技術編號：5917892
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本實用新型涉及晶體生長領域，具體涉及一種測量籽晶熔化面和晶體生長面位置的裝置。背景技術在晶體的生長過程中，籽晶的融化程度、晶體大小以及生長速度對晶體生長工藝至關重要。目前在從坩堝底部開始生長晶體的各種工藝中，準確測量籽晶融化程度、晶體大小以及生長速度等問題未能得到有效解決，一般僅憑借經驗來估計相關數據，顯然所得到的數據并不準確，這對晶體的生長過程產生了不利影響。發(fā)明內容為了克服現有技術中從坩堝底部開始生長的晶體在生長過程中難以準確測量晶體位置的問題，本實用...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。