技術(shù)編號：6095519
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于一種測試分析方法及裝置，特別涉及半導(dǎo)體激光器參數(shù)測試、可靠性分析的方法和裝置。已有的半導(dǎo)體激光器可靠性(壽命)檢測方法采用電老化法。通過測量被檢測器件的閾值電流、輸出功率等，通過提高溫度、加大電流的加速老化方法，把一定電流下光功率變化率大的器件篩選掉。具體步驟是將被檢測器件放置于老化臺上，在溫度為80℃、電流150mA條件下老化72小時，測量一定電流下的光功率或閾值電流在老化前后的變化，認為變化率大的為不可靠器件。這種檢測分析方法，花費時間長，不...
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