技術(shù)編號(hào):6141638
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及生成高質(zhì)量材料的一種設(shè)備、系統(tǒng)和方法。更具體說(shuō),本發(fā)明涉及材料熱檢查以及材料中缺陷的位置和/或幾何形狀的熱檢查,將結(jié)果反饋給工藝控制器,以識(shí)別、減少和消除材料中生成缺陷的發(fā)生率。熱分析眾所周知。它例如用于探測(cè)航空器表面和其它材料,以發(fā)現(xiàn)隱藏的裂縫和瑕疵。美國(guó)專利第5,711,603公開(kāi)了一種瞬時(shí)深度熱分析技術(shù),以實(shí)現(xiàn)對(duì)象的非破壞性測(cè)試。該方法包括以下步驟加熱對(duì)象表面,記錄加熱表面中每個(gè)象點(diǎn)的像素強(qiáng)度,根據(jù)像素強(qiáng)度確定象素對(duì)比度。該方法監(jiān)視連續(xù)圖像...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。