技術編號：6764165
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明提供一種NAND?Flash存儲芯片的校驗方法，根據(jù)寫入擴展區(qū)中每頁數(shù)據(jù)的行列異或值、Hash值，比較數(shù)據(jù)區(qū)的數(shù)據(jù)內(nèi)容和計算的數(shù)據(jù)區(qū)的Hash值，能夠糾正一位及兩位錯誤，并能發(fā)現(xiàn)多位錯誤，從而確保存放在NAND?Flash芯片內(nèi)數(shù)據(jù)的完整性及準確性，起到減少文件系統(tǒng)崩潰的風險。專利說明—種NAND Flash存儲芯片的校驗方法及裝置[0001]本發(fā)明屬于通信領域，尤其涉及一種NAND Flash存儲芯片的校驗方法及裝置。背景技術[0002]現(xiàn)今，NA...
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