技術(shù)編號(hào)：6002639
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明特別涉及檢測(cè)器、制造所述檢測(cè)器的方法和成像裝置。具體來(lái)說(shuō)，但并不排他，本發(fā)明涉及中子檢測(cè)器和中子成像裝置。背景技術(shù)已經(jīng)知道不同種類(lèi)的檢測(cè)器用于檢測(cè)、跟蹤和/或識(shí)別電離輻射和高能粒子，諸如核衰變、宇宙輻射或者粒子加速器中的反應(yīng)所產(chǎn)生的粒子。電離輻射的類(lèi)型以及經(jīng)由與其他粒子碰撞而產(chǎn)生電尚福射的粒子的一些不例為Ct粒子(氦核)、^粒子(電子)、中子、伽馬射線(高頻電磁波、X射線一般與伽馬射線相同，除了它們的來(lái)源之外)、以及作為示例的帶電強(qiáng)子。中子本身不會(huì)電...
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