技術編號：6787795
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明屬于芯片老煉篩選；涉及。背景技術在高質量等級的電路(特別是航天用電子產品)組裝過程中，需要在組裝前對元器件進行加電老煉篩選，將隱含有內部缺陷的器件篩除，達到保證電路產品質量的目的?，F(xiàn)有芯片老煉篩選采用的方法是封裝后完成老煉篩選，目前無成熟的能夠對裸芯片進行老煉篩選的方法。另一方面，混合集成電路組裝的工藝生產過程中需要對裸芯片進行質量篩選，目前沒有有效的方法對裸芯片進行老煉篩選，只能采取抽樣評估的方法，通過按比例抽樣同批次芯片，進行封裝后完成老煉試驗，...
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