技術(shù)編號：9324421
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。 光學(xué)干涉測量方法因其獨特的優(yōu)勢在物體的三維形貌和變形測量中占有十分重 要的地位，如電子散斑干涉、全息干涉、云紋干涉法等。在這些方法中需要解調(diào)出條紋圖 中每一點的相位信息才可以實現(xiàn)變形測量。解調(diào)相位的方法主要分為時間相位測量法 和空間相位測量法兩大類。時間相位測量法，如時間相移法（Temporal Phase-shifting Method，TPM)等等，具有位移測量精度高，結(jié)構(gòu)簡單等優(yōu)點，但是該類方法需要的條紋圖較 多，耗時較長，一般情況下只適用于靜態(tài)測...
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