng)當(dāng)理想地彼此一致，但是如果在吸收峰值波長(zhǎng)和光發(fā)射峰值波長(zhǎng)之間的波長(zhǎng)差足夠小，則還能夠充分地吸收可見光130。更具體地，有機(jī)光電導(dǎo)體的吸收峰值波長(zhǎng)和光發(fā)射峰值波長(zhǎng)之間的差應(yīng)當(dāng)優(yōu)選地是IOnm或更小，并且更優(yōu)選地是5nm或更小。
滿足上面的要求的有機(jī)光電導(dǎo)體包括基于二羥基喹啉并吖啶的有機(jī)化合物和基于酞菁的有機(jī)化合物。因?yàn)槎u基喹啉并吖啶具有在可見光范圍中的560nm的吸收峰值波長(zhǎng)，所以如果將二羥基喹啉并吖啶用作有機(jī)光電導(dǎo)體并且將CsI:!!用作閃爍器74的材料， 則在上述峰值波長(zhǎng)之間的差可以減小為5nm或更小，從而使得能夠?qū)嵸|(zhì)上最大化由光電檢測(cè)器部件94產(chǎn)生的電荷量。
如果TFT 92由有機(jī)半導(dǎo)體、非晶氧化物半導(dǎo)體或碳納米管制成，則TFT 92可以有效地防止噪聲的產(chǎn)生，因?yàn)門FT 92不吸收放射線16或僅吸收小劑量的放射線16。具體地說，如果TFT 92由碳納米管制成，則TFT 92可以具有高轉(zhuǎn)換速度，并且對(duì)于可見光130和復(fù)位光132都呈現(xiàn)低吸收率。如果TFT 92由碳納米管制成，則因?yàn)門FT 92的性能可以被其中混合的痕量金屬雜質(zhì)顯著地變差，所以必須通過離心分離機(jī)等來分離和提取高純度的碳納米管。
對(duì)于在圖6A中所示的電子暗盒，已經(jīng)穿過被檢體14的放射線16通過外殼44的上照射表面46 (上板)、復(fù)位光源78、切換濾光器76、光電檢測(cè)器基板72和結(jié)合層88a或粘結(jié)層88b被發(fā)送到閃爍器74。然后這樣的放射線16被閃爍器74的柱狀晶體結(jié)構(gòu)84轉(zhuǎn)換為在可見光范圍中的熒光(可見光130)，該熒光傳播通過柱狀晶體結(jié)構(gòu)84的柱體，然后經(jīng)由結(jié)合層88a或粘結(jié)層88b以及平坦膜96被發(fā)送到光電檢測(cè)器部件94 (見圖13A和13B)。
朝向蒸發(fā)基板108傳播的可見光130的部分被非柱狀晶體部分82和蒸發(fā)基板108 朝向光電檢測(cè)器基板72反射?？梢姽?30的這個(gè)部分(即，反射光)經(jīng)由閃爍器74、結(jié)合層88a或粘結(jié)層88b和平坦膜96到達(dá)光電檢測(cè)器部件94。
因此，光電檢測(cè)器部件94將可見光130轉(zhuǎn)換為模擬電信號(hào)，并且將該電信號(hào)存儲(chǔ)為電荷。TFT 92將在光電檢測(cè)器部件94中存儲(chǔ)的電荷讀取為圖像信號(hào)。
圖6B中所示的結(jié)構(gòu)與圖6A中所示的結(jié)構(gòu)不同在于交替地布置TFT 92和光電檢測(cè)器部件94。彼此相鄰布置的TFT 92和光電檢測(cè)器部件94構(gòu)成與一個(gè)像素對(duì)應(yīng)的區(qū)域。因?yàn)楣怆姍z測(cè)器基板72的TFT 92和光電檢測(cè)器部件94具有不規(guī)則的表面，所以優(yōu)選的是，TFT 92和光電檢測(cè)器部件94以平坦膜96覆蓋，以便將閃爍器74和光電檢測(cè)器基板 72保持得彼此緊密接觸，并且在其間插入結(jié)合層88a或粘結(jié)層88b。
圖7A中所示的結(jié)構(gòu)與圖6A和6B中所示的結(jié)構(gòu)不同在于在面向閃爍器74的基底90的表面上交替布置光電檢測(cè)器部件94和堆疊的組件，每一個(gè)光電檢測(cè)器部件94具有a-Si的光電二極管的形式，每一個(gè)堆疊的組件包括遮光層134、a-Si的TFT 92和遮光層 100。在接近遮光層100和光電檢測(cè)器部件94的光電檢測(cè)器基板72的表面上布置平坦膜 96。
如果來自閃爍器74的可見光130和來自復(fù)位光源78的復(fù)位光132被施加到光電檢測(cè)器基板72，則朝向光電檢測(cè)器部件94傳播的光施加到光電檢測(cè)器部件94，并且遮光層 100、134充分地吸收朝向TFT 92傳播的光。以圖7A中所示的結(jié)構(gòu)，可見光130或復(fù)位光 132可以被有效地施加到光電檢測(cè)器部件94，并且可靠地防止將TFT 92暴露到可見光130 或復(fù)位光132的情況下由TFT 92產(chǎn)生的轉(zhuǎn)換噪聲。
圖7B中所示的結(jié)構(gòu)與圖6A至7A中所示的結(jié)構(gòu)不同在于在平坦膜96和結(jié)合層 88a或粘結(jié)層88b之間插入傾斜光阻擋層102，用于阻擋相對(duì)于施加放射線16的方向傾斜傳播的可見光130。傾斜光阻擋層102包括光發(fā)射器104,由對(duì)可見光130可透過的材料制成，該材料例如是硅樹脂、烯烴樹脂、聚氨酯樹脂、丙烯酸樹脂、纖維素樹脂、聚酯樹脂或聚碳酸酯樹脂；以及光阻擋器106，其由具有對(duì)可見光130高吸收率的材料制成，該材料例如是黑色金屬氧化物、顏料或染料。沿著平坦膜96的表面，S卩，在水平方向上交替布置光發(fā)射器104和光阻擋器106。
在相對(duì)于施加放射線16的方向的預(yù)定角度內(nèi)施加的可見光130穿過光發(fā)射器104 到達(dá)光電檢測(cè)器基板72。以在該預(yù)定角度之外的角度傾斜施加的可見光130完全被光阻擋器106吸收，并且防止被施加到光電檢測(cè)器基板72。結(jié)果，使得光電檢測(cè)器基板72相對(duì)于可見光130更敏感，并且防止所產(chǎn)生的放射線照像圖像由于傾斜施加的光而變得模糊。
圖8A中所示的結(jié)構(gòu)與圖6B中所示的結(jié)構(gòu)不同在于省略基底90。因?yàn)闆]有基底 90，所以否則將被基底90吸收的放射線16到達(dá)閃爍器74，因此提高了光電檢測(cè)器部件94 關(guān)于可見光130的靈敏度。沒有基底90的光電檢測(cè)器基板72使得放射線檢測(cè)器70在輪廓上更薄。
圖8B中所示的結(jié)構(gòu)與圖7A中所示的結(jié)構(gòu)不同在于在通過防潮保護(hù)層86密封閃爍器74以根據(jù)CVD(化學(xué)氣相沉積)使用聚對(duì)二甲苯覆蓋柱狀晶體結(jié)構(gòu)84的柱體后，TFT 92和光電檢測(cè)器部件94直接形成在柱狀晶體結(jié)構(gòu)84的遠(yuǎn)端部分上。因?yàn)橹鶢罹w結(jié)構(gòu) 84的遠(yuǎn)端部分和光電檢測(cè)器部件94保持得彼此直接接觸并且在其間未插入結(jié)合層88a或粘結(jié)層88b，所以進(jìn)一步提高了光電檢測(cè)器部件94關(guān)于可見光130的靈敏度，并且可靠地防止放射線照像圖像變得模糊。如果光電檢測(cè)器部件94由有機(jī)光電導(dǎo)體或非晶氧化物半導(dǎo)體制成，并且TFT 92由例如a-IGZO或碳納米管的有機(jī)半導(dǎo)體、非晶氧化物半導(dǎo)體制成，則 TFT 92和光電檢測(cè)器部件94可以形成在柱狀晶體結(jié)構(gòu)84的遠(yuǎn)端部分上，并且可以在低溫下沉積為膜。
圖9A至IOB示出用于制造包含圖8A中所示結(jié)構(gòu)的放射線檢測(cè)器70的工藝。
首先，如圖9A中所示，TFT 92和光電檢測(cè)器部件94交替形成在基底90上，并且在其間插入剝離層136。然后，如圖9B中所示，對(duì)于TFT 92和光電檢測(cè)器部件94執(zhí)行平坦化處理以形成平坦膜96。然后，如圖IOA中所示，使用閃爍器74的遠(yuǎn)端部分，S卩，柱狀晶體結(jié)構(gòu)84作為轉(zhuǎn)移祀，閃爍器74的遠(yuǎn)端部分和光電檢測(cè)器基板72通過結(jié)合層88a彼此結(jié)合或通過粘結(jié)層88b彼此粘結(jié)。根據(jù)已知的轉(zhuǎn)移技術(shù)，光電檢測(cè)器基板72可以結(jié)合或附接 (轉(zhuǎn)移)到作為轉(zhuǎn)移靶的閃爍器74。
然后，如圖IOB中所示，使用激光束(未示出)來照射剝離層136，以將基底90和剝離層136從TFT 92和光電檢測(cè)器部件94剝離。其后，復(fù)位光源78、切換濾光器76、光電檢測(cè)器基板72和閃爍器74以圖4A和8A中所示的順序放置在外殼44內(nèi)，從而將放射線檢測(cè)器70容納在外殼44內(nèi)。
因?yàn)門FT 92和光電檢測(cè)器部件94保持與切換濾光器76直接接觸，在其間未插入基底90，所以有效地防止了所產(chǎn)生的放射線照像圖像變得模糊。如果基底90由至少對(duì)復(fù)位光132可透過的材料制成，則TFT 92和光電檢測(cè)器部件94可以直接形成在基底90上。以這種方式，制造包含圖6B中所示結(jié)構(gòu)的放射線檢測(cè)器70。
在圖6A至8B中所示的結(jié)構(gòu)僅是示例，并且可以被組合來提供光電檢測(cè)器基板72 等。例如,在圖6B和7A以及圖8A和8B中所示的結(jié)構(gòu)的每一個(gè)中，傾斜光阻擋層102可以插入在光電檢測(cè)器基板72和閃爍器74之間。
如圖11中所示，通過沿著從復(fù)位光源78朝向光電檢測(cè)器基板72的方向以下述順序堆疊下述部分來構(gòu)造切換濾光器76 :透明基底110、透明導(dǎo)電膜112、離子存儲(chǔ)層114、固態(tài)電解質(zhì)層116、緩沖層118、催化劑層120和光調(diào)節(jié)鏡膜層122。電源124和開關(guān)126電連接到透明導(dǎo)電膜112和光調(diào)節(jié)鏡膜層122。
透明基底110用作位于復(fù)位光源78附近的切換濾光器76的蒸發(fā)基板。透明基底 110可以是對(duì)于從復(fù)位光源78發(fā)射的復(fù)位光132 (見圖12A和12B)可透過的玻璃基板或塑料基板。透明導(dǎo)電膜112是由對(duì)復(fù)位光132可透過的ITO制成的透明電極。離子存儲(chǔ)層114 是由能夠存儲(chǔ)氫離子(H+)的WO3 (氧化鎢)制成的薄膜。固態(tài)電解質(zhì)層116是由Ta2O5 (氧化鉭)制成的薄膜。緩沖層118是由Al (鋁)制成的金屬膜。催化劑層120是由Pd(鈀) 制成的薄膜。光調(diào)節(jié)鏡膜層122包括從Mg Ni (鎳 鎂)合金制造的薄膜。
如果接通開關(guān)126，則電源124在透明導(dǎo)電膜112和光調(diào)節(jié)鏡膜層122之間施加電壓，從而，光調(diào)節(jié)鏡膜層122改變?yōu)殓R面狀態(tài)(非透射狀態(tài))或透明狀態(tài)(透射狀態(tài))。鏡面狀態(tài)(非透射狀態(tài))是光調(diào)節(jié)鏡膜層122將復(fù)位光132朝向復(fù)位光源78反射并且也將由閃爍器74發(fā)射的可見光130(見圖13A和13B)朝向光電檢測(cè)器基板72反射的狀態(tài)。透明狀態(tài)(透射狀態(tài))是光調(diào)節(jié)鏡膜層122將復(fù)位光132通過其中以到達(dá)光電檢測(cè)器基板72 的光電檢測(cè)器部件94的狀態(tài)。
下面將詳細(xì)描述光調(diào)節(jié)鏡膜層122在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間的切換。
光調(diào)節(jié)鏡膜層122具有通常處于鏡面狀態(tài)并且能夠由于Mg Ni合金薄膜的金屬光澤導(dǎo)致反射可見光130和復(fù)位光132的表面。
如果光調(diào)節(jié)鏡膜層122處于鏡面狀態(tài)，則開關(guān)126被接通以向切換濾光器76施加來自電源124的電壓，即，幾伏特的DC電壓，使得光調(diào)節(jié)鏡膜層122被設(shè)置在負(fù)極性，并且透明導(dǎo)電膜112被設(shè)置在正極性，如圖12A中所示。此時(shí)，光調(diào)節(jié)鏡膜層122從鏡面狀態(tài)向透明狀態(tài)切換。更具體地，在離子存儲(chǔ)層114中存儲(chǔ)的氫離子(H+)通過固態(tài)電解質(zhì)層116、 緩沖層118和催化劑層120移動(dòng)到光調(diào)節(jié)鏡膜層122，于是Mg. Ni合金從其金屬狀態(tài)向非金屬狀態(tài)氫化，并且變?yōu)橥该鳌?br> —旦光調(diào)節(jié)鏡膜層122已經(jīng)變得透明，則光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持透明，即使關(guān)斷開關(guān)126并且停止從電源124向切換濾光器76施加電壓，即，切換濾光器76的激勵(lì)被關(guān)斷， 如圖12B中所示。
當(dāng)光調(diào)節(jié)鏡膜層122處于透明狀態(tài)并且不向被檢體14施加放射線16，即，未捕獲被檢體14的放射線照像圖像時(shí)，如果復(fù)位光源78朝向切換濾光器76發(fā)射復(fù)位光132，則復(fù)位光132穿過透明導(dǎo)電膜112和光調(diào)節(jié)鏡膜層122到達(dá)光電檢測(cè)器基板72的光電檢測(cè)器部件94。如果復(fù)位光132被施加到光電檢測(cè)器部件94，并且每一個(gè)光電檢測(cè)器部件94具有a-Si等的光電二極管的形式，則光電檢測(cè)器部件94被復(fù)位以將電荷嵌入光電二極管的雜質(zhì)能級(jí)，使得在向其施加放射線16時(shí)，即，捕獲被檢體14的放射線照像圖像時(shí)由光電檢測(cè)器部件94從可見光130轉(zhuǎn)換的電荷變得不被雜質(zhì)能級(jí)捕捉。
如果光調(diào)節(jié)鏡膜層122處于透明狀態(tài)，則開關(guān)126被接通以向切換濾光器76施加與圖12A中所示的電壓極性在極性上相反的電壓，即，幾伏的DC電壓，使得光調(diào)節(jié)鏡膜層 122被設(shè)置在正極性，并且透明導(dǎo)電膜112被設(shè)置在負(fù)極性，如圖13A中所示。此時(shí)，光調(diào)節(jié)鏡膜層122從透明狀態(tài)向鏡面狀態(tài)切換。更具體地，已經(jīng)移動(dòng)到光調(diào)節(jié)鏡膜層122的氫離子在極性上相反的施加電壓的影響下通過催化劑層120、緩沖層118和固態(tài)電解質(zhì)層116 流回離子存儲(chǔ)層114，于是光調(diào)節(jié)鏡膜層122改變回其原始的金屬狀態(tài)。
在光調(diào)節(jié)鏡膜層122返回到鏡面狀態(tài)的情況下，光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在鏡面狀態(tài)，即使關(guān)斷開關(guān)126并且停止從電源124向切換濾光器76施加電壓，如圖13B中所示。
當(dāng)光調(diào)節(jié)鏡膜層122處于鏡面狀態(tài)并且放射線16被施加到被檢體14時(shí)，即，如果捕獲了被檢體14的放射線照像圖像，則在由閃爍器74從放射線16轉(zhuǎn)換的可見光130中， 向光電檢測(cè)器基板72施加的并且朝向光調(diào)節(jié)鏡膜層122傳播的光被光調(diào)節(jié)鏡膜層122朝向光電檢測(cè)器基板72反射。然后光電檢測(cè)器部件94將由閃爍器74轉(zhuǎn)換并且通過結(jié)合層 88a或粘結(jié)層88b和平坦膜96直接施加的熒光，即，可見光130檢測(cè)為電信號(hào)，并且也檢測(cè)穿過光電檢測(cè)器基板72并且被光調(diào)節(jié)鏡膜層122反射的反射光，即，可見光130。結(jié)果，容易提高光電檢測(cè)器部件94關(guān)于可見光130的靈敏度。
當(dāng)捕獲被檢體14的放射線照像圖像時(shí)，即，當(dāng)向被檢體14施加放射線16時(shí)，可以使用放射線16來照射復(fù)位光源78，并且使得復(fù)位光源78發(fā)射復(fù)位光132，或復(fù)位光源78 可能被錯(cuò)誤地激勵(lì)，并且從而發(fā)射復(fù)位光132。具體地說，如果放射線檢測(cè)器70是ISS類型的，則因?yàn)閺?fù)位光源78、切換濾光器76、光電檢測(cè)器基板72和閃爍器74被以此順序沿著施加放射線16的方向順次地布置，所以在放射線照像圖像捕獲處理期間放射線16必然穿過復(fù)位光源78并且有可能觸發(fā)復(fù)位光源78以從而發(fā)射復(fù)位光132。
然而，如果光調(diào)節(jié)鏡膜層122在放射線照像圖像捕獲處理期間保持在鏡面狀態(tài)， 則即使在由于向其施加放射線16導(dǎo)致從復(fù)位光源78發(fā)射復(fù)位光132的情況下，光調(diào)節(jié)鏡膜層122將復(fù)位光132回向復(fù)位光源78反射。結(jié)果，可靠地防止在放射線照像圖像捕獲處理期間復(fù)位光132朝向光電檢測(cè)器基板72傳播。
圖14A至16示出不同的復(fù)位光源78。復(fù)位光源78的每一個(gè)包括發(fā)光元件142 的陣列(見圖14A)，背光(見圖14B至15B)，或電致發(fā)光光源(見圖16)，面向光電檢測(cè)器基板72布置,并且在其間插入切換濾光器76。
圖14A中所示的復(fù)位光源78包括以發(fā)光二極管(LED)等形式的發(fā)光元件142的陣列，該陣列布置在基底140上，基底140安裝在包括照射表面46的外殼44的壁上。在光調(diào)節(jié)鏡膜層122處于透明狀態(tài)時(shí)，如果發(fā)光元件142同時(shí)發(fā)射復(fù)位光132，則復(fù)位光源78起到表面發(fā)射光源的作用。復(fù)位光132通過切換濾光器76被均勻地施加到光電檢測(cè)器部件 94，以便復(fù)位光電檢測(cè)器部件94。
圖14A中所示的復(fù)位光源78也能夠瞄準(zhǔn)光電檢測(cè)器部件94的每一個(gè)，以通過僅激勵(lì)面向光電檢測(cè)器部件94的發(fā)光元件142來復(fù)位特定部件。
圖14B中所不的復(fù)位光源78是側(cè)光式背光,包括導(dǎo)光板150,布置在具有照射表面46的外殼44的壁與切換濾光器76之間；以及冷陰極射線管(光源)152,布置在導(dǎo)光板 150的一側(cè)。未使用放射線16來照射射布置了冷陰極射線管152的區(qū)域。在導(dǎo)光板150和切換濾光器76之間的插入擴(kuò)散片154，并且在導(dǎo)光板150和冷陰極射線管152的周圍布置反射片156。如果從冷陰極射線管152朝向?qū)Ч獍?50施加光,貝U通過反射片156和擴(kuò)散片 154的表面在導(dǎo)光板150內(nèi)重復(fù)地反射所施加的光，然后，將光作為復(fù)位光132的光通過擴(kuò)散片154朝向切換濾光器76發(fā)射。
在圖14B中，僅圖示復(fù)位光132的一根光線。然而，實(shí)際上，從冷陰極射線管152 朝向?qū)Ч獍?50施加的光被表面重復(fù)地反射，并且該光完全在導(dǎo)光板150內(nèi)傳播，使得這樣的光作為表面發(fā)射復(fù)位光132從擴(kuò)散片154朝向切換濾光器76發(fā)射。因此,具有背光形式的復(fù)位光源78也起到表面發(fā)射光源的作用，用于通過切換濾光器76均勻地向光電檢測(cè)器部件94施加復(fù)位光132，從而復(fù)位光電檢測(cè)器部件94。
也作為側(cè)光式背光的、圖15A和15B中所示的復(fù)位光源78與圖14B中所示的復(fù)位光源78不同在于復(fù)位光源78包括基板160，其上支承諸如LED等的發(fā)光元件(光源)162 的線性陣列，而不是冷陰極射線管152。不使用放射線16來照射布置了發(fā)光元件162和基板160的區(qū)域。如果從發(fā)光兀件162朝向?qū)Ч獍?50施加光,則所施加的光被反射片156 和擴(kuò)散片154的表面重復(fù)地反射，并且完全在導(dǎo)光板150內(nèi)傳播，使得這樣的光作為表面反射復(fù)位光132從擴(kuò)散片154朝向切換濾光器76發(fā)射。因此，復(fù)位光源78能夠通過切換濾光器76均勻地向光電檢測(cè)器部件94施加復(fù)位光132,從而復(fù)位光電檢測(cè)器部件94。在圖 15B中，僅圖不復(fù)位光132的一根光線。
圖16中所示的復(fù)位光源78是有機(jī)電致發(fā)光(EL)光源或無機(jī)電致發(fā)光(EL)光源。 復(fù)位光源78包括發(fā)光層170，由有機(jī)EL材料或無機(jī)EL材料制成；透明電極172，由對(duì)復(fù)位光132可透過的ITO制成；以及金屬電極174，對(duì)復(fù)位光132不可透過。透明電極172和金屬電極174電連接到開關(guān)176和電源178。如果光調(diào)節(jié)鏡膜層122處于透明狀態(tài)，則開關(guān)176被接通以在透明電極172和金屬電極174之間施加來自電源178的電壓，使得透明電極172被設(shè)置在正極性，并且金屬電極174被設(shè)置在負(fù)極性。此時(shí)，發(fā)光層170通過透明電極172向切換濾光器76發(fā)射表面發(fā)射復(fù)位光132。
因此，復(fù)位光源78不論其由有機(jī)EL光源或無機(jī)EL光源制成都能夠通過切換濾光器76均勻地向光電檢測(cè)器部件94施加復(fù)位光132,從而復(fù)位光電檢測(cè)器部件94。
作為從復(fù)位光源78發(fā)射的上述復(fù)位光132，例如，優(yōu)選的是，使用具有0. 8eV至2.OeV (對(duì)應(yīng)于從620nm至1550nm的波長(zhǎng))的能量的暗紅光或紅外線放射線來復(fù)位光電檢測(cè)器部件94。
圖17是在圖I中所示的電子暗盒20(20A至20D)的電子布置的示意圖，部分以框圖的形式。
如圖17中所示，電子暗盒20(20A至20D)的光電檢測(cè)器基板72具有包括光電檢測(cè)器部件94和TFT 92的陣列或矩陣的結(jié)構(gòu)。光電檢測(cè)器部件94也將被稱為像素190。
在從驅(qū)動(dòng)電路180的偏置電源192向其施加偏置電壓時(shí)激勵(lì)以行和列的矩陣布置的像素190。像素190存儲(chǔ)在由閃爍器74從放射線16轉(zhuǎn)換的可見光130被光電轉(zhuǎn)換的情況下產(chǎn)生的電荷。如果逐列地順次接通TFT 92，則在像素190中存儲(chǔ)的電荷經(jīng)由信號(hào)線196 被讀取為模擬信號(hào)(電荷信號(hào)、電信號(hào))的像素值。在圖17中，以四個(gè)垂直列和四個(gè)水平行的矩陣來布置像素190和TFT 92。然而，可以以任何期望數(shù)量的垂直列和任何期望數(shù)量的水平行的矩陣來布置像素190和TFT 92。
電連接到相應(yīng)像素190的TFT 92連接到沿著相應(yīng)行延伸的柵極線194和沿著相應(yīng)列延伸的信號(hào)線196。柵極線194連接到驅(qū)動(dòng)電路180的柵極驅(qū)動(dòng)器198，并且信號(hào)線 196通過相應(yīng)的電荷放大器連接到驅(qū)動(dòng)電路180的復(fù)用器202。復(fù)用器202連接到A/D轉(zhuǎn)換器204，A/D轉(zhuǎn)換器204將模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字電信號(hào)。A/D轉(zhuǎn)換器204向暗盒控制器 182輸出數(shù)字電信號(hào)，S卩，數(shù)字信號(hào)像素值(以下也稱為數(shù)字值)。驅(qū)動(dòng)電路180被包括在面板40中或在控制器42 (見圖2)中。暗盒控制器182被包括在控制器42中。
暗盒控制器182整體控制電子暗盒20 (20A至20D)。如果諸如計(jì)算機(jī)等的信息處理裝置讀取并執(zhí)行在功能上對(duì)應(yīng)于暗盒控制器182的程序，則該信息處理裝置可以起到暗盒控制器182的作用。
存儲(chǔ)器184和通信單元186連接到暗盒控制器182。存儲(chǔ)器184存儲(chǔ)數(shù)字信號(hào)像素值，并且通信單元186向控制臺(tái)22發(fā)送信號(hào)并且從控制臺(tái)22接收信號(hào)。通信單元186 向控制臺(tái)22發(fā)送由像素值的矩陣構(gòu)成的單個(gè)圖像的分組，S卩，一幀圖像。電源188向暗盒控制器182、存儲(chǔ)器184和通信單元186等提供電力，并且也向偏置電源192提供電力。存儲(chǔ)器184、通信單元186和電源188被包括在控制器42中。
暗盒控制器182包括圖像捕獲指令確定器210、溫度檢測(cè)器212、光復(fù)位操作確定器214、濾光器控制器216和光源控制器218。
如果圖像捕獲指令確定器210接收表示關(guān)于放射線16向被檢體14的施加的，即用于捕獲被檢體14的放射線照像圖像的圖像捕獲指令的指令信息，則圖像捕獲指令確定器210識(shí)別，即確定在該指令信息內(nèi)包括的圖像捕獲方法。該指令信息由醫(yī)生在RIS 26或 HIS 28中產(chǎn)生，并且包括用于識(shí)別被檢體14的被檢體信息，諸如被檢體14的姓名、年齡、 性別等；關(guān)于用于捕獲被檢體14的放射線照像圖像的放射線輸出部件18和電子暗盒20的信息；被檢體14的待成像的區(qū)域；捕獲被檢體14的放射線照像圖像的技術(shù)；以及指示靜止圖像的捕獲或移動(dòng)圖像的捕獲的圖像捕獲方法。
如果從復(fù)位光源78發(fā)射的復(fù)位光132被施加到光電檢測(cè)器部件94，即，像素190， 以從而復(fù)位光電檢測(cè)器部件94，則光電檢測(cè)器部件94根據(jù)復(fù)位光132檢測(cè)電信號(hào)，8卩，暗電流信號(hào)，并且將所檢測(cè)的暗電流信號(hào)存儲(chǔ)為電荷。暗電流信號(hào)的電平隨著作為光電檢測(cè)器部件94的光電二極管的溫度而變化。如果順次地接通TFT 92，則溫度檢測(cè)器212基于經(jīng)由信號(hào)線196從光電檢測(cè)器部件94讀取的暗電流信號(hào)，即其像素值來檢測(cè)光電檢測(cè)器部件 94的溫度。
光復(fù)位操作確定器214基于由圖像捕獲指令確定器210識(shí)別的圖像捕獲方法和由溫度檢測(cè)器212檢測(cè)的光電檢測(cè)器部件94的溫度來確定是否要對(duì)光電檢測(cè)器部件94執(zhí)行光復(fù)位處理，即是否通過復(fù)位光132來復(fù)位光電檢測(cè)器部件94。
濾光器控制器216執(zhí)行電源124和開關(guān)126 (見圖11至13B)的功能，以便向切換濾光器76施加電壓，并且控制光調(diào)節(jié)鏡膜層122在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間的切換。光源控制器218執(zhí)行開關(guān)176和電源178 (見圖16)的功能，以便控制來自復(fù)位光源78的復(fù)位光132的發(fā)射。
由圖像捕獲指令確定器210識(shí)別的圖像捕獲方法、由溫度檢測(cè)器212檢測(cè)的溫度、 由光復(fù)位操作確定器214確定的光復(fù)位處理、由濾光器控制器216控制的切換濾光器76的切換和被光源控制器218控制的來自復(fù)位光源78的復(fù)位光132的發(fā)射分別被顯示在顯示器控制面板56上，或者可以作為聲音從揚(yáng)聲器58輸出，并且可以經(jīng)由無線通信鏈路從通信單元186向控制臺(tái)22發(fā)送或指示。
第一實(shí)施例的操作
根據(jù)第一實(shí)施例的其中包含電子暗盒20 (20A至20D)的放射線照像圖像捕獲系統(tǒng) 10基本上如上所述地構(gòu)造。下面將參考圖18至28并且在必要時(shí)參考圖I至17來描述放射線照像圖像捕獲系統(tǒng)10的操作。
更具體地，下面將參考圖18至28來描述包含根據(jù)第一示例的電子暗盒20A的放射線照像圖像捕獲系統(tǒng)10的操作。然而，如果依賴于電子暗盒20B至20D的配置來修改放射線照像圖像捕獲系統(tǒng)10的操作，則這樣的操作的描述也適用于根據(jù)第二至第四示例的電子暗盒20B至20D。
下面將描述根據(jù)不同的圖像捕獲指令的放射線照像圖像捕獲處理[I]至[7]。
[I]下面將描述根據(jù)圖像捕獲指令的放射線照像圖像捕獲處理，該放射線照像圖像捕獲處理包括捕獲被檢體14的至少一個(gè)靜止圖像，即用于捕獲被檢體14的至少一個(gè)放射線照像圖像的放射線照像圖像捕獲模式；或者以比幀速率閾值Fth低的幀速率捕獲移動(dòng)圖像，即，低速率移動(dòng)圖像捕獲模式或第一移動(dòng)圖像捕獲模式(見圖18和19)。
放射線照像圖像捕獲處理是不對(duì)光電檢測(cè)器部件94執(zhí)行光復(fù)位處理的圖像捕獲處理。
如果由在雜質(zhì)能級(jí)捕捉的電荷再次釋放的情況下產(chǎn)生的暗電流信號(hào)引起的噪聲低得足以不妨礙醫(yī)生解譯所捕獲的放射線照像圖像，則不對(duì)光電檢測(cè)器部件94執(zhí)行光復(fù)位處理。
幀速率閾值Fth是用于確定是否應(yīng)當(dāng)執(zhí)行光復(fù)位處理的閾值(見圖22)。如果移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率大于幀速率閾值Fth，則判斷應(yīng)當(dāng)執(zhí)行光復(fù)位處理。另一方面，如果移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率小于幀速率閾值Fth，則判斷不應(yīng)當(dāng)執(zhí)行光復(fù)位處理。
低速率移動(dòng)圖像捕獲模式指的是具有比幀速率閾值Fth(通常，F(xiàn)th = FthO)小的幀速率的移動(dòng)圖像捕獲模式。以下將具有比幀速率閾值Fth高的幀速率的移動(dòng)圖像捕獲模式稱為高速率移動(dòng)圖像捕獲模式或第二移動(dòng)圖像捕獲模式。
在圖18中所示的步驟SI中，控制器22(見圖I)獲取表示由醫(yī)生在RIS 26或HIS 28中產(chǎn)生的圖像捕獲指令的指令信息。在步驟S2中，醫(yī)生基于由控制器22獲取的指令信息來建立用于被檢體14的圖像捕獲條件。圖像捕獲條件指的是向被檢體14的待成像區(qū)域施加放射線16所需的各種條件，例如，放射線源30的管電壓和管電流、放射線暴露時(shí)間等。
在步驟S3中，醫(yī)生握住置于給定存放位置的電子暗盒20A的把手52 (見圖2和 3A)，搬運(yùn)電子暗盒20A，并且將電子暗盒20A放置在圖像捕獲基底12上。在步驟S4中，醫(yī)生使被檢體14躺在圖像捕獲基底12和電子暗盒20A上，使得被檢體14的待成像區(qū)域位于圖像捕獲區(qū)域50內(nèi)，從而將被檢體14的待成像區(qū)域相對(duì)于圖像捕獲區(qū)域50定位。
到現(xiàn)在為止，電源188 (見圖17) —直在向暗盒控制器182、通信單元186和顯示器控制面板56供應(yīng)電力。在定位被檢體14后，醫(yī)生操作顯示器控制面板56以指示電子暗盒20A的啟動(dòng)。然后暗盒控制器182開始從電源188向驅(qū)動(dòng)電路180和揚(yáng)聲器58供應(yīng)電力。偏置電源192開始向現(xiàn)在準(zhǔn)備好存儲(chǔ)電荷的像素190，即光電檢測(cè)器部件94施加偏置電壓。揚(yáng)聲器58也準(zhǔn)備好輸出表不來自暗盒控制器182的音頻信號(hào)的聲音。結(jié)果，電子暗盒20A從休眠模式切換到激活模式。
暗盒控制器182經(jīng)由無線通信鏈路向控制臺(tái)22發(fā)送用于請(qǐng)求從通信單元186傳輸圖像捕獲指令和圖像捕獲條件的傳輸請(qǐng)求信號(hào)。響應(yīng)于該傳輸請(qǐng)求信號(hào)，控制臺(tái)22經(jīng)由無線通信鏈路向電子暗盒20A發(fā)送圖像捕獲指令和圖像捕獲條件，并且也經(jīng)由無線通信鏈路向放射線輸出部件18發(fā)送圖像捕獲條件。在放射線輸出部件18中，在放射線源控制器 32中登記所接收的圖像捕獲條件。在電子暗盒20A中，在暗盒控制器182中登記已經(jīng)接收的圖像捕獲指令和圖像捕獲條件。暗盒控制器182也可以在顯示器控制面板56上顯示已經(jīng)接收到的圖像捕獲指令和圖像捕獲條件。
在步驟S5中，暗盒控制器182的圖像捕獲指令確定器210確定在指令信息中包括的圖像捕獲方法。此時(shí)，所確定的圖像捕獲方法表示捕獲被檢體14的至少一個(gè)靜止圖像或以比幀速率閾值Fth(FthO)低的幀速率捕獲移動(dòng)圖像(見圖20)，即，低速率移動(dòng)圖像捕獲模式。圖像捕獲指令確定器210向光復(fù)位操作確定器214指示所確定的圖像捕獲方法，并且在顯示器控制面板56上顯示所確定的圖像捕獲方法。
基于由圖像捕獲指令確定器210指示的圖像捕獲方法，光復(fù)位操作確定器214確定是否要對(duì)像素190，即光電檢測(cè)器部件94執(zhí)行光復(fù)位處理。因?yàn)閳D像捕獲方法表示捕獲至少一個(gè)靜止圖像或低速率移動(dòng)圖像捕獲模式，則在步驟S6中，光復(fù)位操作確定器214確定不必復(fù)位像素190。光復(fù)位操作確定器214向?yàn)V光器控制器216和光源控制器218指示該判定，并且在顯示器控制面板56上顯示該判定。光復(fù)位操作確定器214也可以從揚(yáng)聲器 58輸出指示該判定的聲音。
基于由光復(fù)位操作確定器214指示的判定，濾光器控制器216禁止向切換濾光器 76施加電壓，并且光源控制器218禁止激勵(lì)復(fù)位光源78。因此，在步驟S7中，切換濾光器 76的光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在鏡面狀態(tài)，并且復(fù)位光源78不發(fā)射復(fù)位光132。
因?yàn)樵陲@示器控制面板56上顯示在步驟S5和S6中作出的判定，所以通過觀看在顯示器控制面板56上顯示的判定，醫(yī)生可以識(shí)別不執(zhí)行光復(fù)位處理。如果從揚(yáng)聲器58輸出表示在步驟S5和S6中作出的判定的聲音，則通過收聽從揚(yáng)聲器58輸出的聲音，醫(yī)生可以認(rèn)識(shí)到不執(zhí)行光復(fù)位處理。
可以經(jīng)由無線通信鏈路從通信單元186向控制臺(tái)22發(fā)送判定。在該情況下，控制臺(tái)22可以經(jīng)由無線通信鏈路向顯示部件24發(fā)送所接收的判定，使得顯示部件24可以顯示判斷。因此，醫(yī)生可以肯定地認(rèn)識(shí)到尚未復(fù)位像素190。
在圖19中所示的步驟S8中，在已經(jīng)對(duì)放射線照像圖像捕獲系統(tǒng)10執(zhí)行步驟SI 至S7中的準(zhǔn)備處理后，醫(yī)生按下放射線開關(guān)34(見圖I)。放射線源控制器32自行準(zhǔn)備施加放射線16，并且經(jīng)由無線通信鏈路向控制臺(tái)22發(fā)送指示準(zhǔn)備好施加放射線16的通知信號(hào)?？刂破?2經(jīng)由無線通信鏈路向電子暗盒20A發(fā)送用于實(shí)現(xiàn)與來自放射線源30的放射線16的施加同步的同步控制信號(hào)。在電子暗盒20A的暗盒控制器182接收到該同步控制信號(hào)時(shí)，暗盒控制器182在顯示器控制面板56 (見圖2和17)上顯示指示準(zhǔn)備好施加放射線16的信息。暗盒控制器182也可以從揚(yáng)聲器58輸出指不這樣的信息的聲音。
在步驟S9中，通過醫(yī)生隨后按下放射線開關(guān)34，放射線源控制器32根據(jù)圖像捕獲條件向被檢體14的待成像區(qū)域施加來自放射線源30的放射線16持續(xù)預(yù)定時(shí)段。放射線源控制器32可以在開始施加放射線16的同時(shí)經(jīng)由無線通信鏈路向控制臺(tái)22發(fā)送指示開始施加放射線16的通知信號(hào)?？刂婆_(tái)22可以向電子暗盒20A傳輸所接收的通知信號(hào)。響應(yīng)于通知信號(hào)的接收，電子暗盒20A的暗盒控制器182可以在顯示器控制面板56上顯示指不放射線16的施加的信息,并且也可以從揚(yáng)聲器58輸出指不這樣的信息的聲音。
在步驟SlO中，在放射線16穿過被檢體14的待成像區(qū)域并且被施加到電子暗盒 20A的放射線檢測(cè)器70時(shí)，因?yàn)榉派渚€檢測(cè)器70是如圖3A和4A中所示的ISS類型，所以放射線16穿過復(fù)位光源78、切換濾光器76、結(jié)合層88a或粘結(jié)層88b和光電檢測(cè)器基板72 到達(dá)閃爍器74的柱狀晶體結(jié)構(gòu)84。
柱狀晶體結(jié)構(gòu)84發(fā)射可見光130 (見圖13A和13B)，可見光130的強(qiáng)度依賴于放射線16的強(qiáng)度，并且從柱狀晶體結(jié)構(gòu)84的柱體，通過結(jié)合層88a或粘結(jié)層88b并且到達(dá)光電檢測(cè)器基板72地施加所發(fā)射的可見光130?？梢姽?30的一部分從柱狀晶體結(jié)構(gòu)84的柱體朝向非柱狀晶體部分82傳播，并且從非柱狀晶體部分82和蒸發(fā)基板108朝向光電檢測(cè)器基板72反射回來。反射光也經(jīng)由柱狀晶體結(jié)構(gòu)84和結(jié)合層88a或粘結(jié)層88b被施加到光電檢測(cè)器基板72。
被施加到光電檢測(cè)器基板72的可見光130的一部分被直接施加到光電檢測(cè)器部件94,并且同一可見光130的一部分朝向復(fù)位光源78傳播。因?yàn)楣庹{(diào)節(jié)鏡膜層122處于鏡面狀態(tài)，所以朝向復(fù)位光源78傳播的可見光130的一部分被朝向光電檢測(cè)器基板72反射回去，并且落在光電檢測(cè)器部件94上。因此，使用由處于鏡面狀態(tài)的光調(diào)節(jié)鏡膜層122反射的光(可見光130)以及直接施加的反射光來照射光電檢測(cè)器部件94。結(jié)果，容易提高光電檢測(cè)器基板72的像素190，即光電檢測(cè)器部件94關(guān)于可見光130的靈敏度。
像素190將所施加的可見光130轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，并且將該電信號(hào)存儲(chǔ)為電荷。根據(jù)從暗盒控制器182 (見圖17)向柵極驅(qū)動(dòng)器198提供的驅(qū)動(dòng)信號(hào)來讀取表示被檢體14的待成像區(qū)域的放射線照像圖像的在像素190中存儲(chǔ)的電荷。
更具體地，柵極驅(qū)動(dòng)器198從像素190的矩陣的第0行順次地選擇柵極線194，并且向所選擇的柵極線194提供柵極信號(hào)，以接通連接到所選擇的柵極線194的TFT 92，從而從像素190的矩陣的第0行起一次一行地順次讀取在像素190中存儲(chǔ)的電荷。一次一行地從像素190讀取的電荷沿著信號(hào)線196向在像素190的矩陣的相應(yīng)列中的電荷放大器200 轉(zhuǎn)移。然后，在步驟Sll中，電荷被復(fù)用器202和A/D轉(zhuǎn)換器204處理，并且作為數(shù)字電信號(hào)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器184中。更具體地，存儲(chǔ)器184順次地存儲(chǔ)由從像素190的矩陣的行獲得的數(shù)字電信號(hào)表示的放射線照像圖像信息。
在存儲(chǔ)器184中存儲(chǔ)的放射線照像圖像信息與用于識(shí)別電子暗盒20A的暗盒ID 信息一起經(jīng)由無線通信鏈路從通信單元186向控制器22(見圖I)發(fā)送。在步驟S12中，控制臺(tái)22在顯示部件24上顯示由放射線照像圖像信息和暗盒ID信息表示的放射線照像圖像。暗盒控制器182也可以在顯示器控制面板56上顯示放射線照像圖像信息和暗盒ID信肩、O
醫(yī)生通過觀察在顯示部件24或顯示器控制面板56上顯示的內(nèi)容來確認(rèn)放射線照像圖像。其后，在步驟S13中，如果完成了在圖像捕獲指令中登記的全部放射線照像圖像的捕獲(步驟S13 :是)，則在步驟S14中，醫(yī)生將被檢體14從圖像捕獲基底12釋放。
然后，醫(yī)生操作顯示器控制面板56以切斷電子暗盒20A的電源。暗盒控制器182 停止從電源188向驅(qū)動(dòng)電路180和揚(yáng)聲器58提供電力。也停止從偏置電源192向像素190 提供偏置電壓。結(jié)果，電子暗盒20A從激活模式切換到休眠模式。
在步驟S15中，在已經(jīng)確認(rèn)在顯示器控制面板56上沒有顯示內(nèi)容并且電子暗盒 20A已經(jīng)切換到休眠模式后，醫(yī)生握住電子暗盒20A的把手52 (見圖2和3A)，并且將電子暗盒20A搬運(yùn)到給定的存放位置。
在步驟S13中，如果圖像捕獲指令包括低速率移動(dòng)圖像捕獲模式并且尚未完成所有移動(dòng)圖像的捕獲(步驟S13 :否)，則放射線源控制器32執(zhí)行下一個(gè)移動(dòng)圖像捕獲模式 (第二和隨后的放射線照像圖像)，并且在步驟S9中，控制放射線源30根據(jù)圖像捕獲條件向被檢體14的待成像區(qū)域施加放射線16。
在步驟S13中，如果圖像捕獲指令包括多個(gè)靜止圖像的捕獲并且尚未完成所有靜止圖像的捕獲(步驟S13 :否)，則醫(yī)生再一次執(zhí)行步驟S8，以便執(zhí)行下一個(gè)移動(dòng)圖像捕獲模式(第二和隨后的放射線照像圖像)。
如上所述，為了捕獲被檢體14的至少一個(gè)靜止圖像或?yàn)榱说退俾室苿?dòng)圖像捕獲模式，在未執(zhí)行光復(fù)位處理的情況下，在光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持鏡面狀態(tài)的同時(shí)對(duì)于被檢體14執(zhí)行放射線照像圖像捕獲處理。
上面已經(jīng)描述了對(duì)于未執(zhí)行光復(fù)位處理的情況的放射線照像圖像捕獲處理[I]。
下面將參考圖20至28來描述對(duì)于對(duì)光電檢測(cè)器部件94或像素190執(zhí)行光復(fù)位處理的情況使用ISS類型的電子暗盒20A執(zhí)行的放射線照像圖像捕獲處理[2]至[7]。
在描述放射線照像圖像捕獲處理[2]至[7]之前，將描述對(duì)于使用復(fù)位光132復(fù)位光電檢測(cè)器部件94或像素190的必要。
如果光電檢測(cè)器部件94的光電二極管(見圖6A至8B、圖11至14B和圖15B至 17)由非晶硅(a-Si)等制成，則從可見光130轉(zhuǎn)換的電荷的一些被非晶硅的雜質(zhì)能級(jí)暫時(shí)捕捉。如果隨后由于可能因?yàn)橐愿咚俾什东@移動(dòng)圖像時(shí)引起的光電二極管的溫度上升而導(dǎo)致釋放這樣的捕捉的電子，產(chǎn)生諸如暗電流的不需要的電流，可能在結(jié)果產(chǎn)生的被檢體14 的放射線照像圖像中產(chǎn)生噪聲。如在“背景技術(shù)”中所述，迄今已經(jīng)成為慣例的是，當(dāng)不向被檢體14施加放射線時(shí)，即當(dāng)未捕獲被檢體14的放射線照像圖像時(shí)，向光電二極管施加復(fù)位光132，從而將電荷嵌入在雜質(zhì)能級(jí)中，使得在向被檢體14的放射線16的施加時(shí)從可見光130轉(zhuǎn)換的電荷將不被雜質(zhì)能級(jí)捕捉，通過這種方法來減少噪聲。
然而，根據(jù)上面現(xiàn)有技術(shù)的處理，因?yàn)殡姾杀磺度胂鄬?duì)較淺的位置，所以如果光電二極管的溫度上升，則幾乎全部的電荷從雜質(zhì)能級(jí)釋放，使得在減少噪聲上低效。在高速率移動(dòng)圖像捕獲模式中，因?yàn)橛捎陂L(zhǎng)時(shí)間重復(fù)捕獲移動(dòng)圖像導(dǎo)致光電二極管的溫度上升，所以如果圖像捕獲間隔(即幀速率)和從雜質(zhì)能級(jí)釋放電荷的持續(xù)時(shí)間彼此可比較，則這樣的電荷趨向于以在各幀之間不同的速率從雜質(zhì)能級(jí)更顯著地釋放。
根據(jù)本實(shí)施例，期望電荷足夠深地嵌入在雜質(zhì)能級(jí)中以消除在幀之間的不同速率，在此期間由于光電二極管的溫度升高導(dǎo)致釋放電荷，并且還通過圖像處理序列去除或校正由以特定速率從放射線照像圖像釋放的電荷引起的噪聲。
暗電流的電平也隨光電二極管的溫度而變化。具體地說，當(dāng)光電二極管的溫度升高時(shí)，暗電流的電平變高。不僅在移動(dòng)圖像捕獲模式期間，而且如果執(zhí)行放射線照像圖像捕獲處理超過了一段長(zhǎng)的時(shí)間，諸如在靜止圖像捕獲模式中以減小的間隔捕獲靜止圖像期間，則在移動(dòng)圖像捕獲模式向靜止圖像捕獲模式切換時(shí)，并且在靜止圖像捕獲模式向移動(dòng)圖像捕獲模式切換時(shí)，光電二極管的溫度很可能升高，并且由于暗電流信號(hào)導(dǎo)致的噪聲不可忽略。
如果由于光電二極管的溫度升高導(dǎo)致的噪聲提高達(dá)到這樣的噪聲不可忽略的程度，則如果光電二極管的溫度高于閾值溫度Tc，如圖22中所示，那么期望從初始值FthO減小幀速率閾值Fth，并且根據(jù)光電二極管的溫度確定是否應(yīng)當(dāng)復(fù)位光電檢測(cè)器部件94，而不管圖像捕獲指令是否已經(jīng)指示了低速率移動(dòng)圖像捕獲模式或高速率移動(dòng)圖像捕獲模式。
在放射線照像圖像捕獲處理中，在如圖20至28中所示執(zhí)行光復(fù)位處理的情況下， 根據(jù)包括由非晶硅制成的光電二極管的光電檢測(cè)器部件94的溫度來確定是否應(yīng)當(dāng)執(zhí)行光復(fù)位處理。
下面將參考圖20至28來分別描述執(zhí)行了光復(fù)位處理的放射線照像圖像捕獲處理[2]至[7]。
[2]下面將描述根據(jù)圖像捕獲指令的放射線照像圖像捕獲處理，該圖像捕獲指令包括靜止圖像捕獲模式或低速率移動(dòng)圖像捕獲模式，并且在圖像捕獲模式之前至少執(zhí)行一次光復(fù)位處理(見圖20)。
因?yàn)樾枰哔|(zhì)量放射線照像圖像，所以假定在圖像捕獲模式之前至少執(zhí)行一次光復(fù)位處理，以便獲得其中僅有輕微噪聲的放射線照像圖像。更具體地，即使給出了上述關(guān)于放射線照像圖像捕獲處理[I]的圖像捕獲指令，假定在圖像捕獲模式之前至少執(zhí)行光一次復(fù)位處理，以便獲得較高質(zhì)量的放射線照像圖像。
在圖20中所示的步驟S21中，在步驟S5(見圖18)之后，光復(fù)位操作確定器214 確定在圖像捕獲模式之前需要至少執(zhí)行一次光復(fù)位處理，因?yàn)橛蓤D像捕獲指令確定器210 識(shí)別的圖像捕獲方法表示捕獲至少一個(gè)放射線照像圖像的放射線照像圖像捕獲模式或低速率移動(dòng)圖像捕獲模式。然后，光復(fù)位操作確定器214向?yàn)V光器控制器216和向光源控制器218輸出需要在圖像捕獲模式之前至少執(zhí)行一次光復(fù)位處理的判定，同時(shí)也在顯示器控制面板56上顯不該判定。揚(yáng)聲器58也可以輸出表不該判定的聲音。
在步驟S21中，基于來自光復(fù)位操作確定器214的判定，濾光器控制器216向切換濾光器76(見圖34、圖44、圖6八至88、圖11至14B與圖15B和16)施加電壓，以便將光調(diào)節(jié)鏡膜層122從鏡面狀態(tài)切換到透明狀態(tài)?；谕慌卸?，光源控制器218激勵(lì)復(fù)位光源 78開始發(fā)射復(fù)位光132。
在步驟S22中，復(fù)位光132穿過光調(diào)節(jié)鏡膜層122到達(dá)光電檢測(cè)器基板72，從而開始用于使用復(fù)位光132復(fù)位光電檢測(cè)器部件94，即像素190的光復(fù)位處理。其后，光源控制器218切斷復(fù)位光源78的電源，使得停止復(fù)位光132的發(fā)射，從而結(jié)束光復(fù)位處理。
如果濾光器控制器216基于在步驟S23中來自光復(fù)位操作確定器214的判定(步驟S23 :否)確定需要將光調(diào)節(jié)鏡膜層122返回到鏡面狀態(tài)，則在步驟S24中，濾光器控制器216向切換濾光器76施加在極性上與步驟S21施加的電壓相反的電壓，以便將光調(diào)節(jié)鏡膜層122從透明狀態(tài)切換到鏡面狀態(tài)。
在光復(fù)位處理結(jié)束后，放射線照像圖像捕獲系統(tǒng)10執(zhí)行圖19中所示的步驟S8。
在圖20中所示的步驟S23中，濾光器控制器216根據(jù)下面的標(biāo)準(zhǔn)來確定光調(diào)節(jié)鏡膜層122是否應(yīng)當(dāng)切換到鏡面狀態(tài)。
在用于捕獲單個(gè)靜止圖像的放射線照像圖像捕獲模式中，如果在圖像捕獲模式之前將光電檢測(cè)器部件94復(fù)位一次，則可以獲得其中僅有輕微噪聲的放射線照像圖像。如果切換濾光器76處于鏡面狀態(tài)，則因?yàn)槌蚬怆姍z測(cè)器基板72反射可見光130，可以容易地提高光電檢測(cè)器部件94的靈敏度。在用于捕獲多個(gè)放射線照像圖像的放射線照像圖像捕獲模式或低速率移動(dòng)圖像捕獲模式中，因?yàn)槿绻东@圖像超過較長(zhǎng)的時(shí)間間隔則預(yù)期光電二極管的溫度不顯著升高，所以可以捕獲高質(zhì)量的放射線照像圖像，即使在捕獲第二和隨后的放射線照像圖像之前未復(fù)位光電檢測(cè)器部件94。
因此，在這樣的圖像捕獲模式中，為了以高靈敏度獲得高質(zhì)量的放射線照像圖像， 濾光器控制器216可以確定光調(diào)節(jié)鏡膜層122應(yīng)當(dāng)切換回到鏡面狀態(tài)。
如上所述，對(duì)于ISS類型的電子暗盒20A(或電子暗盒20B)，因?yàn)閺?fù)位光源78、切換濾光器76、光電檢測(cè)器基板72和閃爍器74以此順序沿著施加放射線16的方向順次地布置，所以放射線16穿過復(fù)位光源78，并且被施加到閃爍器74。因此，復(fù)位光源78可能被這樣的放射線16觸發(fā)，并且發(fā)射復(fù)位光132。然而，如上所述，如果光調(diào)節(jié)鏡膜層122處于鏡面狀態(tài)，則因?yàn)閺?fù)位光132被光調(diào)節(jié)鏡膜層122反射，所以在放射線照像圖像捕獲處理期間可靠地防止復(fù)位光132施加到光電檢測(cè)器基板72。
對(duì)于ISS類型的電子暗盒20A (或電子暗盒20B)，因?yàn)楣庹{(diào)節(jié)鏡膜層122需要在放射線照像圖像捕獲處理期間保持在鏡面狀態(tài)，如上所述，所以濾光器控制器216在步驟S23 中作出肯定的判定(步驟S23 :是)?；蛘撸梢允÷圆襟ES23，從而，控制直接從步驟S22跳到步驟S24。然而，對(duì)于PSS類型的電子暗盒20C、20D，濾光器控制器216可以作出肯定的判定或否定的判定。下面將描述PSS類型的電子暗盒20C、20D的操作。
因此，在放射線照像圖像捕獲處理[2]中，在圖像捕獲模式之前至少執(zhí)行一次光復(fù)位處理。在已經(jīng)執(zhí)行了光復(fù)位處理后，光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在鏡面狀態(tài)，并且執(zhí)行用于捕獲靜止圖像的放射線照像圖像捕獲模式或低速率移動(dòng)圖像捕獲模式。
[3]下面將描述根據(jù)圖像捕獲指令的放射線照像圖像捕獲處理，該圖像捕獲指令包括多個(gè)圖像的捕獲(靜止圖像捕獲模式或移動(dòng)圖像捕獲模式)，并且在圖像捕獲周期之間執(zhí)行光復(fù)位處理(見圖21)。
假定在用于捕獲多個(gè)靜止圖像的圖像捕獲模式、低速率移動(dòng)圖像捕獲模式或高速率移動(dòng)圖像捕獲模式中順次捕獲圖像的同時(shí)，執(zhí)行光復(fù)位處理。
在步驟S13中，如果尚未完成所有移動(dòng)圖像的捕獲(步驟S13 :否)，則在步驟S25 中，光復(fù)位操作確定器214(見圖17)確定需要在圖像捕獲周期之間執(zhí)行光復(fù)位處理(步驟S25:是)，因?yàn)橛蓤D像捕獲指令確定器210作出的判定表示多個(gè)圖像的捕獲(用于捕獲多個(gè)靜止圖像的圖像捕獲模式或移動(dòng)圖像捕獲模式)。光復(fù)位操作確定器214向?yàn)V光器控制器216和光源控制器218輸出該判定，同時(shí)也在顯示器控制面板56上顯示該判定。光復(fù)位操作確定器214也可以從揚(yáng)聲器58輸出用于指不該判定的聲音。
在步驟S26中，基于來自光復(fù)位操作確定器214的判定，濾光器控制器216確定光調(diào)節(jié)鏡膜層122 (見圖6A至8B、圖11至14B以及圖15B和16)是否處于鏡面狀態(tài)。在步驟 S26中，如果光調(diào)節(jié)鏡膜層122處于鏡面狀態(tài)(步驟S26 :是)，則在步驟S27中，與步驟S21 類似，濾光器控制器216向切換濾光器76施加電壓，以便將光調(diào)節(jié)鏡膜層122從鏡面狀態(tài)切換到透明狀態(tài)。
基于同一判定，光源控制器218以與步驟S22相同的方式來激勵(lì)復(fù)位光源78開始發(fā)射復(fù)位光132。更具體地，在步驟S28中，復(fù)位光132穿過光調(diào)節(jié)鏡膜層122，并且被施加到光電檢測(cè)器基板72，從而復(fù)位光電檢測(cè)器部件94，即，像素190。
其后，光源控制器218切斷復(fù)位光源78的電源，以便停止發(fā)射復(fù)位光132。在步驟 S29中，濾光器控制器216向切換濾光器76施加與在步驟S27中的電壓在極性上相反的電壓，以從而將光調(diào)節(jié)鏡膜層122從透明狀態(tài)切換到鏡面狀態(tài)。其后，控制返回到圖19中所示的步驟S9，在該步驟中放射線照像圖像捕獲系統(tǒng)10執(zhí)行下一個(gè)放射線照像圖像捕獲處理。
因此，在放射線照像圖像捕獲處理[3]中，關(guān)于圖像捕獲指令，在圖像捕獲周期之間執(zhí)行步驟S25至S29，該圖像捕獲指令包括用于捕獲多個(gè)靜止圖像的圖像捕獲模式、低速率移動(dòng)圖像捕獲模式或高速率移動(dòng)圖像捕獲模式。因此，在一個(gè)幀期間在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間交替切換光調(diào)節(jié)鏡膜層122，并且在透明狀態(tài)期間執(zhí)行光復(fù)位處理。
在放射線照像圖像捕獲處理[3]中，與放射線照像圖像捕獲處理[2] —樣，對(duì)于 ISS類型的電子暗盒20A、20B，光調(diào)節(jié)鏡膜層122在捕獲圖像的同時(shí)保持在鏡面狀態(tài)。因此，在步驟S26中，濾光器控制器216作出肯定的判定(步驟S26:是)?；蛘撸梢允÷圆襟ES26，從而，控制從步驟S25直接跳到步驟S27。然而，對(duì)于PSS類型的電子暗盒20C、20D， 濾光器控制器216可以在步驟S26中作出肯定判定或否定判定，如下所述。
在步驟S25中，即使由圖像捕獲指令確定器210作出的判斷表示多個(gè)圖像的捕獲，如果光復(fù)位操作確定器214判定不必在圖像捕獲周期之間執(zhí)行光復(fù)位處理(步驟S25 否)，光復(fù)位操作確定器214也向?yàn)V光器控制器216和光源控制器218輸出該判定，同時(shí)在顯示器控制面板56上顯示該判定。光復(fù)位操作確定器214也可以從揚(yáng)聲器58輸出用于指示該判定的聲音。其后，控制返回到圖19中所示的步驟S9，在該步驟中放射線照像圖像捕獲系統(tǒng)10執(zhí)行下一個(gè)放射線照像圖像捕獲處理。
在步驟S25中，除了上面的圖像捕獲方法(用于捕獲多個(gè)靜止圖像的圖像捕獲模式或移動(dòng)圖像捕獲模式)之外，光復(fù)位操作確定器214可以根據(jù)光電檢測(cè)器部件94的溫度來確定是否要在圖像捕獲周期之間執(zhí)行光復(fù)位處理。
例如，在前一個(gè)圖像捕獲周期中從像素190讀取的電信號(hào)的像素值中，假定從位于未被放射線16照射的區(qū)域中的像素190讀取的電信號(hào)的像素值是依賴于暗電流的像素值?；趶倪@樣的像素190讀取的(依賴于暗電流的)電信號(hào)的像素值，溫度檢測(cè)器212 檢測(cè)像素190，即光電二極管的溫度，并且向光復(fù)位操作確定器214輸出所檢測(cè)的溫度。
在步驟S25中，光復(fù)位操作確定器214識(shí)別對(duì)應(yīng)于圖22中的溫度檢測(cè)器212檢測(cè)的溫度的幀速率閾值Fth，并且將幀速率閾值Fth與圖像捕獲指令確定器210識(shí)別的圖像捕獲方法的幀速率作比較。如果所識(shí)別的圖像捕獲方法的幀速率大于依賴于所檢測(cè)的溫度的幀速率閾值Fth，則在步驟S25中，光復(fù)位操作確定器214確定需要復(fù)位像素190 (步驟S25 是)。如果所識(shí)別的圖像捕獲方法的幀速率小于依賴于所檢測(cè)的溫度的幀速率閾值FthJlJ 在步驟S25中，光復(fù)位操作確定器214確定不必復(fù)位像素190 (步驟S25 :否)。
如果由溫度檢測(cè)器212檢測(cè)的溫度小于閾值溫度Tc，并且?guī)俾书撝礔th處于初始值FthO，則光復(fù)位操作確定器214不基于光電檢測(cè)器部件94的溫度來確定是否需要執(zhí)行光復(fù)位處理，而可以僅通過將圖像捕獲方法的幀速率與幀速率閾值FthO作比較來確定是否需要執(zhí)行光復(fù)位處理。
在放射線照像圖像捕獲處理[2]和[3]中，根據(jù)圖像捕獲指令使用放射線16來成像被檢體14，該圖像捕獲指令包括用于捕獲至少一個(gè)靜止圖像的圖像捕獲模式、低速率移動(dòng)圖像捕獲模式和高速率移動(dòng)圖像捕獲模式的至少一個(gè)。
然而，如圖23A至23C中所示，例如，特定的圖像捕獲指令包括兩個(gè)或更多的圖像捕獲模式，而不僅是一個(gè)圖像捕獲模式。例如，圖23A示出其中靜止圖像捕獲模式切換到移動(dòng)圖像捕獲模式的圖像捕獲指令。圖23B示出其中移動(dòng)圖像捕獲模式切換到靜止圖像捕獲模式的圖像捕獲指令。圖23C示出其中靜止圖像捕獲模式切換到低速率移動(dòng)圖像捕獲模式并且然后切換到高速率移動(dòng)圖像捕獲模式的圖像捕獲指令。
根據(jù)包括兩個(gè)或更多圖像捕獲模式的圖像捕獲指令，光調(diào)節(jié)鏡膜層122在切換圖像捕獲模式的時(shí)刻(時(shí)間段T)在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間切換(見圖23A和23B)，或者替代地，如果圖像捕獲間隔相對(duì)較長(zhǎng)則預(yù)先在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間切換(見圖23C)。
下面將參考圖24至28來描述用于包括兩個(gè)或更多圖像捕獲模式的圖像捕獲指令的放射線照像圖像捕獲處理[4]至[7]和光復(fù)位處理。
[4]下面將描述根據(jù)圖像捕獲指令的放射線照像圖像捕獲處理，該圖像捕獲指令包括以下述順序的序列用于捕獲至少一個(gè)靜止圖像的圖像捕獲模式和移動(dòng)圖像捕獲模式，并且切換濾光器76在靜止圖像捕獲模式向移動(dòng)圖像捕獲模式切換的時(shí)刻在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間切換(見圖23A)。
在靜止圖像捕獲模式中，光調(diào)節(jié)鏡膜層122 (見圖6A至SB、圖11至14B以及圖15B 和16)處于鏡面狀態(tài)。在靜止圖像捕獲模式切換到移動(dòng)圖像捕獲模式的時(shí)間段T之后，依賴于移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率，光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在鏡面狀態(tài)，或在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間交替切換。光調(diào)節(jié)鏡膜層122在時(shí)間段T期間在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間切換。在放射線照像圖像捕獲處理[4]中的移動(dòng)圖像捕獲模式指的是低速率移動(dòng)圖像捕獲模式或高速率移動(dòng)圖像捕獲模式。
如果在圖像捕獲指令中包括的圖像捕獲方法表示以下述順序的序列靜止圖像捕獲模式和移動(dòng)圖像捕獲模式(步驟S31 :是)(見圖24)，則在圖18中所示的步驟S5后，控制進(jìn)行到步驟S7(見圖18)，在該步驟光調(diào)節(jié)鏡膜層122被設(shè)置為鏡面狀態(tài)，并且執(zhí)行靜止圖像捕獲模式。
在步驟S13中，在已經(jīng)確定尚未完成所有放射線照像圖像的捕獲后(步驟S13 否)(見圖19)，如果從圖像捕獲指令確定器210 (見圖17)發(fā)送的判定指示以下述順序的的序列靜止圖像捕獲模式和移動(dòng)圖像捕獲模式(步驟S41 :是)(見圖25)，則在步驟S42 中，光復(fù)位操作確定器214確定當(dāng)前時(shí)間是否表示靜止圖像捕獲模式向移動(dòng)圖像捕獲模式切換的時(shí)刻。
如果光復(fù)位操作確定器214確定當(dāng)前時(shí)間不表示靜止圖像捕獲模式向移動(dòng)圖像捕獲模式切換的時(shí)刻，即，下一個(gè)模式也是靜止圖像捕獲模式(步驟S42 :否)，則光復(fù)位操作確定器214在顯不器控制面板56上顯不該判定。醫(yī)生確認(rèn)在顯不器控制面板56上顯不的判定，并且控制返回到圖19中的步驟S8，以便再次執(zhí)行下一個(gè)靜止圖像捕獲模式。
如果光復(fù)位操作確定器214確定當(dāng)前時(shí)間是在時(shí)間段T期間靜止圖像捕獲模式向移動(dòng)圖像捕獲模式切換的時(shí)刻(步驟S42 :是)，則在步驟S43中，光復(fù)位操作確定器214確定是否應(yīng)當(dāng)執(zhí)行光復(fù)位處理。
如果前一個(gè)圖像捕獲模式是具有較高放射線劑量的靜止圖像捕獲模式，而下一個(gè)圖像捕獲模式是具有較低放射線劑量的移動(dòng)圖像捕獲模式，則光復(fù)位操作確定器214確定需要執(zhí)行光復(fù)位處理(步驟S43 :是)。光復(fù)位操作確定器214向?yàn)V光器控制器216和光源控制器218輸出指示要執(zhí)行光復(fù)位處理的判定，并且在顯示器控制面板56上顯示該判定。 光復(fù)位操作確定器214也可以從揚(yáng)聲器58輸出指不該判定的聲音。
在步驟S44中，濾光器控制器216向切換濾光器76 (見圖3A、圖4A、圖6A至8B、圖 11至14B以及圖15B和16)施加電壓以將光調(diào)節(jié)鏡膜層122從鏡面狀態(tài)切換到透明狀態(tài)。 光源控制器218激勵(lì)復(fù)位光源78開始發(fā)射復(fù)位光132。在步驟S45中，復(fù)位光132穿過光調(diào)節(jié)鏡膜層122到達(dá)光電檢測(cè)器基板72，從而開始復(fù)位光電檢測(cè)器部件94，即像素190的光復(fù)位處理。其后，光源控制器218切斷復(fù)位光源78的電源，以停止發(fā)射復(fù)位光132，從而結(jié)束光復(fù)位處理。在步驟S47中，濾光器控制器216向切換濾光器76施加在極性上與步驟 S44施加的電壓相反的電壓，以將光調(diào)節(jié)鏡膜層122從透明狀態(tài)切換到鏡面狀態(tài)。在步驟 S47后，控制進(jìn)行到圖19中的步驟S9，在該步驟中開始執(zhí)行移動(dòng)圖像捕獲模式，S卩，低速率移動(dòng)圖像捕獲模式或高速率移動(dòng)圖像捕獲模式。
在步驟S43中，如果圖23A中所示的時(shí)間段T相對(duì)較長(zhǎng)，并且光電二極管的溫度沒有顯著升高，或如果即使未執(zhí)行光復(fù)位處理由于暗電流導(dǎo)致的噪聲也不嚴(yán)重，或如果前一個(gè)圖像捕獲模式是具有相對(duì)較低放射線劑量的靜止圖像捕獲模式，則在步驟S43中，光復(fù)位操作確定器214確定不必執(zhí)行光復(fù)位處理(步驟S43 :否)。光復(fù)位操作確定器214向?yàn)V光器控制器216和光源控制器218輸出該判定，同時(shí)在顯示器控制面板56上顯示該判定。 在該情況下，因?yàn)楣庹{(diào)節(jié)鏡膜層122保持在鏡面狀態(tài)，所以跳過步驟S47，如在圖25中的虛線所示，并且其后，控制進(jìn)行到圖19中的步驟S9，在該步驟期間，開始執(zhí)行移動(dòng)圖像捕獲模式，即，低速率移動(dòng)圖像捕獲模式或高速率移動(dòng)圖像捕獲模式。
在放射線照像圖像捕獲處理[4]中，與放射線照像圖像捕獲處理[2]和[3]相同， 對(duì)于ISS類型的電子暗盒20A、20B，光調(diào)節(jié)鏡膜層122需要在捕獲圖像的同時(shí)保持在鏡面狀態(tài)。因此，光調(diào)節(jié)鏡膜層122在步驟S45和S47中結(jié)束光電檢測(cè)器部件94的復(fù)位后馬上返回到鏡面狀態(tài)。然而，對(duì)于PSS類型的電子暗盒20C、20D，可以依賴于幀速率的量值來執(zhí)行在步驟S46至S48中選擇鏡面狀態(tài)或透明狀態(tài)的序列，如下所述。
[5]根據(jù)圖像捕獲指令的放射線照像圖像捕獲處理包括以下述順序的序列移動(dòng)圖像捕獲模式和用于捕獲至少一個(gè)靜止圖像的圖像捕獲模式，并且切換濾光器76在移30動(dòng)圖像捕獲模式切換到靜止圖像捕獲模式的時(shí)刻在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間切換(見圖 23B)。
在移動(dòng)圖像捕獲模式中，光調(diào)節(jié)鏡膜層122 (見圖6A至8B、圖11至14B以及圖15B 和16)處于鏡面狀態(tài)。或者，在一個(gè)幀中鏡面狀態(tài)切換到透明狀態(tài)并且移動(dòng)圖像捕獲模式切換到靜止圖像捕獲模式的時(shí)間段T之后，光調(diào)節(jié)鏡膜層122在靜止圖像捕獲模式中保持在鏡面狀態(tài)。光調(diào)節(jié)鏡膜層122在時(shí)間段T期間在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間切換。放射線照像圖像捕獲處理[5]中的移動(dòng)圖像捕獲模式也可以指的是低速率移動(dòng)圖像捕獲模式或高速率移動(dòng)圖像捕獲模式。
在圖18中的步驟S5后，如果在步驟S31(步驟S31 :否)中和在步驟S32(步驟 S32:是)中在圖像捕獲指令中包括的圖像捕獲方法表示以下述順序的的序列移動(dòng)圖像捕獲模式和靜止圖像捕獲模式(見圖24)，并且如果移動(dòng)圖像捕獲模式是低速率移動(dòng)圖像捕獲模式(步驟S33 :是)，則在步驟S7和隨后的步驟中，執(zhí)行低速率移動(dòng)圖像捕獲模式，并且光調(diào)節(jié)鏡膜層122處于鏡面狀態(tài)。
如果移動(dòng)圖像捕獲模式是高速率移動(dòng)圖像捕獲模式(步驟S33 :否)，則控制進(jìn)行到圖20中的步驟S21至S24。在移動(dòng)圖像的捕獲前已經(jīng)復(fù)位了光電檢測(cè)器部件94之后，執(zhí)行圖19中的步驟S8和隨后的步驟。
然后，在步驟S13中，在已經(jīng)確定尚未完成所有放射線照像圖像的捕獲后(步驟 S13 :否)(見圖19)，因?yàn)樵诓襟ES41 (步驟S41 :否)(見圖25)和步驟S51 (步驟S51 :是) (見圖26)中從圖像捕獲指令確定器210發(fā)送的判定指示以下述順序的的序列移動(dòng)圖像捕獲模式和靜止圖像捕獲模式，所以在步驟S52，光復(fù)位操作確定器214確定當(dāng)前時(shí)間是否表示從移動(dòng)圖像捕獲模式向靜止圖像捕獲模式切換的時(shí)刻。
如果光復(fù)位操作確定器214確定當(dāng)前時(shí)間表示從移動(dòng)圖像捕獲模式向靜止圖像捕獲模式切換的時(shí)刻，即，在時(shí)間段T期間下一個(gè)模式是靜止圖像捕獲模式(步驟S52 是)，則在步驟S53中，光復(fù)位操作確定器214確定是否要執(zhí)行光復(fù)位處理。
如果要在靜止圖像捕獲模式中獲得僅有輕微噪聲的放射線照像圖像，或者如果移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率大于依賴于光電二極管的溫度的幀速率閾值Fth (見圖22)，則在步驟S53中，光復(fù)位操作確定器214確定需要執(zhí)行光復(fù)位處理(步驟S53 :是)。光復(fù)位操作確定器214向?yàn)V光器控制器216和光源控制器218輸出指示要執(zhí)行光復(fù)位處理的判定， 同時(shí)也在顯示器控制面板56上顯示該判定。光復(fù)位操作確定器214也可以從揚(yáng)聲器58輸出指示該判定的聲音。
在步驟S54中，濾光器控制器216向切換濾光器76施加電壓，以將光調(diào)節(jié)鏡膜層 122從鏡面狀態(tài)切換到透明狀態(tài)。光源控制器218激勵(lì)復(fù)位光源78開始發(fā)射復(fù)位光132。 在步驟S55中，復(fù)位光132穿過光調(diào)節(jié)鏡膜層122到達(dá)光電檢測(cè)器基板72，從而開始復(fù)位光電檢測(cè)器部件94，即像素190的光復(fù)位處理。其后，控制進(jìn)行到圖18中的步驟S7，以將光調(diào)節(jié)鏡膜層122切換到鏡面狀態(tài)。然后，執(zhí)行19中的步驟S8和隨后的步驟，從而執(zhí)行靜止圖像捕獲模式。
在步驟S52中，如果光復(fù)位操作確定器214確定當(dāng)前時(shí)間不是移動(dòng)圖像捕獲模式應(yīng)當(dāng)切換到靜止圖像捕獲模式的時(shí)刻，即，下一個(gè)模式也是移動(dòng)圖像捕獲模式(步驟S52 否)，則在步驟S56中，光復(fù)位操作確定器214確定下一個(gè)移動(dòng)圖像捕獲模式是否是低速率移動(dòng)圖像捕獲模式。
如果下一個(gè)移動(dòng)圖像捕獲模式是低速率移動(dòng)圖像捕獲模式(步驟S56 :是)，則執(zhí)行圖19中的步驟S9。如果下一個(gè)移動(dòng)圖像捕獲模式是高速率移動(dòng)圖像捕獲模式(步驟 S56 :否)，則執(zhí)行圖21中的步驟S25。
如果時(shí)間段T較長(zhǎng)，并且預(yù)期即使不執(zhí)行光復(fù)位處理也可以在靜止圖像捕獲模式中獲得僅有輕微噪聲的高質(zhì)量放射線照像圖像，或者如果移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率低于依賴于光電二極管的溫度的幀速率閾值Fth，則在步驟S53中，光復(fù)位操作確定器214確定不必執(zhí)行光復(fù)位處理(步驟S53 :否)。光復(fù)位操作確定器214在顯示器控制面板56上顯示該判定。其后，在圖19中的步驟S8和隨后的步驟中，執(zhí)行靜止圖像捕獲模式。
在步驟S53中，如果光復(fù)位操作確定器214基于光電二極管的溫度來確定是否應(yīng)當(dāng)執(zhí)行光復(fù)位處理，則如上關(guān)于放射線照像圖像捕獲處理[3]所述，光復(fù)位操作確定器214 可以從未使用放射線16照射的像素190讀取的像素值來檢測(cè)光電二極管的溫度，以便基于依賴于所檢測(cè)的溫度的幀速率閾值Fth (或FthO)和移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率來確定是否應(yīng)當(dāng)執(zhí)行光復(fù)位處理。
[6]下面將描述根據(jù)圖像捕獲指令的放射線照像圖像捕獲處理，該圖像捕獲指令包括具有不同幀速率的兩個(gè)移動(dòng)圖像捕獲模式(見圖23C的部分)。
以低速率移動(dòng)圖像捕獲模式和高速率移動(dòng)圖像捕獲模式的順序的序列或以高速率移動(dòng)圖像捕獲模式和低速率移動(dòng)圖像捕獲模式的順序的序列來執(zhí)行放射線照像圖像捕獲處理。
根據(jù)放射線照像圖像捕獲處理[6]，不同于放射線照像圖像捕獲處理[4]和[5]， 即使依賴于光電二極管的溫度或圖像捕獲間隔在放射線照像圖像捕獲處理期間改變幀速率(由于從低速率移動(dòng)圖像捕獲模式切換到高速率移動(dòng)圖像捕獲模式或由于從高速率移動(dòng)圖像捕獲模式切換到低速率移動(dòng)圖像捕獲模式)，光調(diào)節(jié)鏡膜層122 (見圖6A至SB、圖11 至14B以及圖15B和16)也可以繼續(xù)在一個(gè)幀中在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間交替切換。
在圖18中的步驟S5后，在步驟S31(步驟S31 :否)(見圖24)和步驟S32(步驟 S32 :否)中順次地執(zhí)行在圖像捕獲指令中包括的兩個(gè)移動(dòng)圖像捕獲模式，并且如果圖像捕獲指令指示初始執(zhí)行低速率移動(dòng)圖像捕獲模式(步驟S34 :是)，則在圖18中的步驟S7和隨后的步驟中，執(zhí)行低速率移動(dòng)圖像捕獲模式，并且將光調(diào)節(jié)鏡膜層122設(shè)置到鏡面狀態(tài)。
如果圖像捕獲指令指示初始執(zhí)行高速率移動(dòng)圖像捕獲模式(步驟S34 :否)，則在圖像的捕獲之前，執(zhí)行圖20中的步驟S21至S24的序列，并且在光復(fù)位處理后執(zhí)行圖19中的步驟S8和隨后的步驟的序列。
在已經(jīng)確定了尚未完成所有移動(dòng)圖像的捕獲后(步驟S13 :否)，如果來自圖像捕獲指令確定器210的判定指示在圖25中的步驟S41 (步驟S41 :否)中和在圖26中的步驟 S51(步驟S51 :否)中順次地執(zhí)行兩個(gè)圖像捕獲模式，并且在步驟S61中，如果判定指示在圖27中以下述順序順次地執(zhí)行低速率移動(dòng)圖像捕獲模式和高速率移動(dòng)圖像捕獲模式(步驟S61 :是)，則在步驟S64中，光復(fù)位操作確定器214(見圖17)確定是否需要執(zhí)行光復(fù)位處理。
如果低速率移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率高于依賴于光電二極管的溫度的幀速率閾值Fth (見圖22)，或者如果下一個(gè)圖像捕獲模式是高速率移動(dòng)圖像捕獲模式，則在步驟S64中，光復(fù)位操作確定器214確定需要光復(fù)位處理(步驟S64 :是)，并且向?yàn)V光器控制器 216和光源控制器218輸出需要執(zhí)行光復(fù)位處理的判定，同時(shí)在顯示器控制面板56上顯示該判定。揚(yáng)聲器58也可以輸出表不判定的聲音。
濾光器控制器216將光調(diào)節(jié)鏡膜層122從鏡面狀態(tài)切換到透明狀態(tài)。光源控制器 218激勵(lì)復(fù)位光源78開始發(fā)射復(fù)位光132。在步驟S65中，復(fù)位光132穿過光調(diào)節(jié)鏡膜層 122并且施加到光電檢測(cè)器基板72，從而開始使用復(fù)位光132復(fù)位光電檢測(cè)器部件94，即像素190的光復(fù)位處理。其后，在圖28中的步驟S74中，濾光器控制器216將光調(diào)節(jié)鏡膜層122從透明狀態(tài)切換回鏡面狀態(tài)。其后，執(zhí)行在圖19中的步驟S9和隨后的步驟，S卩，執(zhí)行移動(dòng)圖像捕獲模式(低速率移動(dòng)圖像捕獲模式或高速率移動(dòng)圖像捕獲模式)。
如果光復(fù)位操作確定器214確定不需要光復(fù)位處理(步驟S64 :否)，即，如果低速率移動(dòng)圖像捕獲模式的巾貞速率低于依賴于光電二極管的溫度的巾貞速率閾值Fth,則在將光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在鏡面狀態(tài)的同時(shí)執(zhí)行步驟S9和隨后的步驟。
如果確定要以下述順序來執(zhí)行高速率移動(dòng)圖像捕獲模式和低速率移動(dòng)圖像捕獲模式(步驟S61 :否)，則在圖28中的步驟S71中，光復(fù)位操作確定器214確定是否需要光復(fù)位處理。
如果移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率高于依賴于光電二極管的溫度的幀速率閾值 Fth,則光復(fù)位操作確定器214確定需要光復(fù)位處理(步驟S71 :是)。光復(fù)位操作確定器 214向?yàn)V光器控制器216和光源控制器218輸出該判定，同時(shí)在顯不器控制面板56上顯不該判定。光復(fù)位操作確定器214也可以從揚(yáng)聲器58輸出指不該判定的聲音。
在步驟S54中，濾光器控制器216向切換濾光器76施加電壓，以將光調(diào)節(jié)鏡膜層 122從鏡面狀態(tài)切換到透明狀態(tài)。光源控制器218激勵(lì)復(fù)位光源78開始發(fā)射復(fù)位光132。 在步驟S72中，復(fù)位光132穿過光調(diào)節(jié)鏡膜層122到達(dá)光電檢測(cè)器基板72，從而開始復(fù)位光電檢測(cè)器部件94，即像素190的光復(fù)位處理。其后，光源控制器218切斷復(fù)位光源78的電源，以停止發(fā)射復(fù)位光132，從而結(jié)束光復(fù)位處理。在步驟S74中，濾光器控制器216將光調(diào)節(jié)鏡膜層122從透明狀態(tài)切換到鏡面狀態(tài)。其后，執(zhí)行圖19中的步驟S9和隨后的步驟。
如果移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率低于依賴于光電二極管的溫度的幀速率閾值 Fth，則在步驟S71中，光復(fù)位操作確定器214確定不需要光復(fù)位處理(步驟S71 :否)。光復(fù)位操作確定器214向?yàn)V光器控制器216和光源控制器218輸出該判定，同時(shí)在顯示器控制面板56上顯示該判定。
[7]下面將描述根據(jù)圖像捕獲指令的放射線照像圖像捕獲處理，該圖像捕獲指令包括具有不同幀速率的兩個(gè)移動(dòng)圖像捕獲模式和用于捕獲至少一個(gè)靜止圖像的圖像捕獲模式(見圖23C)。
以靜止圖像捕獲模式、低速率移動(dòng)圖像捕獲模式和高速率移動(dòng)圖像捕獲模式的順序的序列來執(zhí)行放射線照像圖像捕獲處理。
放射線照像圖像捕獲處理[4]適用于從靜止圖像捕獲模式向低速率移動(dòng)圖像捕獲模式切換。
放射線照像圖像捕獲處理[6]適用于從低速率移動(dòng)圖像捕獲模式向高速率移動(dòng)圖像捕獲模式切換。
也可以以高速率移動(dòng)圖像捕獲模式、低速率移動(dòng)圖像捕獲模式和靜止圖像捕獲模式的順序的序列或以低速率移動(dòng)圖像捕獲模式、靜止圖像捕獲模式和高速率移動(dòng)圖像捕獲模式的順序的序列來執(zhí)行放射線照像圖像捕獲處理[7]。放射線照像圖像捕獲處理[4]至 [6]也適用于這樣的修改。根據(jù)本實(shí)施例，基于幀速率和光電二極管的溫度來確定是否需要光復(fù)位處理。如果對(duì)光電檢測(cè)器部件94執(zhí)行光復(fù)位處理，則復(fù)位光電檢測(cè)器部件94，以便將光電二極管的雜質(zhì)能級(jí)充分地嵌入電荷，從而消除由于光電二極管的溫度上升導(dǎo)致的在幀之間從雜質(zhì)能級(jí)釋放的電荷的數(shù)量上的變化。如果在移動(dòng)圖像捕獲模式等中捕獲多個(gè)圖像，則使得從雜質(zhì)能級(jí)釋放的電荷的數(shù)量在幀之間恒定。在其中執(zhí)行光復(fù)位處理的放射線照像圖像捕獲處理[2]至[7]中，在步驟S12中，暗盒控制器182或控制臺(tái)22可以執(zhí)行用于從放射線照像圖像去除由特定數(shù)量的釋放的電荷引起的噪聲，即，用于校正放射線照像圖像的圖像處理序列。因此，可以在顯示器控制面板56和顯示部件M上顯示沒有噪聲的高質(zhì)量放射線照像圖像。根據(jù)本實(shí)施例的其中包含電子暗盒20的放射線照像圖像捕獲系統(tǒng)10如上所述運(yùn)行。對(duì)于本實(shí)施例的修改下面將詳細(xì)描述對(duì)于根據(jù)第二至第四示例的電子暗盒20(電子暗盒20A至20D) 和電子暗盒20B至20D的修改。將參考圖18至觀關(guān)于它們的結(jié)構(gòu)和操作細(xì)節(jié)描述根據(jù)第二至第四示例的電子暗盒20B至20D。圖29A和29B示出用于更精確和更有效地檢測(cè)光電二極管的溫度的切換濾光器 W。如圖29A和^B中所示，光調(diào)節(jié)鏡膜層122具有在其中限定的窗口 230，用于允許復(fù)位光132總是從其中通過。窗口 230應(yīng)當(dāng)優(yōu)選地布置在面向光電檢測(cè)器部件94的位置， 光電檢測(cè)器部件94位于預(yù)計(jì)其溫度要升高的區(qū)域。更優(yōu)選的是，窗口 230應(yīng)當(dāng)布置在面向光電檢測(cè)器部件94的位置，光電檢測(cè)器部件94位于未使用放射線16照射的區(qū)域。如果光調(diào)節(jié)鏡膜層122處于鏡面狀態(tài)，則在復(fù)位光源78發(fā)射復(fù)位光132的情況下，處于鏡面狀態(tài)的光調(diào)節(jié)鏡膜層122朝向復(fù)位光源78反射大部分的復(fù)位光132。然而， 朝向窗口 230傳播的這樣的復(fù)位光132的一部分穿過窗口 230，并且被施加到面向窗口 230 的光電檢測(cè)器部件94(即，未使用放射線16照射的光電二極管)。如果使用復(fù)位光132來照射面向窗口 230的光電檢測(cè)器部件94，則光電檢測(cè)器部件94檢測(cè)復(fù)位光132并將其存儲(chǔ)為電荷。因?yàn)楣怆姍z測(cè)器部件94具有未使用放射線16 照射的光電二極管的形式，所以如果所存儲(chǔ)的電荷被讀取為電信號(hào)，則該電信號(hào)表示依賴于暗電流信號(hào)的像素值。溫度檢測(cè)器212(見圖7)基于依賴于暗電流信號(hào)的像素值來檢測(cè)光電二極管的溫度。然后光復(fù)位操作確定器214識(shí)別依賴于所檢測(cè)的溫度的幀速率閾值 Fth (見圖2 ，并且基于在所識(shí)別的幀速率閾值Fth和移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率之間的比較來確定是否應(yīng)當(dāng)執(zhí)行光復(fù)位處理。如果光復(fù)位操作確定器214確定應(yīng)當(dāng)執(zhí)行光復(fù)位處理，則濾光器控制器216將光調(diào)節(jié)鏡膜層122從鏡面狀態(tài)切換到透明狀態(tài)。圖30A至31B示出根據(jù)圖4B中所示的第二示例的電子暗盒20B的具體結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。在圖30A中所示的電子暗盒20B中，光電檢測(cè)器基板72具有與圖6A中所示的相同結(jié)構(gòu)。閃爍器74布置在基底90上，基底90具有TFT 92、光電檢測(cè)器部件94和其間插入的平坦膜96。如上參考圖6A所述，基底90通常是玻璃基板，但是可以由各種其他材料制成。更具體地，如果光電檢測(cè)器部件94由有機(jī)光電導(dǎo)體或非晶氧化物半導(dǎo)體制成，并且TFT 92由有機(jī)半導(dǎo)體、非晶氧化物半導(dǎo)體或碳納米管制成，則因?yàn)門FT 92和光電檢測(cè)器部件94可以在低溫下沉積為膜，所以可以將塑料膜用作基底90，該塑料膜至少對(duì)于復(fù)位光 132可透過，并且是柔性的，諸如聚酰亞胺膜、聚芳酯膜、雙向拉伸的聚苯乙烯膜、芳族聚酰胺膜或生物納米纖維膜。在圖30A中，在外殼44的底板80和柱狀晶體結(jié)構(gòu)84的遠(yuǎn)端之間插入反射層沈0， 其由鋁等制成，用于反射可見光130。因?yàn)閳D30A中所示的電子暗盒20B在其中包含了具有圖6A中所示結(jié)構(gòu)的光電檢測(cè)器基板72，所以圖30A中所示的電子暗盒20B提供與圖6A中所示的電子暗盒20A相同的優(yōu)點(diǎn)。當(dāng)向圖30A中所示的電子暗盒20B施加放射線16時(shí)，如果由柱狀晶體結(jié)構(gòu)84從放射線16轉(zhuǎn)換的可見光130的一部分朝向底板80傳播，則反射層260朝向光電檢測(cè)器基板 72反射可見光130的該部分?？梢姽?30的被反射部分穿過閃爍器74到達(dá)光電檢測(cè)器基板72。因此，也提高了圖30A中所示的電子暗盒20B的光電檢測(cè)器部件94關(guān)于可見光130 的靈敏度。圖30B中所示的電子暗盒20B與圖30A中所示的電子暗盒20B的不同在于外殼 44由諸如鋁等的金屬制成，該金屬對(duì)于放射線16可透過，并且反射可見光130。當(dāng)向圖30B 中所示的電子暗盒20B施加放射線16時(shí)，如果由柱狀晶體結(jié)構(gòu)84從放射線16轉(zhuǎn)換的可見光130的一部分朝向底板80傳播，則底板80朝向光電檢測(cè)器基板72反射可見光130的該部分?？梢姽?30的被反射部分穿過閃爍器74并且被施加到光電檢測(cè)器基板72。因此，也提高了圖30B中所示的電子暗盒20B的光電檢測(cè)器部件94關(guān)于可見光130的靈敏度。圖31A中所示的電子暗盒20B與圖30A中所示的電子暗盒20A的不同在于省略了基底90，并且光電檢測(cè)器基板72和切換濾光器76保持得彼此緊密接觸，并且在其間插入結(jié)合層沈加或粘結(jié)層^2b，其至少對(duì)于復(fù)位光132可透過。結(jié)合層沈加可以具有與結(jié)合層80a相同的材料，并且粘結(jié)層可以具有與粘結(jié)層80b相同的材料。因?yàn)槭÷粤嘶?0，所以在其他情況下被基底90吸收的放射線16 到達(dá)閃爍器74，導(dǎo)致光電檢測(cè)器部件94關(guān)于可見光130的靈敏度增大。而且，因?yàn)槭÷粤嘶?0，所以在允許由閃爍器74產(chǎn)生的可見光130聚焦在光電檢測(cè)器部件94上的同時(shí)有效地防止了放射線照像圖像變得模糊，并且使得放射線檢測(cè)器70在輪廓上較低。與圖31A中所示的電子暗盒20B相同，圖31B中所示的電子暗盒20B與圖30B中所示的電子暗盒20B的不同在于省略了基底90，并且光電檢測(cè)器基板72和切換濾光器76 保持得彼此緊密接觸，并且在其間插入結(jié)合層沈加或粘結(jié)層^52b。除了圖30B中所示的電子暗盒20B的優(yōu)點(diǎn)之外，圖31B中所示的電子暗盒20B提供了與圖31A中所示的電子暗盒 20B相同的優(yōu)點(diǎn)。圖32A至34B示出制造電子暗盒20B的工藝。下面將通過示例來描述圖31B中所示的電子暗盒20B的制造。首先，如圖32A中所示，在基底90的表面上形成剝離層136。其后，在剝離層136 的表面上形成結(jié)合層沈加或粘結(jié)層^2b。然后，如圖32B中所示，在結(jié)合層沈加或粘結(jié)層的表面上形成TFT 92的陣列，并且其后，在TFT 92的陣列上形成光電檢測(cè)器部件94。 然后，如圖32C中所示，在TFT 92和光電檢測(cè)器部件94上執(zhí)行平坦化處理，以形成平坦膜 96。然后，如圖33A中所示，在平坦膜96上沉積閃爍器74。然后，如圖33B中所示，通過防潮保護(hù)層86來密封閃爍器74，以便使用聚對(duì)二甲苯覆蓋柱狀晶體結(jié)構(gòu)84的柱體。然后，如圖34A中所示，激光束(未示出)被施加到剝離層136，以便從結(jié)合層沈加或粘結(jié)層 262b剝離基底90和剝離層136。其后，如圖34B中所示，使用由切換濾光器76和復(fù)位光源78構(gòu)成的堆來作為轉(zhuǎn)移靶，閃爍器74和光電檢測(cè)器基板72通過結(jié)合層沈加結(jié)合到切換濾光器76的光調(diào)節(jié)鏡膜層122，或通過粘結(jié)層粘結(jié)到切換濾光器76的光調(diào)節(jié)鏡膜層122，從而完成了放射線檢測(cè)器70。閃爍器74和光電檢測(cè)器基板72可以根據(jù)已知的轉(zhuǎn)移技術(shù)結(jié)合或粘結(jié)(轉(zhuǎn)移) 到由切換濾光器76和復(fù)位光源78構(gòu)成的用作轉(zhuǎn)移靶的堆。最后，將完成的放射線檢測(cè)器70放置在外殼44中，使得如圖31B中所示布置放射線檢測(cè)器70，從而制造ISS型的電子暗盒20B。對(duì)于以上述方式構(gòu)造的圖31B中所示的電子暗盒20B，因?yàn)樵谄渲形床迦牖?0， 所以有效地防止放射線照像圖像變得模糊，并且提高了光電檢測(cè)器部件94的靈敏度。如果基底90由至少對(duì)復(fù)位光132可透過的材料制成，則可以省略剝離層136，并且可以直接在基底90上形成TFT92和光電檢測(cè)器部件94。在該情況下，制造了包含圖30A或30B中所示結(jié)構(gòu)的放射線檢測(cè)器70。因?yàn)楦鶕?jù)第二示例的電子暗盒20B基本上與根據(jù)第一示例的電子暗盒20B(見圖 4A和6A)相同，除了如圖4B和30A至31B中所示將閃爍器74直接沉積在光電檢測(cè)器基板 72上之外，所以放射線照像圖像捕獲處理[1]至[7]也可以被應(yīng)用到根據(jù)第二示例的電子暗盒20B。圖35A和35B是示出在放射線檢測(cè)器70附近的根據(jù)第三示例的電子暗盒20C的局部截面圖。根據(jù)第三示例的電子暗盒20C與根據(jù)第一示例的電子暗盒20A(見圖6A和8B) 的不同在于放射線檢測(cè)器70被垂直地翻轉(zhuǎn)或上下翻轉(zhuǎn)。例如，圖6A和8B中所示的放射線檢測(cè)器70被垂直地翻轉(zhuǎn)或上下翻轉(zhuǎn)，然后放置在電子暗盒20C的外殼44中。圖36A和36B是示出在放射線檢測(cè)器70附近的根據(jù)第四示例的電子暗盒20D的局部截面圖。根據(jù)第四示例的電子暗盒20D與根據(jù)第二示例的電子暗盒20B (見圖30A和 31A)的不同在于放射線檢測(cè)器70被垂直地翻轉(zhuǎn)或上下翻轉(zhuǎn)。例如，圖30A和31A中所示的放射線檢測(cè)器70被垂直地翻轉(zhuǎn)或上下翻轉(zhuǎn)，然后放置在電子暗盒20D的外殼44內(nèi)。對(duì)于根據(jù)第三和第四示例的電子暗盒20C和20D，穿過被檢體14的放射線16被閃爍器74轉(zhuǎn)換為可見光130，該可見光130被施加到光電檢測(cè)器基板72。光電檢測(cè)器基板 72的光電檢測(cè)器部件94將可見光130轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。在圖像捕獲處理中，因?yàn)榇蟛糠址派渚€16被閃爍器74轉(zhuǎn)換為可見光130，所以僅極少量的放射線16穿過閃爍器74，并且到達(dá)切換濾光器76。如果光調(diào)節(jié)鏡膜層122在圖像捕獲處理期間處于鏡面狀態(tài)(金屬狀態(tài))， 則到達(dá)切換濾光器76的放射線16被處于金屬狀態(tài)的光調(diào)節(jié)鏡膜層122吸收，因此防止這樣的放射線到達(dá)復(fù)位光源78。即使放射線16到達(dá)復(fù)位光源78，從而使得復(fù)位光源78發(fā)射復(fù)位光132，復(fù)位光132也被處于鏡面狀態(tài)的光調(diào)節(jié)鏡膜層122朝向復(fù)位光源78反射。因此，防止復(fù)位光132朝向光電檢測(cè)器基板72傳播。 對(duì)于PSS類型的電子暗盒20C和20D，因?yàn)檠刂┘臃派渚€16的方向在外殼44中以下述順序順次地布置閃爍器74、光電檢測(cè)器基板72、切換濾光器76和復(fù)位光源78，所以實(shí)現(xiàn)了上面的操作和優(yōu)點(diǎn)，而不減少到達(dá)閃爍器74的放射線16的劑量。如上所述，對(duì)于PSS類型的電子暗盒20C和20D，因?yàn)榇蟛糠址派渚€16被閃爍器 74轉(zhuǎn)換為可見光130，所以僅極少的放射線16穿過閃爍器74，并且到達(dá)切換濾光器76。因此，能夠在施加放射線16的同時(shí)將光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在透明狀態(tài)。更具體地，如果放射線照像圖像捕獲處理[1]至[7]被施加到PSS類型的電子暗盒20C和20D，則認(rèn)為電子暗盒20C、20D在下述模式中運(yùn)行模式(1)，在該模式中使用放射線16來照射電子暗盒20C、20D，并且光調(diào)節(jié)鏡膜層122處于鏡面狀態(tài)；以及模式O)，在該模式中使用放射線16照射電子暗盒20C、20D，并且光調(diào)節(jié)鏡膜層122處于透明狀態(tài)。下面將關(guān)于放射線照像圖像捕獲處理[1]至[7]描述具有在模式(2)中的電子暗盒20C和20D的放射線照像圖像捕獲系統(tǒng)10的操作。下面將描述與模式(1)不同的那些模式O)的特征，而不描述它們的其他共同特征。[1]下面將描述根據(jù)圖像捕獲指令的放射線照像圖像捕獲處理，該圖像捕獲指令包括用于捕獲被檢體14的至少一個(gè)放射線照像圖像的圖像捕獲模式或低速率移動(dòng)圖像捕獲模式(見圖18和19)。放射線照像圖像捕獲處理[1]直接適用無需修改。[2]下面將描述根據(jù)圖像捕獲指令的放射線照像圖像捕獲處理，該圖像捕獲指令包括靜止圖像捕獲模式或低速率移動(dòng)圖像捕獲模式，并且在圖像捕獲模式之前至少執(zhí)行一次光復(fù)位處理(見圖20)。以下面的方式關(guān)于電子暗盒20C和20D來執(zhí)行步驟S23和S24。如果濾光器控制器216(見圖17)基于來自光復(fù)位操作確定器214的判定(步驟 S23 否)而確定必須將光調(diào)節(jié)鏡膜層122 (見圖6A至8B、圖11至14B以及圖15B和16)返回到鏡面狀態(tài)，然后在步驟SM中，濾光器控制器216向切換濾光器76施加與步驟S21中施加的電壓在極性上相反的電壓，以便將光調(diào)節(jié)鏡膜層122從透明狀態(tài)切換到鏡面狀態(tài)。如果濾光器控制器216基于上面的判定(步驟S23 是)來確定光調(diào)節(jié)鏡膜層122需要保持在透明狀態(tài)，則濾光器控制器216不向?yàn)V光器控制器216施加任何電壓，從而將光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在透明狀態(tài)。在步驟S23中，濾光器控制器216根據(jù)下面的標(biāo)準(zhǔn)來確定光調(diào)節(jié)鏡膜層122是否應(yīng)當(dāng)保持在透明狀態(tài)。在用于捕獲多個(gè)靜止圖像的放射線照像圖像捕獲模式或低速率移動(dòng)圖像捕獲模式中，如果在較短的間隔內(nèi)捕獲圖像，則隨著所捕獲的圖像的數(shù)量增大，光電二極管的溫度升高。因此，在捕獲第二和隨后的圖像中，如果就在捕獲圖像之前不執(zhí)行光復(fù)位處理，則預(yù)期由于暗電流引起的噪聲將對(duì)放射線照像圖像產(chǎn)生負(fù)面影響。而且，如果光調(diào)節(jié)鏡膜層122 在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間切換所需的時(shí)間比圖像捕獲間隔長(zhǎng)，則切換濾光器76的切換可能無法趕上移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率。在該情況下，為了可靠地執(zhí)行光復(fù)位處理并且獲得其中僅有輕微噪聲的放射線照像圖像，濾光器控制器216可能不將光調(diào)節(jié)鏡膜層122返回到鏡面狀態(tài)，而是可以確定光調(diào)節(jié)鏡膜層122應(yīng)當(dāng)保持在透明狀態(tài)。對(duì)于PSS類型的電子暗盒20C、20D，如上所述，因?yàn)檠刂┘臃派渚€16的方向在外殼44中順次地布置閃爍器74、光電檢測(cè)器基板72、切換濾光器76和復(fù)位光源78，所以大部分放射線16被柱狀晶體結(jié)構(gòu)84轉(zhuǎn)換為可見光130，并且放射線16可以到達(dá)切換濾光器76 和復(fù)位光源78的可能性極小。因此，根據(jù)PSS類型的電子暗盒，防止切換濾光器76和復(fù)位光源78變得被放射線16變差。即使在施加放射線16的同時(shí)光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在透明狀態(tài)，也防止復(fù)位光源78由于被放射線16照射而錯(cuò)誤地發(fā)射復(fù)位光132。根據(jù)向電子暗盒20C和20D施加的放射線照像圖像捕獲處理[2]，在開始圖像捕獲模式之前至少執(zhí)行光復(fù)位處理一次。如果圖像捕獲指令包括靜止圖像捕獲模式，則在完成光復(fù)位處理后，光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在鏡面狀態(tài)，并且捕獲靜止圖像。如果圖像捕獲指令包括移動(dòng)圖像捕獲模式，則光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在鏡面狀態(tài)，并且捕獲移動(dòng)圖像，或替代地，光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在透明狀態(tài)，并且捕獲移動(dòng)圖像。[3]下面將描述根據(jù)圖像捕獲指令的放射線照像圖像捕獲處理，該圖像捕獲指令包括用于捕獲多個(gè)靜止圖像的圖像捕獲模式或移動(dòng)圖像捕獲模式，并且在圖像捕獲周期之間執(zhí)行光復(fù)位處理(見圖21)。可以以下面的順序來關(guān)于電子暗盒20C和20D執(zhí)行步驟S^和S30。如果濾光器控制器216(見圖17)確定光調(diào)節(jié)鏡膜層122(見圖6A至8B、圖11至 14B以及圖15B和16)處于透明狀態(tài)(步驟S26 否)，即，執(zhí)行移動(dòng)圖像捕獲模式并且光調(diào)節(jié)鏡膜層122處于透明狀態(tài)，則濾光器控制器216不向切換濾光器76施加任何電壓，以便將光調(diào)節(jié)鏡膜層122持續(xù)保持在透明狀態(tài)。在步驟S30中，光源控制器218激勵(lì)復(fù)位光源 78，以使用與步驟S22和S28中相同的方式對(duì)于像素190執(zhí)行光復(fù)位處理。其后，光源控制器218切斷復(fù)位光源78的電源，以停止發(fā)射復(fù)位光132。然后，控制返回到圖19中所示的步驟S9，并且放射線照像圖像捕獲系統(tǒng)10執(zhí)行下一個(gè)放射線照像圖像捕獲處理。根據(jù)向電子暗盒20C和20D施加的放射線照像圖像捕獲處理[3]，如果光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在透明狀態(tài)，則可以在圖像捕獲周期之間執(zhí)行光復(fù)位處理，并且其后，光調(diào)節(jié)鏡膜層122可以保持在透明狀態(tài)，而不返回到鏡面狀態(tài)。具體地說，如果圖像捕獲指令包括高速率移動(dòng)圖像捕獲模式，則因?yàn)楣庹{(diào)節(jié)鏡膜層122的切換時(shí)間可能無法趕上高速率移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率，所以可以通過將光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在透明狀態(tài)來在圖像捕獲周期之間可靠地執(zhí)行光復(fù)位處理。下面將描述對(duì)于包含兩個(gè)或更多的圖像捕獲模式的放射線照像圖像捕獲處理和光復(fù)位處理，諸如上述放射線照像圖像捕獲處理[4]至[7]。關(guān)于電子暗盒20C和20D，對(duì)于圖23C中所示的圖像捕獲指令，因?yàn)樵诟淖儓D像捕獲模式的時(shí)刻切換光調(diào)節(jié)鏡膜層122 (見圖6A至8B、圖11至14B和圖15B至17)是耗時(shí)的，即，因?yàn)榍袚Q時(shí)間不能趕上移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率，所以預(yù)期可以在圖像捕獲間隔較長(zhǎng)的時(shí)間段期間預(yù)先切換光調(diào)節(jié)鏡膜層 122。[4]下面將描述在切換濾光器76在靜止圖像捕獲模式切換到移動(dòng)圖像捕獲模式的時(shí)刻在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間切換(見圖23A)的同時(shí)，根據(jù)圖像捕獲指令的放射線照像圖像捕獲處理，該圖像捕獲指令包括以下述順序的的序列用于捕獲至少一個(gè)靜止圖像的圖像捕獲模式和移動(dòng)圖像捕獲模式。
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下面將描述放射線照像圖像捕獲處理W]以及用于在時(shí)間段T后根據(jù)在移動(dòng)圖像捕獲模式中的幀速率將光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在透明狀態(tài)的處理。在圖25中所示的步驟S46中，濾光器控制器216 (見圖17)確定下一個(gè)移動(dòng)圖像捕獲模式是否是低速率移動(dòng)圖像捕獲模式。因?yàn)榈退俾室苿?dòng)圖像捕獲模式是以相對(duì)較低幀速率的移動(dòng)圖像捕獲模式，所以圖像捕獲間隔相對(duì)較長(zhǎng)，并且光電二極管的溫度不顯著地升高，并且因此，可以不需要光復(fù)位處理。因?yàn)閳D像捕獲間隔相對(duì)較長(zhǎng)，所以如果執(zhí)行光復(fù)位處理，則能夠提供切換濾光器 76(見圖3、5A和5B)可以在圖像捕獲周期之間切換的時(shí)間段。如果下一個(gè)移動(dòng)圖像捕獲模式是低速率移動(dòng)圖像捕獲模式(步驟S46 是)，則在步驟S47中，濾光器控制器216向切換濾光器76施加在極性上與步驟S44的電壓相反的電壓，以便將光調(diào)節(jié)鏡膜層122從透明狀態(tài)切換到鏡面狀態(tài)。在步驟S27后，執(zhí)行步驟S9，以開始低速率移動(dòng)圖像捕獲模式。如果下一個(gè)移動(dòng)圖像捕獲模式是高速率移動(dòng)圖像捕獲模式(步驟S46 否)，則在步驟S48中，濾光器控制器216確定光調(diào)節(jié)鏡膜層122(見圖6A至8B、圖11至14B以及圖 15B和16)應(yīng)當(dāng)保持在透明狀態(tài)。其后，執(zhí)行步驟S9，以開始高速率移動(dòng)圖像捕獲模式。如果在步驟S43中的判定是否定的(步驟S43 否)，則有可能光調(diào)節(jié)鏡膜層122 馬上將處于鏡面狀態(tài)。因此，在步驟S46中，如果濾光器控制器216確定下一個(gè)移動(dòng)圖像捕獲模式是高速率移動(dòng)圖像捕獲模式(步驟S46 否)，則在步驟S48中，濾光器控制器216可以向切換濾光器76施加電壓，以便將光調(diào)節(jié)鏡膜層122從鏡面狀態(tài)切換到透明狀態(tài)。在例如高速率移動(dòng)圖像捕獲模式的移動(dòng)圖像捕獲模式中，光調(diào)節(jié)鏡膜層122可以保持在透明狀態(tài)，或者如果光調(diào)節(jié)鏡膜層122的切換時(shí)間比幀速率長(zhǎng)，則可以跳過步驟S46 和 S47。[5]下面將描述在切換濾光器76在移動(dòng)圖像捕獲模式向靜止圖像捕獲模式切換的時(shí)刻在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間切換(見圖23B)的同時(shí)，根據(jù)圖像捕獲指令的放射線照像圖像，該圖像捕獲指令包括以下述順序的序列移動(dòng)圖像捕獲模式和用于捕獲至少一個(gè)靜止圖像的圖像捕獲模式的。如果光調(diào)節(jié)鏡膜層122(見圖6A至8B、圖11至14B以及圖15B和16)在移動(dòng)圖像捕獲模式期間保持在透明狀態(tài)，則可以跳過步驟S54，如在圖沈中的虛線所示，并且在步驟 S55中，可以立即執(zhí)行光復(fù)位處理。[6]下面將描述根據(jù)圖像捕獲指令的放射線照像圖像捕獲處理，該圖像捕獲指令包括具有不同幀速率的移動(dòng)圖像捕獲模式(見圖23C的部分)。根據(jù)向電子暗盒20C和20D施加的放射線照像圖像捕獲處理，即使依賴于光電二極管的溫度或圖像捕獲間隔在放射線照像圖像捕獲處理期間改變幀速率，所以光調(diào)節(jié)鏡膜層122(見圖6A至8B、圖11至14B以及圖15B和16)可以保持在透明狀態(tài)。更具體地，在步驟S13中，在已經(jīng)確定未完成所有放射線照像圖像的捕獲(步驟 S13 否)后，如果在步驟S41(步驟S41 否)(見圖25)和步驟S51(步驟S51 否)(見圖 26)從圖像捕獲指令確定器210發(fā)送的判定指示以下述順序的序列兩個(gè)移動(dòng)圖像捕獲模式，并且在步驟S61中，如果該判定指示以下述順序的序列低速率移動(dòng)圖像捕獲模式和高速率移動(dòng)圖像捕獲模式(步驟S61 是)(見圖27)，則在步驟S62中，光復(fù)位操作確定器214(見圖17)確定光調(diào)節(jié)鏡膜層122是否應(yīng)當(dāng)切換到透明狀態(tài)。更具體地，因?yàn)楦咚俾室苿?dòng)圖像捕獲模式的圖像捕獲間隔比低速率移動(dòng)圖像捕獲模式的圖像捕獲間隔短，所以即使光調(diào)節(jié)鏡膜層122在一個(gè)幀期間交替地切換到鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)，如果切換時(shí)間比圖像捕獲間隔長(zhǎng)，則也難以執(zhí)行光復(fù)位處理。結(jié)果，如果光調(diào)節(jié)鏡膜層122向鏡面狀態(tài)或透明狀態(tài)的切換不能趕上高速率移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率，則期望在低速率移動(dòng)圖像捕獲模式期間將光調(diào)節(jié)鏡膜層122從鏡面狀態(tài)向透明狀態(tài)切換，低速率移動(dòng)圖像捕獲模式的圖像捕獲間隔相對(duì)較長(zhǎng)。在步驟S62中，如果在圖27中光復(fù)位操作確定器214確定光調(diào)節(jié)鏡膜層122要從鏡面狀態(tài)向透明狀態(tài)切換(步驟S62 是)，則光復(fù)位操作確定器214向?yàn)V光器控制器216 輸出該判定，同時(shí)也在顯示器控制面板56上顯示該判定。在步驟S63中，濾光器控制器216 向切換濾光器76 (圖3B、5A和5B)施加電壓，從而將光調(diào)節(jié)鏡膜層122從鏡面狀態(tài)切換到透明狀態(tài)。然后，在步驟S64中，光復(fù)位操作確定器214確定是否需要光復(fù)位處理。如果低速率移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率高于依賴于光電二極管的溫度的幀速率閾值Fth，則在步驟S64中，光復(fù)位操作確定器214確定需要光復(fù)位處理(步驟S64 是)， 并且向?yàn)V光器控制器216和光源控制器218輸出需要執(zhí)行光復(fù)位處理的判定，同時(shí)在顯示器控制面板56上顯示該判定。揚(yáng)聲器58也可以輸出表示該判定的聲音。濾光器控制器216將光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在透明狀態(tài)，并且光源控制器218激勵(lì)復(fù)位光源78開始發(fā)射復(fù)位光132。在步驟S65中，復(fù)位光132穿過光調(diào)節(jié)鏡膜層122到達(dá)光電檢測(cè)器基板72，從而復(fù)位光電檢測(cè)器部件94，即像素190。在結(jié)束光復(fù)位處理后，光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在透明狀態(tài)。然后，執(zhí)行圖19中所示的步驟S9和隨后的步驟，S卩，執(zhí)行低速率移動(dòng)圖像捕獲模式。如果光復(fù)位操作確定器214確定光調(diào)節(jié)鏡膜層122應(yīng)當(dāng)保持在鏡面狀態(tài)(步驟 S62 否)，即，如果光調(diào)節(jié)鏡膜層122向鏡面狀態(tài)或透明狀態(tài)的切換可以充分趕上高速率移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率，或如果因?yàn)樵趶牡退俾室苿?dòng)圖像捕獲模式切換到高速率移動(dòng)圖像捕獲模式之前剩余特定的時(shí)間段所以光調(diào)節(jié)鏡膜層122應(yīng)當(dāng)保持在鏡面狀態(tài)，則跳過步驟S63至S65，并且在光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在鏡面狀態(tài)的同時(shí)執(zhí)行步驟S9和隨后的步驟。如果光復(fù)位操作確定器214確定不需要光復(fù)位處理(步驟S64 否)，即使光調(diào)節(jié)鏡膜層122切換到透明狀態(tài)，則在光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在透明狀態(tài)的同時(shí)執(zhí)行步驟S9和隨后的步驟。如果光調(diào)節(jié)鏡膜層122在前一個(gè)移動(dòng)圖像捕獲模式中已經(jīng)處于透明狀態(tài)，則在在步驟S61中作出肯定判定后，可以跳過步驟S62和S63，并且可以執(zhí)行步驟S64。如果以下述順序順次地執(zhí)行高速率移動(dòng)圖像捕獲模式和低速率移動(dòng)圖像捕獲模式(步驟S61 否)，則在圖觀中的步驟S71中，光復(fù)位操作確定器214確定是否需要執(zhí)行光復(fù)位處理。如果移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率高于依賴于光電二極管的溫度的幀速率閾值 Fth(見圖22)，則在步驟S71中，光復(fù)位操作確定器214確定需要光復(fù)位處理(步驟S71 是)，并且向?yàn)V光器控制器216和光源控制器218輸出該判定，同時(shí)也在顯示器控制面板56 上顯示該判定。揚(yáng)聲器58也可以輸出表示該判定的聲音。
濾光器控制器216向切換濾光器76施加電壓，以將光調(diào)節(jié)鏡膜層122從鏡面狀態(tài)切換到透明狀態(tài)。濾光器控制器216激勵(lì)復(fù)位光源78開始發(fā)射復(fù)位光132。在步驟S72 中，復(fù)位光132穿過光調(diào)節(jié)鏡膜層122到達(dá)光電檢測(cè)器基板72，從而對(duì)光電檢測(cè)器部件94， 即像素190執(zhí)行光復(fù)位處理。其后，光源控制器218斷開復(fù)位光源78的電源，以便結(jié)束光復(fù)位處理。在步驟S73 中，濾光器控制器216確定光調(diào)節(jié)鏡膜層122是否應(yīng)當(dāng)切換到鏡面狀態(tài)。如果光調(diào)節(jié)鏡膜層122向鏡面狀態(tài)或透明狀態(tài)的切換可以充分地趕上高速率移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率(步驟S73 是)，則在步驟S74中，濾光器控制器216向切換濾光器76施加在極性上與步驟S72中施加的電壓相反的電壓，以便將光調(diào)節(jié)鏡膜層122從透明狀態(tài)切換到鏡面狀態(tài)。其后，執(zhí)行圖19中的步驟S9和隨后的步驟。如果光調(diào)節(jié)鏡膜層122向鏡面狀態(tài)或透明狀態(tài)的切換不能趕上高速率移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率(步驟S73 否)，則濾光器控制器216將光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在透明狀態(tài)，在此之后執(zhí)行步驟S9和隨后的步驟。更進(jìn)一步，在步驟S71，如果移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率低于依賴于光電二極管的溫度的幀速率閾值Fth，則光復(fù)位操作確定器214確定不需要光復(fù)位處理(步驟S71 否)， 并且向?yàn)V光器控制器216和光源控制器218輸出該判定，同時(shí)在顯示器控制面板56上顯示該判定。[7]下面將描述根據(jù)圖像捕獲指令的放射線照像圖像捕獲處理，該圖像捕獲指令包括具有不同幀速率的兩個(gè)移動(dòng)圖像捕獲模式和用于捕獲至少一個(gè)靜止圖像的圖像捕獲模式(見圖23C)。放射線照像圖像捕獲處理[4]被直接應(yīng)用到從靜止圖像捕獲模式向低速率移動(dòng)圖像捕獲模式的切換。放射線照像圖像捕獲處理[6]被直接應(yīng)用到從低速率移動(dòng)圖像捕獲模式向高速率圖像捕獲模式的切換。更具體地，如果在低速率移動(dòng)圖像捕獲模式切換到高速率移動(dòng)圖像捕獲模式后的一個(gè)幀中，光調(diào)節(jié)鏡膜層122(見圖6A至8B、圖11至14B以及圖15B和16) 切換到鏡面狀態(tài)或到透明狀態(tài)，則有可能切換時(shí)間不能趕上幀速率。因此，如圖23C中所示，光調(diào)節(jié)鏡膜層122在低速率移動(dòng)圖像捕獲模式中在圖像捕獲周期之間預(yù)先從鏡面狀態(tài)切換到透明狀態(tài)，并且在高速率移動(dòng)圖像捕獲模式期間保持在透明狀態(tài)，使得可以可靠地執(zhí)行光復(fù)位處理。具體地說，在被檢體14 (見圖1)的感興趣區(qū)域(ROI)上執(zhí)行的高速率移動(dòng)圖像捕獲模式中，可以通過將光調(diào)節(jié)鏡膜層122保持在透明狀態(tài)的同時(shí)執(zhí)行光復(fù)位處理來可靠地降低放射線照像圖像中的噪聲。根據(jù)向PSS類型的電子暗盒20C和20D應(yīng)用的放射線照像圖像捕獲處理[2]至 [7]，暗盒控制器182或控制臺(tái)22可以執(zhí)行圖像處理序列以去除或校正由從放射線照像圖像以給定速率釋放的特定數(shù)量的電荷引起的噪聲，以便可以在顯示器控制面板56和顯示部件M上顯示其中僅有輕微噪聲的高質(zhì)量放射線照像圖像。其中包含根據(jù)第三和第四示例的電子暗盒20C和20D的放射線照像圖像捕獲系統(tǒng) 10如上所述運(yùn)行。本實(shí)施例的優(yōu)點(diǎn)如上所述，對(duì)于根據(jù)本實(shí)施例的電子暗盒20 (20A至20D)，如果切換濾光器76相對(duì)于復(fù)位光132切換到透明狀態(tài)，則復(fù)位光源78可以向光電檢測(cè)器基板72施加復(fù)位光132， 以對(duì)光電檢測(cè)器基板72充分地執(zhí)行光復(fù)位處理。如果切換濾光器76相對(duì)于復(fù)位光132切換到鏡面狀態(tài)，則由閃爍器74從放射線 16轉(zhuǎn)換的熒光，即可見光130到達(dá)光電檢測(cè)器基板72。在這樣的可見光130中，朝向復(fù)位光源78傳播的熒光的部分被切換濾光器76朝向光電檢測(cè)器基板72反射。反射光被施加到光電檢測(cè)器基板72，而不到達(dá)復(fù)位光源78。光電檢測(cè)器基板72可以獲得不模糊的高質(zhì)量放射線照像圖像，并且向光電檢測(cè)器基板72施加的可見光130的量增加，從而提高光電檢測(cè)器基板72關(guān)于可見光130的靈敏度。因此，根據(jù)本實(shí)施例，因?yàn)閺?fù)位光源78、切換濾光器76、光電檢測(cè)器基板72和閃爍器74以此順序順次地被布置，并且切換濾光器76對(duì)于復(fù)位光132選擇性地可透過和不可透過，所以可以對(duì)光電檢測(cè)器基板72充分地執(zhí)行光復(fù)位處理，并且可以在防止放射線照像圖像變得模糊的同時(shí)增大光電檢測(cè)器基板72關(guān)于可見光130的靈敏度?；趫D像捕獲指令，切換濾光器76可以切換到用于將復(fù)位光132通過其中的透明狀態(tài)(可透過狀態(tài))或用于朝向光電檢測(cè)器基板72反射可見光130以及朝向復(fù)位光源78 反射復(fù)位光132的鏡面狀態(tài)(不可透過狀態(tài))。因此，依賴于用于被檢體14的圖像捕獲方法(靜止圖像捕獲模式或移動(dòng)圖像捕獲模式)，切換濾光器76可以保持在透明狀態(tài)或鏡面狀態(tài)或者切換到透明狀態(tài)或鏡面狀態(tài)，從而可靠并有效地對(duì)光電檢測(cè)器基板72執(zhí)行光復(fù)位處理，并且以高靈敏度獲得被防止變模糊的高質(zhì)量放射線照像圖像。如果在鏡面狀態(tài)的切換濾光器76朝向光電檢測(cè)器基板72反射可見光130，則向光電檢測(cè)器基板72施加的可見光130的量增大。結(jié)果，可以減少向被檢體14施加的放射線16的量，從而減少向被檢體 14施加的放射線16的劑量。更具體地，如果圖像捕獲指令包括用于捕獲至少一個(gè)放射線照像圖像的放射線照像圖像捕獲模式或具有比幀速率閾值Fth(或FthO)低的幀速率的移動(dòng)圖像捕獲模式，即低速率移動(dòng)圖像捕獲模式，則切換濾光器76可以保持在鏡面狀態(tài)。具體地說，上面的圖像捕獲模式要求以高靈敏度獲得高質(zhì)量放射線照像圖像。因?yàn)樵谶@樣的圖像捕獲模式中的圖像捕獲間隔相對(duì)較長(zhǎng)，所以光電二極管的溫度不顯著地升高，并且預(yù)計(jì)如果由雜質(zhì)能級(jí)捕捉的電荷被再次釋放而引起的噪聲不對(duì)所捕獲的放射線照像圖像造成大的影響。如果接收到上面的圖像捕獲指令，則切換濾光器76保持在鏡面狀態(tài)以便保持停止光復(fù)位處理，并且也朝向光電檢測(cè)器基板72反射由閃爍器74從放射線16切換的可見光 130，從而增大向光電檢測(cè)器基板72施加的可見光130的量。結(jié)果，能夠容易地以高靈敏度獲取被防止變得模糊的低噪聲高質(zhì)量的放射線照像圖像。如果圖像捕獲指令包括移動(dòng)圖像捕獲模式，并且特別的，高速率移動(dòng)圖像捕獲模式，則切換濾光器76在使用放射線16照射被檢體14時(shí)在每個(gè)幀期間保持在鏡面狀態(tài)，并且在未使用放射線16照射被檢體14時(shí)在每個(gè)幀期間保持在透明狀態(tài)。因此，切換濾光器 76在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間順次地切換。因?yàn)榍袚Q濾光器76在一個(gè)幀內(nèi)在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間順次地切換，所以當(dāng)使用放射線16照射被檢體14時(shí)，切換濾光器76保持在鏡面狀態(tài)以可靠地朝光電檢測(cè)器基板72反射可見光130，從而增大向光電檢測(cè)器基板72施加的可見光130的量。當(dāng)未使用放射線16照射被檢體14時(shí)，切換濾光器76保持在透明狀態(tài)，從而對(duì)光電檢測(cè)器基板72充分地執(zhí)行光復(fù)位處理。因此，在移動(dòng)圖像捕獲模式中，切換濾光器76在一個(gè)幀內(nèi)在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間交替切換，以便以高靈敏度獲得高質(zhì)量放射線照像圖像，并且也降低了所獲得的放射線照像圖像中的噪聲。如果切換濾光器76具有能夠充分地趕上移動(dòng)圖像捕獲模式的幀速率的切換時(shí)間，即，如果切換濾光器76具有比圖像捕獲周期之間的時(shí)間間隔短的切換時(shí)間，則切換濾光器76可以在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間交替切換。如果圖像捕獲指令包括移動(dòng)圖像捕獲模式和用于捕獲至少一個(gè)放射線照像圖像的靜止圖像捕獲模式，則切換濾光器76在靜止圖像捕獲模式期間保持在鏡面狀態(tài)，并且在移動(dòng)圖像捕獲模式期間保持在鏡面狀態(tài)?；蛘?，切換濾光器76在使用放射線16照射被檢體14時(shí)保持在鏡面狀態(tài)，并且在未使用放射線16照射被檢體14時(shí)保持在透明狀態(tài)，使得切換濾光器76在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間順次地切換。因此，在移動(dòng)圖像捕獲模式向靜止圖像捕獲模式切換的時(shí)刻，切換濾光器76從在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間順次的切換向鏡面狀態(tài)切換，或保持在鏡面狀態(tài)。在靜止圖像捕獲模式切換到移動(dòng)圖像捕獲模式的時(shí)刻，切換濾光器76從鏡面狀態(tài)切換到在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間順次地切換，或被進(jìn)一步保持在鏡面狀態(tài)。以這種方式，通過將切換濾光器76保持在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之一，或通過在發(fā)生圖像捕獲方法，即靜止圖像捕獲模式和移動(dòng)圖像捕獲模式之間的切換時(shí)將切換濾光器76 在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間切換，能夠根據(jù)圖像捕獲方法來可靠地獲得最佳的放射線照像圖像。如果圖像捕獲指令包括低速率移動(dòng)圖像捕獲模式和高速率移動(dòng)圖像捕獲模式，則切換濾光器76在低速率移動(dòng)圖像捕獲模式中保持在鏡面狀態(tài)。在高速率移動(dòng)圖像捕獲模式中，如果使用放射線16照射被檢體14則切換濾光器76保持在鏡面狀態(tài)，并且如果未使用放射線16照射被檢體14則保持在透明狀態(tài)，從而切換濾光器76在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間順次地切換。在低速率移動(dòng)圖像捕獲模式切換到高速率移動(dòng)圖像捕獲模式的時(shí)刻，切換濾光器76可以從鏡面狀態(tài)切換到在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間順次地切換。而且，在高速率移動(dòng)圖像捕獲模式向低速率移動(dòng)圖像捕獲模式切換的時(shí)刻，切換濾光器76可以從在鏡面狀態(tài)和透明狀態(tài)之間順次地切換向鏡面狀態(tài)切換。因此，即使在放射線照像圖像捕獲處理期間圖像捕獲指令的幀速率發(fā)生改變，也可以通過在幀速率改變的時(shí)刻對(duì)切換濾光器76進(jìn)行切換來可靠地獲得依賴于幀速率的最佳放射線照像圖像。如果圖像捕獲指令包括上面兩個(gè)移動(dòng)圖像捕獲模式以及用于捕獲至少一個(gè)靜止圖像的靜止圖像捕獲模式，則切換濾光器76在靜止圖像捕獲模式期間保持在鏡面狀態(tài)。在移動(dòng)圖像捕獲模式之一被切換到靜止圖像捕獲模式的時(shí)刻，切換濾光器76可以從依賴于移動(dòng)圖像捕獲模式的狀態(tài)切換到鏡面狀態(tài)。在靜止圖像捕獲模式切換到移動(dòng)圖像捕獲模式之一的時(shí)刻，切換濾光器76可以從鏡面狀態(tài)切換到依賴于移動(dòng)圖像捕獲模式的狀態(tài)。因此，即使圖像捕獲指令包括靜止圖像捕獲模式，也可以通過如上所述對(duì)切換濾光器76進(jìn)行切換而容易地在圖像捕獲模式的每一個(gè)期間獲得最佳的放射線照像圖像。對(duì)于電子暗盒20，光電檢測(cè)器基板72包括用于將可見光130轉(zhuǎn)換為電化學(xué)的光電檢測(cè)器部件94，并且切換濾光器76包括在一部分中限定的窗口 230，用于總是使復(fù)位光 132通過其中。如果復(fù)位光源78通過窗口 230向面向窗口 230的光電檢測(cè)器部件94之一施加復(fù)位光132，則以復(fù)位光132照射的光電檢測(cè)器部件94檢測(cè)由復(fù)位光132產(chǎn)生的暗電流信號(hào)。切換濾光器76可以基于依賴于暗電流信號(hào)和圖像捕獲指令的光電檢測(cè)器部件94 的溫度來切換到鏡面狀態(tài)或透明狀態(tài)。由雜質(zhì)能級(jí)捕捉的噪聲的級(jí)別隨著光電二極管形式的光電檢測(cè)器部件94的溫度而改變。因此，期望依賴于光電檢測(cè)器部件94的溫度來改變幀速率閾值Fth。因此，如上所述，通過基于溫度并且依賴于暗電流信號(hào)和圖像捕獲指令將切換濾光器76切換到鏡面狀態(tài)或透明狀態(tài)，可以依賴于光電檢測(cè)器部件94的溫度改變來有效地降低噪聲。根據(jù)本實(shí)施例，不同于傳統(tǒng)處理，基于幀速率和光電二極管的溫度來確定是否要求光復(fù)位處理。如果執(zhí)行光復(fù)位處理，則在雜質(zhì)能級(jí)中嵌入足夠數(shù)量的電荷，以從而消除由于光電二極管的溫度上升導(dǎo)致的從雜質(zhì)能級(jí)釋放的電荷的數(shù)量在幀之間的變化。結(jié)果，通過圖像處理序列，可以從放射線照像圖像去除或校正由于以特定速率釋放的電荷導(dǎo)致的噪聲，因此使得能夠獲得高質(zhì)量的放射線照像圖像。切換濾光器76包括光調(diào)節(jié)鏡膜層122，光調(diào)節(jié)鏡膜層122被電控制來對(duì)復(fù)位光 132可透過或不可透過。光電檢測(cè)器基板72布置在光調(diào)節(jié)鏡膜層122的一側(cè)上，而復(fù)位光源78布置在透明基底110的一側(cè)上。因此，切換濾光器76可以容易并有效地切換到可透過狀態(tài)或不可透過狀態(tài)(鏡面狀態(tài))。復(fù)位光源78具有面向光電檢測(cè)器基板72布置的發(fā)光元件142的陣列、背光或電致發(fā)光光源的形式，并且在其間插入了切換濾光器76。具有背光形式的復(fù)位光源78使得能夠?qū)⒗潢帢O射線管152和發(fā)光元件162放置在未使用放射線16照射的區(qū)域。因此，防止冷陰極射線管152和發(fā)光元件162被放射線16 變差。如果復(fù)位光源78具有有機(jī)電致發(fā)光光源的形式，則可以使得復(fù)位光源78在輪廓上較低。如果光電檢測(cè)器基板72的光電檢測(cè)器部件94由有機(jī)光電導(dǎo)體或非晶氧化物半導(dǎo)體制成，并且TFT 92由有機(jī)半導(dǎo)體、非晶氧化物半導(dǎo)體或碳納米管制成，則光電檢測(cè)器部件94和TFT 92可以在低溫下沉積為膜。在光電檢測(cè)器基板72和閃爍器74之間插入傾斜光阻擋層102，從而使得能夠提高光電檢測(cè)器基板72關(guān)于可見光130的靈敏度，并且防止放射線照像圖像變得模糊。上面已經(jīng)描述了根據(jù)第一至第四示例的電子暗盒20A至20D的各種結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。優(yōu)選的是，PSS類型的電子暗盒20C和20D應(yīng)當(dāng)包括用于從光電檢測(cè)器基板72剝離基底90 和用于轉(zhuǎn)移基底90的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)(見圖8A、31A和31B)；以及光電檢測(cè)器基板72從而直接形成在閃爍器74上的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)(見圖8B和35B)?；蛘逷SS類型的電子暗盒20C和20D應(yīng)當(dāng)包括下述結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)該結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)包括傾斜光阻擋層102(見圖7B)，用于提高光電檢測(cè)器基板72關(guān)于可見光130的靈敏度，并且用于防止放射線照像圖像變得模糊。優(yōu)選的是，ISS類型的電子暗盒20A和20B與PSS類型的電子暗盒20C和20D應(yīng)當(dāng)包括用于從光電檢測(cè)器基板72剝離基底90和用于轉(zhuǎn)移基底90的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)的組合(見圖 8A、31A和31B)，或者包括光電檢測(cè)器基板72直接形成在閃爍器74上(見圖8B和35B) 的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)；以及用于上面的目的以及用于使得電子暗盒20A至20D在輪廓上較低的電致發(fā)光光源(見圖16)。本發(fā)明不限于本實(shí)施例的說明的細(xì)節(jié)，而是可以對(duì)所說明的處理做出各種如下的處理修改。根據(jù)放射線照像圖像捕獲處理[1]至[7]，光復(fù)位操作確定器214基于幀速率相對(duì)于幀速率閾值Fth的量值來確定是否需要對(duì)光電檢測(cè)器部件94執(zhí)行光復(fù)位處理。然而，光復(fù)位操作確定器214也可以根據(jù)下面的處理(1)至(3)的任何一個(gè)來確定是否需要執(zhí)行光
復(fù)位處理。(1)如果在移動(dòng)圖像捕獲模式期間捕獲的圖像的數(shù)量超過預(yù)定閾值，則光復(fù)位操作確定器214確定需要執(zhí)行光復(fù)位處理。(2)因?yàn)榉派渚€照像圖像中的噪聲級(jí)別隨光電檢測(cè)器部件94的溫度升高而增加， 所以如果所獲得的放射線照像圖像的噪聲級(jí)別超過預(yù)定閾值，則光復(fù)位操作確定器214可以確定需要執(zhí)行光復(fù)位處理。(3)在放射線照像圖像捕獲處理[6]中，如果高速率移動(dòng)圖像捕獲模式和低速率移動(dòng)圖像捕獲模式以此順序順次地執(zhí)行，即，如果在移動(dòng)圖像捕獲模式中高幀速率改變?yōu)榈蛶俾?，則并不一定確定由于低幀速率而不需要光復(fù)位處理。換句話說，如果在高速率移動(dòng)圖像捕獲模式期間對(duì)于光電檢測(cè)器部件94重復(fù)地執(zhí)行光復(fù)位處理，則有可能提高光電檢測(cè)器部件94的溫度。因此，光復(fù)位操作確定器214可以確定需要執(zhí)行光復(fù)位處理，以便消除高速率移動(dòng)圖像捕獲模式的不良影響。光復(fù)位操作確定器214可以根據(jù)處理(1)至(3)來確定是否需要光復(fù)位處理，而不是基于幀速率來確定是否需要光復(fù)位處理。光復(fù)位操作確定器214也可以基于幀速率和處理(1)至(3)的任何一個(gè)的組合來確定是否需要執(zhí)行光復(fù)位處理。而且，光復(fù)位操作確定器214可以基于基于幀速率和處理(1)至(3)的全部的組合來確定是否需要執(zhí)行光復(fù)位處理。雖然已經(jīng)詳細(xì)示出和描述了本發(fā)明的某些優(yōu)選實(shí)施例，但是應(yīng)當(dāng)理解，在不偏離在所附權(quán)利要求中闡述的本發(fā)明的范圍的情況下，可以對(duì)實(shí)施例做出各種改變和修改。
權(quán)利要求
1.一種放射線照像圖像捕獲裝置，包括閃爍器(74)，用于將放射線(16)轉(zhuǎn)換為熒光(130)；光電檢測(cè)器基板(72)，用于將所述熒光(130)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)；復(fù)位光源(78)，用于向所述光電檢測(cè)器基板(72)施加復(fù)位光(132);以及切換濾光器(76)，所述切換濾光器(76)對(duì)于所述復(fù)位光(132)是選擇性地可透過的和不可透過的，其中，所述復(fù)位光源(78)、所述切換濾光器(76)、所述光電檢測(cè)器基板(72)和所述閃爍器(74)以此順序布置，并且如果所述切換濾光器(76)對(duì)于所述復(fù)位光(132)是可透過的，則所述切換濾光器(76) 向所述光電檢測(cè)器基板(72)施加所述復(fù)位光(132)，并且如果所述切換濾光器(76)對(duì)于所述復(fù)位光(132)是不可透過的，則所述切換濾光器(76)朝向所述光電檢測(cè)器基板(72)至少反射所述熒光(130)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的放射線照像圖像捕獲裝置(20，20A至20D)，其中所述閃爍器(74)將已經(jīng)穿過被檢體(14)的所述放射線(16)轉(zhuǎn)換為所述熒光(130)； 所述光電檢測(cè)器基板(72)將所述熒光(130)轉(zhuǎn)換為所述電信號(hào)，所述電信號(hào)表示所述被檢體(14)的放射線照像圖像；并且基于與捕獲所述被檢體(14)的所述放射線照像圖像有關(guān)的圖像捕獲指令，所述切換濾光器(76)選擇性地可切換到透明狀態(tài)和鏡面狀態(tài)，所述透明狀態(tài)對(duì)于所述復(fù)位光(132) 是可透過的，所述鏡面狀態(tài)將所述熒光(130)朝向所述光電檢測(cè)器基板(72)反射并且也將所述復(fù)位光(132)朝向所述復(fù)位光源(78)反射。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的放射線照像圖像捕獲裝置(20，20A至20D)，其中，如果所述圖像捕獲指令包括用于捕獲至少一個(gè)靜止圖像的靜止圖像捕獲模式或具有比幀速率閾值低的幀速率的移動(dòng)圖像捕獲模式，則將所述切換濾光器(76)保持在所述鏡面狀態(tài)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的放射線照像圖像捕獲裝置(20，20A至20D)，其中，如果所述圖像捕獲指令包括移動(dòng)圖像捕獲模式，則在使用所述放射線(16)照射所述被檢體(14)時(shí)所述切換濾光器(76)在每一個(gè)幀中保持在所述鏡面狀態(tài)，并且在未使用所述放射線(16) 照射所述被檢體(14)時(shí)保持在所述透明狀態(tài)，從而所述切換濾光器(76)在所述鏡面狀態(tài)和所述透明狀態(tài)之間順次地切換。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的放射線照像圖像捕獲裝置(20，20A至20D)，其中，如果所述圖像捕獲指令包括移動(dòng)圖像捕獲模式和用于捕獲至少一個(gè)靜止圖像的靜止圖像捕獲模式， 則所述切換濾光器(76)在所述靜止圖像捕獲模式中保持在所述鏡面狀態(tài)并且在所述移動(dòng)圖像捕獲模式中保持在所述鏡面狀態(tài)，或在所述移動(dòng)圖像捕獲模式中在每一個(gè)幀中，當(dāng)使用所述放射線(16)照射所述被檢體(14)時(shí)所述切換濾光器(76)保持在所述鏡面狀態(tài)并且在未使用所述放射線(16)照射所述被檢體(14)時(shí)保持在所述透明狀態(tài)，從而所述切換濾光器(76)在所述鏡面狀態(tài)和所述透明狀態(tài)之間順次地切換；所述切換濾光器(76)從在所述鏡面狀態(tài)和所述透明狀態(tài)之間順次的切換向所述鏡面狀態(tài)切換，或者在所述移動(dòng)圖像捕獲模式切換到所述靜止圖像捕獲模式的時(shí)刻進(jìn)一步保持在所述鏡面狀態(tài)；并且所述切換濾光器(76)從所述鏡面狀態(tài)切換到在所述鏡面狀態(tài)和所述透明狀態(tài)之間順次地切換，或在所述靜止圖像捕獲模式切換到所述移動(dòng)圖像捕獲模式的時(shí)刻進(jìn)一步保持在所述鏡面狀態(tài)。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的放射線照像圖像捕獲裝置(20，20A至20D)，其中，如果所述圖像捕獲指令包括具有比幀速率閾值低的幀速率的第一移動(dòng)圖像捕獲模式和具有比所述幀速率閾值高的幀速率的第二移動(dòng)圖像捕獲模式，則所述切換濾光器(76)在所述第一移動(dòng)圖像捕獲模式中保持在所述鏡面狀態(tài)，或在所述第二移動(dòng)圖像捕獲模式中在每一個(gè)幀中，在使用所述放射線(16)照射所述被檢體(14) 時(shí)保持在所述鏡面狀態(tài)并且在未使用所述放射線(16)照射所述被檢體(14)時(shí)保持在透明狀態(tài)，從而所述切換濾光器(76)在所述鏡面狀態(tài)和所述透明狀態(tài)之間順次地切換；并且在所述第一移動(dòng)圖像捕獲模式切換到所述第二移動(dòng)圖像捕獲模式的時(shí)刻，所述切換濾光器(76)從所述鏡面狀態(tài)切換到在所述鏡面狀態(tài)和所述透明狀態(tài)之間順次地切換，或在所述第二移動(dòng)圖像捕獲模式切換到所述第一移動(dòng)圖像捕獲模式的時(shí)刻，從在所述鏡面狀態(tài)和所述透明狀態(tài)之間順次地切換被切換到所述鏡面狀態(tài)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的放射線照像圖像捕獲裝置(20，20A至20D)，其中，如果所述圖像捕獲指令進(jìn)一步包括用于捕獲至少一個(gè)靜止圖像的靜止圖像捕獲模式，則所述切換濾光器(76)在所述靜止圖像捕獲模式中保持在所述鏡面狀態(tài)，并且在所述移動(dòng)圖像捕獲模式之一切換到所述靜止圖像捕獲模式的時(shí)刻從所述切換濾光器(76)依賴于所述移動(dòng)圖像捕獲模式之一的狀態(tài)切換到所述鏡面狀態(tài)，或者在所述靜止圖像捕獲模式切換到所述移動(dòng)圖像捕獲模式之一的時(shí)刻從所述鏡面狀態(tài)切換到所述切換濾光器(76)依賴于所述移動(dòng)圖像捕獲模式之一的狀態(tài)。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的放射線照像圖像捕獲裝置(20，20A至20D)，其中，所述光電檢測(cè)器基板(72)包括多個(gè)光電檢測(cè)器部件(94)，所述光電檢測(cè)器部件(94)用于將所述熒光(130)轉(zhuǎn)換為所述電信號(hào)；所述切換濾光器(76)具有在其一部分中限定的窗口(230)，所述窗口(230)用于總是使所述復(fù)位光(132)從中通過；如果所述復(fù)位光源(78)通過所述窗口(230)向面向所述窗口(230)的所述光電檢測(cè)器部件(94)之一施加所述復(fù)位光(132)，則使用所述復(fù)位光(132)照射的所述光電檢測(cè)器部件(94)檢測(cè)由所述復(fù)位光(132)產(chǎn)生的暗電流信號(hào)；并且所述切換濾光器(76)基于依賴于所述暗電流信號(hào)的所述光電檢測(cè)器部件(94)的溫度和所述圖像捕獲指令來切換到所述鏡面狀態(tài)或所述透明狀態(tài)。
9.根據(jù)權(quán)利要求I所述的放射線照像圖像捕獲裝置(20，20A至20D)，其中，所述切換濾光器(76)包括光調(diào)節(jié)鏡膜層(122)，所述光調(diào)節(jié)鏡膜層(122)被電控制，以對(duì)所述復(fù)位光 (132)是可透過的或不可透過的。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的放射線照像圖像捕獲裝置(20，20A至20D)，其中，所述切換濾光器(76)包括對(duì)所述復(fù)位光(132)是可透過的透明基底(110)，并且所述光調(diào)節(jié)鏡膜層(122)布置在所述透明基底(110)上，并且所述光電檢測(cè)器基板(72)布置在所述光調(diào)節(jié)鏡膜層(122)的一側(cè)，并且所述復(fù)位光源(78)布置在所述透明基底(110)的一側(cè)。
11.根據(jù)權(quán)利要求I所述的放射線照像圖像捕獲裝置(20，20A至20D)，其中，所述復(fù)位光源(78)包括面向所述光電檢測(cè)器基板(72)布置的發(fā)光元件(142)的陣列、背光或電致發(fā)光光源，并且在其間插入了所述切換濾光器(76)。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的放射線照像圖像捕獲裝置(20，20A至20D)，其中，所述背光包括導(dǎo)光板(150),所述導(dǎo)光板(150)布置在所述切換濾光器(76)遠(yuǎn)離所述光電檢測(cè)器基板(72)的一側(cè)；光源(152,162),所述光源(152,162)布置在所述導(dǎo)光板(150)的一側(cè)；反射片(156),所述反射片(156)圍繞所述導(dǎo)光板(150)和所述光源(152,162)布置；以及，擴(kuò)散片(154)，所述擴(kuò)散片(154)布置在面向所述切換濾光器(76)的所述導(dǎo)光板(150) 的表面上；所述光源(152,162)向所述導(dǎo)光板(150)施加光;并且,向所述導(dǎo)光板(150)施加的所述光在所述反射片(156)的表面和所述擴(kuò)散片(154)的表面之間在所述導(dǎo)光板(150)中被重復(fù)地反射，并且其后，所述光作為所述復(fù)位光(132)從所述擴(kuò)散片(154)被發(fā)射到所述切換濾光器(76)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的放射線照像圖像捕獲裝置(20，20A至20D)，其中，所述光源(152，162)包括發(fā)光二極管(162)或冷陰極射線管(152)。
14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的放射線照像圖像捕獲裝置(20，20A至20D)，其中，所述電致發(fā)光光源包括有機(jī)電致發(fā)光光源。
15.根據(jù)權(quán)利要求I所述的放射線照像圖像捕獲裝置(20，20A至20D)，進(jìn)一步包括傾斜光阻擋層(102)，用于阻擋在相對(duì)于施加所述放射線(16)的方向傾斜傳播的所述熒光(130)，所述傾斜光阻擋層(102)插入在所述光電檢測(cè)器基板(72)和所述閃爍器(74) 之間。
16.根據(jù)權(quán)利要求I所述的放射線照像圖像捕獲裝置(20，20A至20D)，其中，所述復(fù)位光源(78)、所述切換濾光器(76)、所述光電檢測(cè)器基板(72)和所述閃爍器(74)以此順序順次地布置，或者所述閃爍器(74)、所述光電檢測(cè)器基板(72)、所述切換濾光器(76)和所述復(fù)位光源(78)以此順序沿著施加所述放射線(16)的方向順次地布置。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的放射線照像圖像捕獲裝置(20，20A至20D)，其中，如果所述復(fù)位光源(78)、所述切換濾光器(76)、所述光電檢測(cè)器基板(72)和所述閃爍器(74)以此順序沿著施加所述放射線(16)的方向順次地布置，則所述切換濾光器(76)保持在所述鏡面狀態(tài)，以至少在施加所述放射線(16)期間，朝向所述復(fù)位光源(78)反射所述復(fù)位光(132)并且朝向所述光電檢測(cè)器基板(72)反射所述熒光(130)。
全文摘要
一種放射線照像圖像捕獲裝置(20，20A至20D)包括以下述順序順次地布置的復(fù)位光源(78)、切換濾光器(76)、光電檢測(cè)器基板(72)和閃爍器(74)。如果使得切換濾光器(76)對(duì)于來自復(fù)位光源(78)的復(fù)位光(132)可透過，則切換濾光器(76)向光電檢測(cè)器基板(72)施加復(fù)位光(132)。如果使得切換濾光器(76)對(duì)于復(fù)位光(132)不可透過，則切換濾光器(76)至少朝向光電檢測(cè)器基板(72)反射由閃爍器(74)從放射線(16)轉(zhuǎn)換的熒光(130)。
文檔編號(hào)A61B6/00GK102525500SQ201110379068
公開日2012年7月4日 申請(qǐng)日期2011年11月18日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月18日
發(fā)明者中津川晴康, 大田恭義, 巖切直人, 成行書史, 西納直行, 野田和宏 申請(qǐng)人:富士膠片株式會(huì)社