技術(shù)編號：63337
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。 本實(shí)用新型屬于原子力顯微鏡可調(diào)多探針針座的設(shè)計(jì)。原子力顯微鏡作為掃描探針家族中最重要的成員之一，發(fā)明于二十世紀(jì)八十年代中期，于九十年代初期實(shí)行商品化。它的工作原理是通過一根曲徑半徑為幾納米的探針針尖探測樣品表面，檢測樣品間力與距離的依賴關(guān)系來獲取物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)與性質(zhì)。它對樣品的導(dǎo)電性能沒有任何要求，這是比掃描隧道顯微鏡最為顯著的優(yōu)越之處，它也不象電鏡那樣需對樣品進(jìn)行染色等復(fù)雜處理，能夠在真空、大氣或者是溶液中獲得物質(zhì)三維微觀表面形貌，還可以得到探針與物質(zhì)表面間相互作用的信息，并通過控制探針對物質(zhì)表面進(jìn)行微加工，如...
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