技術編號：6544277
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明公開了，包括步驟一確定產(chǎn)品的監(jiān)測征兆基線數(shù)據(jù)；步驟二確定產(chǎn)品的故障模式集以及各故障模式的監(jiān)測征兆數(shù)值，構建故障—征兆原始矩陣；步驟三建立各階測試門限邏輯矩陣；步驟四將各階測試門限邏輯矩陣進行累加，建立綜合階數(shù)矩陣；步驟五根據(jù)綜合階數(shù)矩陣進行故障隔離。本發(fā)明通過測試門限翻倍的方式，將是否超差的二值邏輯判別細化為不同超差程度的多級判別，可有效實現(xiàn)對超差程度不同的故障進行隔離。專利說明[0001]本發(fā)明涉及，屬于故障診斷。背景技術[0002]故障隔離技術是...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術沒有源代碼，用于學習研究技術思路。