技術(shù)編號(hào)：6303648
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開(kāi)了一種DEH的點(diǎn)檢儀系統(tǒng)，包括控制MCU芯片、源MCU芯片、信號(hào)發(fā)生器、校準(zhǔn)接口、D/A電路、A/D電路、AT組態(tài)、放大電路、上位機(jī)以及用于提供電能的電源，上位機(jī)與控制MCU芯片相連接，控制MCU芯片通過(guò)D/A電路、放大電路及校準(zhǔn)接口與待測(cè)模塊相連接，控制MCU芯片與源MCU芯片相連接，源MCU芯片通過(guò)信號(hào)發(fā)生器與待測(cè)模塊相連接，待測(cè)模塊通過(guò)控制MCU芯片與AT組態(tài)和上位機(jī)相連接；本發(fā)明還提供了一種DEH的檢測(cè)方法。本發(fā)明可以有效的完成對(duì)DEH模...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。