技術(shù)編號(hào)：5995524
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。基于光的干涉的一種檢測(cè)光纖質(zhì)量的裝置，屬光纖檢測(cè)領(lǐng)域。背景技術(shù)目前光纖已被廣泛地應(yīng)用于通訊、傳感器、醫(yī)療、軍事等領(lǐng)域。隨著光纖應(yīng)用日益廣泛，在一些領(lǐng)域(如軍事、醫(yī)療)對(duì)光纖的質(zhì)量提出了更高的要求。光纖一般由纖芯、包層和起保護(hù)作用的涂覆層構(gòu)成。在生產(chǎn)過程中，容易產(chǎn)生氣泡、脫層、頸縮和裂口等缺陷。當(dāng)光在光纖中傳輸時(shí)，這些缺陷起到散射中心的作用，會(huì)增大光纖的損耗。在階躍折射率光纖中存在于纖芯與包層界面間的缺陷特別有害，它們會(huì)造成耦合衰減，使導(dǎo)模變成非導(dǎo)模，從而影...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。