技術(shù)編號(hào)：6234232
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明提供半導(dǎo)體探測(cè)器的信號(hào)處理方法和裝置，包括獲取所述半導(dǎo)體探測(cè)器陽(yáng)極信號(hào)和陰極信號(hào)時(shí)間差與陽(yáng)極信號(hào)幅度之間的關(guān)系；根據(jù)所述半導(dǎo)體探測(cè)器陽(yáng)極信號(hào)和陰極信號(hào)時(shí)間差與陽(yáng)極信號(hào)幅度之間的關(guān)系得到最佳數(shù)據(jù)篩選區(qū)間，所述最佳數(shù)據(jù)篩選區(qū)間為陽(yáng)極信號(hào)和陰極信號(hào)時(shí)間差大于50ns的區(qū)間；在半導(dǎo)體探測(cè)器數(shù)據(jù)采集時(shí)，根據(jù)所述最佳數(shù)據(jù)篩選區(qū)間對(duì)所采集數(shù)據(jù)進(jìn)行篩選和處理。本發(fā)明更好地克服了探測(cè)器晶體的固有缺陷，降低了本底噪聲的影響，進(jìn)一步地提高了碲鋅鎘探測(cè)器在室溫下的能量分辨率...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。