技術(shù)編號(hào)：6028144
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。第 方法本發(fā)明提供一種，特別是一種在多測(cè)試環(huán)境 下進(jìn)行的。背景技術(shù)為了保證電子產(chǎn)品在各國(guó)都能夠正常使用，從而要對(duì)電子產(chǎn)品在不同電壓 以及頻率的測(cè)試環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試。 '目前的測(cè)試方式是將待測(cè)電子產(chǎn)品和測(cè)試設(shè)備電性連接，在測(cè)試設(shè)備上設(shè)置 一特定電壓、特定頻率的測(cè)試環(huán)境，對(duì)測(cè)試設(shè)備進(jìn)行一特定時(shí)間段的測(cè)試，因?yàn)?要對(duì)待測(cè)電子產(chǎn)品在多種測(cè)試環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試。所以在進(jìn)行一次測(cè)試后要在測(cè)試 設(shè)備上再次設(shè)置一特定電壓、特定頻率的另一測(cè)試環(huán)境，并在該另一測(cè)試環(huán)境下 對(duì)測(cè)試設(shè)備...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。