技術(shù)編號：6156156
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及通過檢測平行組的光譜波段，顯著增加光學(xué)相干層析成象和低相干干 涉測量信號中的靈敏度的裝置、方法、邏輯線路和存儲介質(zhì)，其中每個(gè)波段為光頻段的唯一^口 口 。背景技術(shù)目前存在兩種在混亂介質(zhì)實(shí)現(xiàn)深度測距的方法。第一種已知的方法為低相干干涉 測量法(LCI)。該方法使用一種掃描系統(tǒng)，其改變基準(zhǔn)臂長度并獲得檢波器處的干涉信號以 及反調(diào)制所述干涉圖樣以便獲得源互相關(guān)函數(shù)的相干包絡(luò)(envelope)。光學(xué)相干層析成象 (OCT)為一種使用獲得LCI 二維圖象...
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