技術(shù)編號(hào):5989410
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型屬于用電的方法進(jìn)行測(cè)量的儀器,尤其屬于高電壓介損測(cè)試裝置。背景技術(shù)目前我們執(zhí)行的交接試驗(yàn)規(guī)程及預(yù)防試驗(yàn)規(guī)程中介損均是指IOkV下測(cè)試結(jié)果(以下簡(jiǎn)稱常規(guī)介損),隨著設(shè)備電壓等級(jí)的不斷提高,IOkV試驗(yàn)電壓于設(shè)備額定電壓相差甚遠(yuǎn),產(chǎn)生了 IOkV下測(cè)試數(shù)據(jù)代表性越來越差的情況(I)隨著電網(wǎng)的快速發(fā)展,設(shè)備質(zhì)量的提高,越來越多的進(jìn)口、合資廠產(chǎn)的500kV斷路器在變電站中投入運(yùn)行。對(duì)于一些進(jìn)口設(shè)備,如斷路器均壓電容器,介損測(cè)試受GARTON效應(yīng)影響比較嚴(yán)...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。