技術(shù)編號：6612698
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種基于FPGA的片上實(shí)時(shí)高速三維復(fù)現(xiàn)方法，用于對三維形貌測量時(shí)的條紋圖像進(jìn)行實(shí)時(shí)高速的相位解算與三維復(fù)現(xiàn)數(shù)據(jù)處理。本發(fā)明屬于光學(xué)三維測量。背景技術(shù)按檢測方法分，目前對物體三維形貌測量可分為接觸式與非接觸式兩大類。雖然接觸式測量有著精度高范圍廣的優(yōu)點(diǎn)，但是由于要求測頭與被測物接觸，不可避免地會(huì)造成被測物表面的變形與損傷，因而不適合柔軟物體的測量，而且當(dāng)測頭無法接觸到物體時(shí)無法進(jìn)行測量。與之相比，非接觸式測量避免了與被測物直接接觸，掃描速度也不受機(jī)...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲(chǔ)備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。