技術(shù)編號：9973466
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。干涉條紋法在液體介質(zhì)電場測量領(lǐng)域因其快速性、直觀性、實時性相比其他方法具有較大的優(yōu)越性而逐步被廣泛采用。采用干涉條紋法測量液體介質(zhì)電場的原理大致如下在均勻電場下，由于某些液體介質(zhì)的電致雙折射性質(zhì)，光路中的參考光束與測量光束之間的相位差發(fā)生變化，因而在成像裝置上干涉條紋會呈現(xiàn)平行移動，因此，利用圖像傳感器(Charge-coupled Device, CCD)裝置分別拍攝未施加電壓和施加電壓后的干涉圖像，通過條紋的位移量和明暗條紋間距可以計算出外施電場的大小...
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