技術(shù)編號(hào):6766978
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開(kāi)了一種對(duì)RRAM存儲(chǔ)器的保持時(shí)間參數(shù)進(jìn)行測(cè)試的方法,包括判斷RRAM存儲(chǔ)器當(dāng)前所處的狀態(tài),根據(jù)RRAM存儲(chǔ)器所處狀態(tài),給RRAM存儲(chǔ)器加載用戶設(shè)定編程電壓或擦除電壓;加載編程電壓時(shí),通過(guò)不斷地讀取通過(guò)RRAM存儲(chǔ)器的電流,判斷RRAM狀態(tài),直至RRAM存儲(chǔ)器所處狀態(tài)發(fā)生改變后,加載擦除電壓,并記錄RRAM存儲(chǔ)器從加載編程電壓到狀態(tài)改變所需時(shí)間,即RRAM存儲(chǔ)器編程保持時(shí)間;加載擦除電壓時(shí),通過(guò)不斷地讀取通過(guò)RRAM存儲(chǔ)器的電流,判斷RRAM狀態(tài),...
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