技術編號：6184376
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明的夾具包含一端與基板的電路圖案接觸，另一端與判斷所述電路圖案有無異常的檢查部連接的探針及導引所述探針，設置在基臺且所述基臺在固定的狀態(tài)下與所述探針垂直的方向改變位置，以所述改變位置將所述導引的所述探針位置改變成所述電路圖案的目標位置的塊體單位，因此根據(jù)基板電路圖案的公差可容易改變探針的位置。專利說明夾具[0001]本發(fā)明涉及用于電路圖案通電檢查的夾具。背景技術[0002]在印刷電路板制造領域或半導體制造領域通常采用對基板進行測定、處理或檢查坐坐寸寸ο...
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