技術編號：6243911
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明公開了，該測量方法首先利用一臺時域和頻域可控的光學頻率梳主動調制一個基于相位調制器的環(huán)形激光諧振腔，使其成為與這一臺光學頻率梳具有重復頻率微小差別的第二臺光學頻率梳，并進行雙光學頻率梳光譜探測，得到攜帶待測樣品信息的干涉信號；同時，這兩臺光學頻率梳分別與連續(xù)穩(wěn)頻激光進行拍頻，所得到的兩個拍頻信號的差頻信號與該干涉信號進行混頻，探測混頻得到的信號作為光譜信號進行傅里葉分析，以還原待測樣品的光學信息。本發(fā)明的優(yōu)點是，可以消除由雙光梳系統(tǒng)自身的相位漂移給光...
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