技術(shù)編號：5964261
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種檢測用支架，特別是一種用來檢查多晶硅加工后的質(zhì)量、性能的太陽能板檢測支架。背景技術(shù)在對太陽能多晶硅片的拼裝后，通常需要對整個多晶硅片組進行各個方面的裝配檢查，目前都是通過在普通環(huán)境下進行一般的目測檢查，因此往往會由于環(huán)境光照度的不同而容易造成錯檢、漏檢等，使得有缺陷的產(chǎn)品交付了客戶，對企業(yè)的信譽產(chǎn)生一定的影響，造成多晶娃片的質(zhì)量不穩(wěn)定等。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是為了解決上述技術(shù)的不足而提供一種能對多晶硅片組件在特定的光照度下進行方便檢查的太陽能...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。