技術(shù)編號：6862684
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型涉及一種電子測試裝置，尤其涉及多個空間轉(zhuǎn)換基板及探針基板組立的電子測試裝置。背景技術(shù)集成電路尚未封裝前，以電子測試裝置(或稱探針卡)對裸晶(bare chip)以探針 (probe)做功能測試，篩選出不良品、再進行之后的封裝工程。因此，是集成電路制造中對制造成本影響相當大的重要制程；此電子測試裝置可使成品的良率由原來的70%提升至 90%，20%的良率貢獻度對1 %良率差異都錙銖必較的半導體廠而言，影響甚巨。簡言之，此電子測試裝置是一測試機臺與晶...
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