技術(shù)編號(hào)：6115292
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明一般涉及用于診斷成像的射線照相檢測(cè)器，尤其涉及用于采用光子計(jì)數(shù)和能量鑒別進(jìn)行高通量率成像的多層直接轉(zhuǎn)換計(jì)算機(jī)斷層攝影(CT)檢測(cè)器。背景技術(shù) 射線照相成像系統(tǒng)，如X線和計(jì)算機(jī)斷層攝影(CT)，已用于實(shí)時(shí)觀察物體的內(nèi)部情況。通常，該成像系統(tǒng)包括用于向感興趣物體，如患者或一件行李，發(fā)射X線的X線源。檢測(cè)裝置，如射線檢測(cè)器陣列，位于該物體的另一邊并用于檢測(cè)發(fā)射穿過物體的X線。如將會(huì)意識(shí)到的，在檢測(cè)器陣列處接收的衰減射線束的強(qiáng)度通常依賴于物體對(duì)X線的衰減。檢...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。