技術(shù)編號：7160620
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及具有空間分辨率的致電離輻射探測裝置，以及這樣的裝置的制造方法，致電離輻射例如Y輻射。所述裝置能被用于安全領(lǐng)域中，或者用于科學(xué)成像研究或醫(yī)學(xué)成像研究，如單光子發(fā)射X線斷層攝影(TEMP)。背景技術(shù)已知使用半導(dǎo)體晶體例如碲化鎘(CdTe)或碲化鎘鋅(CdZnTe)的探測器，在其內(nèi)部由設(shè)置在晶體兩側(cè)的一陽極和一陰極施加一電場。與晶體相互作用的該致電離輻射引起電荷的分離，也就是說，電子-空穴對的形成，最初在同一部位形成的電子和空穴在電場的作用下沿著相反的...
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