技術編號：85720
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。技術領域本發(fā)明涉及計算機數(shù)據(jù)通信技術，具體是。 背景技術倫琴先生發(fā)現(xiàn)X射線后不久，就認識到X射線可以用于材料檢測。但直到上世紀70年代，X射線才開始被用于工業(yè)領域。在X射線檢測的過程中，扇形的X射線穿過待檢樣品，然后在圖像接收器(現(xiàn)在大多使用X射線圖像增強器)上形成一個放大的X光圖。X光的焦點面積和物距決定了成像面積的大小，加大物距可增大成像面積，但由于X光是面光源，加大物距會也使影像變得模糊。因此，影像的清晰度限制了X光成像的面積，這直接造成必須對大型鑄件進行多工位拍攝，才能完成對其內(nèi)部缺陷的檢測。目前國內(nèi)對大型...
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