技術(shù)編號：6245353
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于半導(dǎo)體的半導(dǎo)體器件模擬與測試技術(shù)，公開了，包括步驟1采用單柵極場效應(yīng)晶體管電容的測試方法，將源極、漏極、第二柵極接地，在第一柵極上加偏置和交流信號，測出第一柵極對第一柵極的電容Cg1_g1，第一柵極對第二柵極的電容Cg1_g2；步驟2將源極、漏極、第一柵極接地，在第二柵極上加偏置和交流小信號，測出第二柵極對第二柵極的電容Cg2_g2，第二柵極對第一柵極的電容Cg2_g1；步驟3計算雙柵極場效應(yīng)晶體管結(jié)構(gòu)的總的柵電容Cg，Cg＝Cg1_g1+Cg1...
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