技術編號：6506854
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及。本方法首先計算圖像中多尺度活動窗口內像素的平均灰度值，對每個像素分別計算它在水平和垂直方向上兩個偏心重疊窗口之間的平均灰度差，然后利用最大平均灰度差值對應的尺寸計算最佳尺寸，根據(jù)圖像中每一像素點的最佳尺寸，計算該像素點的局部粗糙度。本發(fā)明方法具有良好的噪聲魯棒性，且可以準確度量圖像局部紋理粗糙度。專利說明 [0001] 本發(fā)明屬于圖像處理，涉及。 背景技術 [0002] 紋理是用來識別圖像中物體或感興趣區(qū)域的重要屬性之一，幾乎存在于所...
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