技術(shù)編號：8338469
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。 本發(fā)明屬于帶電粒子探測，涉及一種利用全耗盡型硅探測器，通過分析 其頻域特性進行質(zhì)子和α粒子甄別的方法。背景技術(shù) 帶電粒子的甄別是進行空間輻射防護、空間環(huán)境監(jiān)測、粒子事件預(yù)報、空間科學探 索與研宄的重要基礎(chǔ)，也是核物理實驗與核素分析的重要保證。傳統(tǒng)的帶電粒子甄別方法 主要是探測器望遠鏡法、飛行時間法、磁分析方法和靜電分析法等，而探測器望遠鏡法和飛 行時間法由于設(shè)備簡單，鑒別效果較好，在許多探測器上都得到了應(yīng)用。但望遠鏡法要求粒 子具有足夠的能量穿過透射探測...
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