技術(shù)編號(hào)：5956077
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)，特別涉及一種用于校準(zhǔn)瞬變電磁場(chǎng)場(chǎng)均勻性的系統(tǒng)。背景技術(shù)對(duì)于射頻電磁場(chǎng)，IEC61000系列標(biāo)準(zhǔn)給出了兩種電磁場(chǎng)的場(chǎng)均勻性的校準(zhǔn)方法，即恒定場(chǎng)強(qiáng)校準(zhǔn)法和恒定功率校準(zhǔn)法。恒定場(chǎng)強(qiáng)校準(zhǔn)法是通過(guò)調(diào)整前向輸出功率建立ー個(gè)場(chǎng)強(qiáng)恒定的均勻場(chǎng)，然后用一個(gè)經(jīng)校準(zhǔn)的場(chǎng)強(qiáng)探頭以指定的步長(zhǎng)在每個(gè)頻段對(duì)待測(cè)區(qū)域內(nèi)的各個(gè)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量。恒定功率校準(zhǔn)法與之不同的是測(cè)量時(shí)保持前向輸出功率恒定。對(duì)于瞬變電磁場(chǎng)，MIL-STD-461F標(biāo)準(zhǔn)采用了上述恒定場(chǎng)強(qiáng)校準(zhǔn)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。