技術(shù)編號(hào)：6018561
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及質(zhì)譜分析儀，特別涉及能使離子阱的中心和電子源間的電勢(shì)差為恒定值的。背景技術(shù)離子阱是一種性能優(yōu)良的質(zhì)量分析器，它進(jìn)行質(zhì)量分析的基本原理是首先將不同質(zhì)荷比的離子束縛在離子阱中，然后通過電場(chǎng)作用將不同質(zhì)荷比的離子區(qū)分開開，達(dá)到質(zhì)量分析的目的。離子阱質(zhì)量分析器具有體積小、容易加工、對(duì)真空度要求低、維護(hù)成本低、靈敏度高以及可進(jìn)行多級(jí)質(zhì)譜分析等眾多優(yōu)點(diǎn)，因此，基于離子阱質(zhì)量分析器被廣泛地應(yīng)用于各種質(zhì)譜儀中，特別是小型化或便攜式質(zhì)譜儀。圖1示出了現(xiàn)有技術(shù)中普遍...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。