技術(shù)編號：6217302
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了，首先使平板探測器在位置z1輸出一個(gè)均勻的圖像，然后使平板探測器在位置z2收到一幀強(qiáng)度不均勻分布圖像，通過對這一幀強(qiáng)度不均勻分布圖像用二次多項(xiàng)式函數(shù)進(jìn)行擬合得到圖像校正系數(shù)，這樣將平板探測器移動到任何一個(gè)待矯正的位置z，通過二次多項(xiàng)式函數(shù)及圖像校正系數(shù)即可得到位置z上的均勻圖像。因而，就可以將X-射線所成的像的不均勻性進(jìn)行修正，從而達(dá)到均勻成像的效果。專利說明[0001]本發(fā)明涉及X-射線成像方法。背景技術(shù)[0002]通常我們的X-射線成像方法...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。