技術(shù)編號:7002861
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體存儲器領(lǐng)域,尤其涉及一種具有復(fù)合氮基介質(zhì)隧穿層的TN-SONOS存儲器。背景技術(shù)在半導(dǎo)體存儲器領(lǐng)域,閃存是非易失性存儲器技術(shù)中的一種,傳統(tǒng)閃存利用浮動?xùn)艠O作為電荷存儲單元,但隨著閃存技術(shù)的不斷發(fā)展,存儲密度不斷增大,浮動?xùn)艠O之間的距離減小,相鄰浮動?xùn)艠O的存儲電荷之間會產(chǎn)生相互影響,對浮柵閃存技術(shù)而言,這就阻礙了存儲密度的增加。而SONOS (硅-二氧化硅-氮化硅-二氧化硅-硅)存儲器采用絕緣的電荷捕捉層來取代浮動?xùn)艠O,完全避免了存儲電荷之間...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。