技術(shù)編號：7817414
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種基于二叉樹的兩階段ALD掃描算法，用于完成ALD設(shè)備掃描，所述兩階段包括直接掃描階段和整樹掃描階段，本算法通過分析二叉掃描樹以及AISG2.0協(xié)議的特點，引入了自適應(yīng)沖突避免機制、兩階段掃描思想法，從而得到改進的基于二叉掃描樹的掃描算法，以便利用上一輪掃描對應(yīng)可讀周期的掃描碼信息以及掃描過程中一些先驗結(jié)果，減少掃描過程中的沖突周期和空閑周期，提高掃描效率。專利說明-種基于二叉樹的兩階段ALD掃描算法 [0001] 本發(fā)明涉及電調(diào)天線（A...
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