技術(shù)編號：6740488
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體模組技術(shù)，特別是涉及ー種高低溫、高低電壓內(nèi)存模擬測試系統(tǒng)。 背景技術(shù)電腦用內(nèi)存在很多領(lǐng)域已經(jīng)是必不可少的ー個(gè)配件，但是市場上同類產(chǎn)品的性能與穩(wěn)定性無法得到保障，電腦使用過程中經(jīng)常出現(xiàn)藍(lán)屏、報(bào)錯(cuò)等死機(jī)現(xiàn)象，原因在于內(nèi)存沒有進(jìn)行全面的測試。隨著內(nèi)存容量與頻率的提高，其發(fā)熱量也隨之大大提高，因此，在長時(shí)間使用或者高溫環(huán)境使用中，內(nèi)存芯片容易出現(xiàn)數(shù)據(jù)存儲錯(cuò)誤的情況，甚至有的不合格產(chǎn)品出現(xiàn)芯片燒毀的情況。內(nèi)存正常工作電壓為I. 5V，如果電源輸出...
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