技術(shù)編號(hào)：6585366
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)系統(tǒng)驗(yàn)證領(lǐng)域，更具體地涉及處理器硅后調(diào)試領(lǐng)域，特別是涉及。背景技術(shù)在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)驗(yàn)證領(lǐng)域中，隨著芯片規(guī)模的增大，第一次流片不可避免地會(huì)存在錯(cuò)誤，因此需要進(jìn)行硅后調(diào)試，但是因?yàn)榻^大多數(shù)的信號(hào)變化都發(fā)生在硅片內(nèi)部，設(shè)計(jì)人員難以了解芯片的工作情況，因此會(huì)對(duì)調(diào)試工作造成極大的困難。 —般的調(diào)試支持手段在芯片內(nèi)加入一些分析邏輯，把內(nèi)部工作情況采集到存儲(chǔ)器，以使內(nèi)部信號(hào)可見。這種方法的主要缺點(diǎn)是采集的信號(hào)數(shù)量和時(shí)間長(zhǎng)度受存儲(chǔ)器容量所限，且可觀測(cè)的信號(hào)在芯...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
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