技術編號：9414967
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。 本發(fā)明涉及一種精密測量，特別涉及一種直接入射式光臂放大型三維掃 描測頭。背景技術 測頭是精密量儀的關鍵部件之一，作為傳感器提供被測工件的幾何位置信息，測 頭的發(fā)展水平直接影響著精密量儀的測量精度與測量效率。精密測頭通常分為接觸式測頭 與非接觸式測頭兩種，其中接觸式測頭又分為機械式測頭、觸發(fā)式測頭和掃描式測頭；非接 觸式測頭分為激光測頭和光學視頻測頭。 機械式測頭是精密量儀使用較早的一種測頭。該測頭通過測頭測端與被測工件直 接接觸進行位置測量，主要用于手動...
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