技術(shù)編號：6173664
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。半導(dǎo)體檢查裝置具備測試程序執(zhí)行部，依測試程序向被測定對象元件的測試信號輸入引腳提供規(guī)定信號執(zhí)行測試程序；信號穩(wěn)定狀況檢測部，在測試程序的執(zhí)行中檢測被測定對象元件的信號輸出引腳信號的不穩(wěn)定區(qū)域及穩(wěn)定區(qū)域；測試時間計算部，根據(jù)信號穩(wěn)定狀況檢測部檢測的不穩(wěn)定區(qū)域及穩(wěn)定區(qū)域，計算具有從不穩(wěn)定區(qū)域的期間到其后的穩(wěn)定區(qū)域的開頭側(cè)一部分期間的時間寬度的最佳測試時間；測試程序修正部，使最佳測試時間反映于測試程序；信號波形取入部，根據(jù)測試程序修正部使最佳測試時間反映于測試程...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。