技術(shù)編號:6102107
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體發(fā)光二極管(LED)的檢測方法,特別是指一種檢測氮化鎵(GaN)基半導(dǎo)體發(fā)光二極管結(jié)溫的方法。背景技術(shù) LED的基本結(jié)構(gòu)是一個半導(dǎo)體PN結(jié)。當(dāng)電流流過LED器件時,PN結(jié)的溫度將上升,嚴(yán)格意義上說,PN結(jié)區(qū)的溫度就是LED的結(jié)溫。通常由于器件芯片具有很小的尺寸,因此常把LED芯片的溫度視為結(jié)溫。在LED工作時,存在五種情況促使結(jié)溫不同程度的上升一、器件不良的電極結(jié)構(gòu),窗口層襯底或結(jié)區(qū)的材料以及導(dǎo)電銀膠等均存在一定的電阻值,構(gòu)成LED器件的串...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。