技術(shù)編號(hào)：6594344
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。用于針對(duì)生產(chǎn)工作流的芯片設(shè)計(jì)中的單元完整性、改變和 起點(diǎn)的獨(dú)立評(píng)估的方法和設(shè)備相關(guān)申請(qǐng)本申請(qǐng)要求所提交的美國(guó)專(zhuān)利臨時(shí)申請(qǐng)?zhí)?1/131，601以及美國(guó)專(zhuān)利臨時(shí)申請(qǐng)?zhí)?61/180,715的權(quán)益。通過(guò)引用并入在前申請(qǐng)。背景技術(shù)所公開(kāi)的技術(shù)涉及用于準(zhǔn)備芯片設(shè)計(jì)以用于制造的設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)的粒度分析，并且涉 及標(biāo)識(shí)設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)文件的各部分之間的相似性和差異性。具體地，所公開(kāi)的技術(shù)涉及解析數(shù) 據(jù)并且將其組織為規(guī)范化形式、概括規(guī)范化形式、以及把來(lái)自不同源(諸如芯片級(jí)設(shè)計(jì)和 設(shè)計(jì)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
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