技術編號：6154680
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及的是一種，具體地說一種A掃到B掃的二維 成像方法。背景技術自20世紀80年代起，超聲相控陣檢測成像技術以其靈活的波束偏轉和聚焦性能 越來越引起人們的重視。超聲相控陣成像技術是通過控制換能器陣列中各陣元的激勵(或 接收)脈沖的延遲時間，改變由各陣元發(fā)射(或接收)超聲波到達(或來自)物體內某點 的相位關系，達到波束聚焦和偏轉的效果，實現(xiàn)超聲成像的技術。超聲B型掃描(簡稱B掃)是以A掃為基礎的一種灰度調制性顯示方法。B掃所 得到的是由波束傳播方向與換能...
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