技術(shù)編號(hào)：6017126
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及信息安全技術(shù)，用于集成電路的故障檢測(cè)，是一種提高敏感電路安全性和可靠性的電路。背景技術(shù)在信息安全領(lǐng)域中，故障攻擊已經(jīng)日益威脅著安全芯片的可靠性與安全性。故障攻擊誘發(fā)芯片出錯(cuò)的方法包括從芯片的IO端口引入異常的電壓或者時(shí)鐘信號(hào)，在去除封裝的芯片上注入激光或者強(qiáng)光，改變芯片運(yùn)行的正常環(huán)境溫度，以及通過(guò)外來(lái)射線輻射等。其中改變工作電壓，環(huán)境溫度，時(shí)鐘信號(hào)輸入，磁場(chǎng)等攻擊方法以一定的概率引入故障，這種攻擊方法無(wú)法準(zhǔn)確控制故障發(fā)生的時(shí)間，位置和類型。而強(qiáng)光...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。